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0.1Hz - 30Hz Microscopio de fuerza atómica Microscopios de sonda de exploración a nanoescala
0Microscopio de fuerza atómica de.1Hz
,Microscopio de fuerza atómica de 30 Hz
,Microscopios de sonda de escaneo a nanoescala
Propiedades básicas
Propiedades comerciales
Microscopio de sonda de exploración avanzada para mediciones a nanoescala
Descripción del producto:
El microscopio de fuerza atómica (AFM) es una herramienta de vanguardia que ofrece capacidades de medición multimodo con resolución nanométrica.El objetivo de este programa es mejorar la calidad de la información y la calidad de la información..
Con una notable resolución de 0,04 nm, el AFM proporciona imágenes y mediciones de alta precisión de la topografía superficial a nivel nanométrico.Esta resolución excepcional permite a los investigadores y científicos explorar y analizar muestras con un detalle y una precisión sin precedentes.
El AFM ofrece una gama versátil de modos de escaneo, incluidos los modos de contacto, toque, no contacto, fuerza lateral y modulación de fuerza.Esta capacidad multifuncional permite a los usuarios adaptar el AFM a diferentes requisitos experimentales., permitiendo un análisis exhaustivo y detallado de una amplia gama de muestras.
Con un rango de escaneo de 100 μm X 100 μm X 10 μm, el AFM proporciona una amplia cobertura para escanear grandes áreas de muestra manteniendo las capacidades de imágenes de alta resolución.Este rango de escaneo permite examinar muestras de diferentes tamaños., hasta 25 mm, lo que garantiza la flexibilidad en el análisis y la experimentación de muestras.
El AFM ofrece un rango de velocidad de escaneo de 0,1 Hz a 30 Hz, lo que permite a los usuarios ajustar la velocidad de escaneo en función de los requisitos específicos de sus experimentos.Esta flexibilidad en la velocidad de escaneo garantiza una adquisición y análisis de datos eficientes, mejorando la productividad general y la eficacia de los procesos de investigación y análisis.
En resumen, el microscopio de la fuerza atómica es un instrumento de última generación que combina capacidades de medición multimodo, resolución nanométrica,y modos de escaneo multifuncionales para proporcionar a los investigadores y científicos una poderosa herramienta para explorar y analizar muestras a escala nanométricaCon su amplio rango de escaneo, imágenes de alta resolución y velocidad de escaneo ajustable, el AFM ofrece una solución integral para una amplia gama de aplicaciones de investigación e industria.
Características:
- Nombre del producto: Microscopio de fuerza atómica
- Resolución: 0,04 Nm
- Velocidad de escaneo: 0.1Hz-30Hz
- Estadio de muestreo: Estadio XY motorizado con resolución de 100 μm
- Rango de exploración: 100 μm X 100 μm X 10 μm
- Modos de escaneo: contacto, toque, no contacto, fuerza lateral, modulación de la fuerza
Parámetros técnicos:
| Parámetro técnico | Valor |
|---|---|
| Rango de exploración | Se utilizará el método siguiente: |
| Resolución | 0.04 Nm |
| Modos de escaneo | En el caso de los vehículos de la categoría M1, el valor de los valores de los vehículos de la categoría M2 será el valor de los valores de los vehículos de la categoría M3. |
| Tamaño de la muestra | Hasta 25 mm |
| Velocidad de escaneo | 0.1 Hz-30 Hz |
| Fase de muestra | Estadio XY motorizado con resolución de 100 μm |
Aplicaciones:
Truth Instruments presenta el AtomEdge Pro Atomic Force Microscope, una herramienta de vanguardia diseñada para la imagen a nanoescala y la caracterización a nanoescala en una variedad de aplicaciones.Con sus orígenes en China, este microscopio avanzado ofrece una precisión y versatilidad sin precedentes para una amplia gama de escenarios de investigación e industria.
El AtomEdge Pro cuenta con un rango de escaneo de 100 μm x 100 μm x 10 μm, lo que permite a los usuarios explorar muestras con alta resolución y precisión.Este microscopio permite posicionar y escanear muestras con precisión para análisis detallados..
Una de las fortalezas clave del AtomEdge Pro radica en sus modos de escaneo, que incluyen contacto, toque, no contacto, fuerza lateral y modulación de fuerza.Esta versatilidad permite a los investigadores adaptar el microscopio a diferentes tipos de muestras y requisitos experimentales, por lo que es ideal para la obtención de imágenes y la caracterización a nanoescala.
Los investigadores pueden ajustar la velocidad de escaneo del AtomEdge Pro de 0.1Hz a 30Hz, proporcionando flexibilidad para capturar procesos dinámicos y detalles finos a nivel nanométrico.04 Nm garantiza mediciones y imágenes precisas, esencial para el análisis en profundidad de las propiedades de las muestras.
Con sus capacidades avanzadas e ingeniería de precisión, el microscopio de fuerza atómica AtomEdge Pro de Truth Instruments es adecuado para una amplia gama de ocasiones y escenarios de aplicación de productos.Desde la ciencia de los materiales y la investigación de semiconductores hasta los estudios biológicos y el análisis de superficie, este microscopio de sonda de exploración ofrece un rendimiento y una confiabilidad sin igual para investigaciones exigentes a nanoescala.
