0.1Гц - 30Гц Микроскоп атомной силы Наномасштабные сканирующие зондовые микроскопы

Описание продукта:

Атомно-силовой микроскоп (АСМ) - это передовой инструмент, предлагающий многорежимные возможности измерений с нанометровым разрешением, что делает его незаменимым прибором для различных исследовательских и промышленных применений.

Обладая замечательным разрешением 0,04 нм, АСМ обеспечивает высокоточную визуализацию и измерение топографии поверхности на наноуровне. Это исключительное разрешение позволяет исследователям и ученым исследовать и анализировать образцы с беспрецедентной детализацией и точностью.

АСМ предлагает универсальный набор режимов сканирования, включая режимы контакта, касания, бесконтактного режима, боковой силы и модуляции силы. Эта многофункциональность позволяет пользователям адаптировать АСМ к различным экспериментальным требованиям, обеспечивая всесторонний и детальный анализ широкого спектра образцов.

Обладая диапазоном сканирования 100 мкм X 100 мкм X 10 мкм, АСМ обеспечивает достаточный охват для сканирования больших площадей образцов, сохраняя при этом возможности визуализации с высоким разрешением. Этот диапазон сканирования позволяет исследовать образцы различных размеров, до 25 мм, обеспечивая гибкость в анализе образцов и экспериментах.

АСМ предлагает диапазон скоростей сканирования от 0,1 Гц до 30 Гц, позволяя пользователям регулировать скорость сканирования в зависимости от конкретных требований их экспериментов. Эта гибкость в скорости сканирования обеспечивает эффективный сбор и анализ данных, повышая общую производительность и эффективность процессов исследований и анализа.

В заключение, атомно-силовой микроскоп - это современный прибор, который сочетает в себе многорежимные возможности измерений, нанометровое разрешение и многофункциональные режимы сканирования, чтобы предоставить исследователям и ученым мощный инструмент для исследования и анализа образцов на наноуровне. Благодаря универсальному диапазону сканирования, визуализации с высоким разрешением и регулируемой скорости сканирования, АСМ предлагает комплексное решение для широкого спектра исследовательских и промышленных применений.

Особенности:

• Название продукта: Атомно-силовой микроскоп
• Разрешение: 0,04 нм
• Скорость сканирования: 0,1 Гц - 30 Гц
• Столик для образцов: моторизованный XY-столик с разрешением 100 мкм
• Диапазон сканирования: 100 мкм X 100 мкм X 10 мкм
• Режимы сканирования: контактный, касание, бесконтактный, боковая сила, модуляция силы

Технические параметры:

Применения:

Truth Instruments представляет атомно-силовой микроскоп AtomEdge Pro, передовой инструмент, предназначенный для наномасштабной визуализации и наномасштабной характеристики в различных областях применения. Этот усовершенствованный микроскоп, разработанный в Китае, предлагает непревзойденную точность и универсальность для широкого спектра исследовательских и промышленных сценариев.

AtomEdge Pro имеет диапазон сканирования 100 мкм x 100 мкм x 10 мкм, что позволяет пользователям исследовать образцы с высоким разрешением и точностью. Оснащенный моторизованным XY-столиком с разрешением 100 мкм, этот микроскоп обеспечивает точное позиционирование и сканирование образцов для детального анализа.

Одной из ключевых сильных сторон AtomEdge Pro являются его режимы сканирования, которые включают контактный, касание, бесконтактный, боковую силу и модуляцию силы. Эта универсальность позволяет исследователям адаптировать микроскоп к различным типам образцов и экспериментальным требованиям, что делает его идеальным для наномасштабной визуализации и характеристики.

Исследователи могут регулировать скорость сканирования AtomEdge Pro от 0,1 Гц до 30 Гц, обеспечивая гибкость для захвата динамических процессов и мелких деталей на наноуровне. Высокое разрешение 0,04 нм обеспечивает точные измерения и визуализацию, что необходимо для углубленного анализа свойств образцов.

Благодаря своим передовым возможностям и точному проектированию, атомно-силовой микроскоп Truth Instruments AtomEdge Pro подходит для широкого спектра применений и сценариев. От материаловедения и исследований полупроводников до биологических исследований и анализа поверхности, этот сканирующий зондовый микроскоп предлагает непревзойденную производительность и надежность для сложных наномасштабных исследований.