0.1Hz - 30Hz Microscópio de Força Atómica Microscópios de Sonda de Análise em Nanoscala

Descrição do produto:

O microscópio de força atómica (AFM) é uma ferramenta de ponta que oferece capacidades de medição multimodo com resolução nanométrica,tornando-o um instrumento essencial para várias aplicações de investigação e industriais.

Com uma resolução notável de 0,04 nm, o AFM fornece imagens de alta precisão e medição da topografia da superfície a nível nanométrico.Esta resolução excepcional permite que pesquisadores e cientistas explorem e analisem amostras com detalhes e precisão sem precedentes.

O AFM oferece uma variedade versátil de modos de varredura, incluindo modos de contato, toque, não contato, força lateral e modulação de força.Esta capacidade multifuncional permite aos utilizadores adaptar o AFM a diferentes requisitos experimentais, permitindo uma análise abrangente e pormenorizada de uma ampla gama de amostras.

Com uma faixa de digitalização de 100 μm X 100 μm X 10 μm, o AFM fornece ampla cobertura para digitalização de grandes áreas de amostra, mantendo as capacidades de imagem de alta resolução.Este intervalo de digitalização permite examinar amostras de tamanhos variados, até 25 mm, garantindo flexibilidade na análise e experimentação de amostras.

O AFM oferece uma faixa de velocidade de varredura de 0,1 Hz a 30 Hz, permitindo que os usuários ajustem a velocidade de varredura com base nos requisitos específicos de seus experimentos.Esta flexibilidade na velocidade de digitalização garante uma aquisição e análise de dados eficientes, aumentando a produtividade e a eficácia globais dos processos de investigação e análise.

Em resumo, o Microscópio de Força Atómica é um instrumento de última geração que combina capacidades de medição multimodo, resolução nanométrica,e modos de varredura multifuncionais para fornecer aos investigadores e cientistas uma poderosa ferramenta para explorar e analisar amostras a nanoescalaCom a sua gama de digitalização versátil, imagens de alta resolução e velocidade de digitalização ajustável, o AFM oferece uma solução abrangente para uma ampla gama de aplicações de investigação e industriais.

Características:

• Nome do produto: Microscópio de Força Atómica
• Resolução: 0,04 Nm
• Velocidade de varredura: 0,1 Hz-30 Hz
• Fase de amostragem: Fase XY motorizada com resolução de 100 μm
• Faixa de digitalização: 100 μm X 100 μm X 10 μm
• Modos de varredura: contacto, toque, não contacto, força lateral, modulação da força

Parâmetros técnicos:

Aplicações:

A Truth Instruments apresenta o AtomEdge Pro Atomic Force Microscope, uma ferramenta de ponta projetada para imagens em nanoescala e caracterização em nanoescala em uma variedade de aplicações.Com origem na China, este microscópio avançado oferece uma precisão e versatilidade incomparáveis para uma ampla gama de cenários de investigação e industriais.

O AtomEdge Pro possui uma faixa de varredura de 100 μm x 100 μm x 10 μm, permitindo que os usuários explorem amostras com alta resolução e precisão.Este microscópio permite o posicionamento preciso e a varredura de amostras para análise detalhada.

Um dos principais pontos fortes do AtomEdge Pro reside em seus modos de digitalização, que incluem contato, toque, não contato, força lateral e modulação de força.Esta versatilidade permite aos investigadores adaptar o microscópio a diferentes tipos de amostras e requisitos experimentais, tornando-o ideal para imagens e caracterização em nanoescala.

Os pesquisadores podem ajustar a velocidade de digitalização do AtomEdge Pro de 0,1 Hz para 30 Hz, proporcionando flexibilidade para capturar processos dinâmicos e detalhes finos no nível nanométrico.04 Nm garante medições e imagens precisas, essencial para uma análise aprofundada das propriedades da amostra.

Com suas capacidades avançadas e engenharia de precisão, o Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope é adequado para uma ampla gama de ocasiões e cenários de aplicação de produtos.Da ciência dos materiais e da investigação em semicondutores aos estudos biológicos e à análise de superfícies, este microscópio de sonda de varredura oferece desempenho e confiabilidade incomparáveis para investigações exigentes em nanoescala.