0.1Hz - 30Hz Microscope de force atomique Microscopes de sonde à balayage à l'échelle nanométrique

Description du produit :

Le microscope à force atomique (AFM) est un outil de pointe qui offre des capacités de mesure multi-modes avec une résolution nanométrique, ce qui en fait un instrument essentiel pour diverses applications de recherche et industrielles.

Avec une résolution remarquable de 0,04 nm, l'AFM fournit une imagerie et une mesure de haute précision de la topographie de surface à l'échelle nanométrique. Cette résolution exceptionnelle permet aux chercheurs et aux scientifiques d'explorer et d'analyser des échantillons avec des détails et une précision sans précédent.

L'AFM offre une gamme polyvalente de modes de balayage, notamment les modes contact, tapping, sans contact, force latérale et modulation de force. Cette capacité multifonctionnelle permet aux utilisateurs d'adapter l'AFM à différentes exigences expérimentales, ce qui permet une analyse complète et détaillée d'une large gamme d'échantillons.

Doté d'une plage de balayage de 100 µm X 100 µm X 10 µm, l'AFM offre une couverture suffisante pour le balayage de grandes zones d'échantillons tout en conservant des capacités d'imagerie haute résolution. Cette plage de balayage permet l'examen d'échantillons de tailles variables, jusqu'à 25 mm, assurant une flexibilité dans l'analyse et l'expérimentation des échantillons.

L'AFM offre une plage de vitesse de balayage de 0,1 Hz à 30 Hz, ce qui permet aux utilisateurs d'ajuster la vitesse de balayage en fonction des exigences spécifiques de leurs expériences. Cette flexibilité de la vitesse de balayage assure une acquisition et une analyse efficaces des données, améliorant la productivité et l'efficacité globales des processus de recherche et d'analyse.

En résumé, le microscope à force atomique est un instrument de pointe qui combine des capacités de mesure multi-modes, une résolution nanométrique et des modes de balayage multifonctionnels pour fournir aux chercheurs et aux scientifiques un outil puissant pour explorer et analyser des échantillons à l'échelle nanométrique. Avec sa plage de balayage polyvalente, son imagerie haute résolution et sa vitesse de balayage réglable, l'AFM offre une solution complète pour un large éventail d'applications de recherche et industrielles.

Caractéristiques :

• Nom du produit : Microscope à force atomique
• Résolution : 0,04 Nm
• Vitesse de balayage : 0,1 Hz-30 Hz
• Table d'échantillon : Table XY motorisée avec une résolution de 100 µm
• Plage de balayage : 100 µm X 100 µm X 10 µm
• Modes de balayage : Contact, Tapping, Sans contact, Force latérale, Modulation de force

Paramètres techniques :

Applications :

Truth Instruments présente le microscope à force atomique AtomEdge Pro, un outil de pointe conçu pour l'imagerie et la caractérisation à l'échelle nanométrique dans une variété d'applications. Avec ses origines en Chine, ce microscope avancé offre une précision et une polyvalence inégalées pour un large éventail de scénarios de recherche et industriels.

L'AtomEdge Pro est doté d'une plage de balayage de 100 µm x 100 µm x 10 µm, ce qui permet aux utilisateurs d'explorer des échantillons avec une haute résolution et précision. Équipé d'une table XY motorisée avec une résolution de 100 µm, ce microscope permet un positionnement et un balayage précis des échantillons pour une analyse détaillée.

L'un des principaux atouts de l'AtomEdge Pro réside dans ses modes de balayage, qui incluent le contact, le tapping, le sans contact, la force latérale et la modulation de force. Cette polyvalence permet aux chercheurs d'adapter le microscope à différents types d'échantillons et aux exigences expérimentales, ce qui le rend idéal pour l'imagerie et la caractérisation à l'échelle nanométrique.

Les chercheurs peuvent ajuster la vitesse de balayage de l'AtomEdge Pro de 0,1 Hz à 30 Hz, offrant ainsi la flexibilité nécessaire pour capturer des processus dynamiques et des détails fins à l'échelle nanométrique. La haute résolution de 0,04 Nm assure des mesures et une imagerie précises, essentielles pour une analyse approfondie des propriétés des échantillons.

Grâce à ses capacités avancées et à son ingénierie de précision, le microscope à force atomique AtomEdge Pro de Truth Instruments convient à un large éventail d'occasions et de scénarios d'application de produits. De la science des matériaux et de la recherche sur les semi-conducteurs aux études biologiques et à l'analyse de surface, ce microscope à sonde à balayage offre des performances et une fiabilité inégalées pour les investigations exigeantes à l'échelle nanométrique.