0.1Hz - 30Hz Atomik Kuvvet Mikroskobu Nanoölçekli Tarama Uçlu Mikroskoplar

Ürün Açıklaması:

Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM), nanometre çözünürlüğe sahip çok modlu ölçüm yetenekleri sunan, çeşitli araştırma ve endüstriyel uygulamalar için vazgeçilmez bir araçtır.

0,04 nm gibi olağanüstü bir çözünürlükle AFM, nanometre ölçeğinde yüzey topografyasının yüksek hassasiyetli görüntülenmesini ve ölçülmesini sağlar. Bu olağanüstü çözünürlük, araştırmacıların ve bilim insanlarının örnekleri benzeri görülmemiş detay ve doğrulukla keşfetmelerini ve analiz etmelerini sağlar.

AFM, Temas, Dokunma, Temassız, Yanal Kuvvet ve Kuvvet Modülasyon modları dahil olmak üzere çok çeşitli tarama modları sunar. Bu çok işlevli yetenek, kullanıcıların AFM'yi farklı deneysel gereksinimlere uyarlamasına olanak tanıyarak, çok çeşitli örneklerin kapsamlı ve ayrıntılı analizini sağlar.

100 μm X 100 μm X 10μm'lik bir tarama aralığına sahip olan AFM, yüksek çözünürlüklü görüntüleme yeteneklerini korurken, büyük örnek alanlarını taramak için geniş bir kapsama alanı sağlar. Bu tarama aralığı, 25 mm'ye kadar değişen boyutlardaki örneklerin incelenmesine olanak tanıyarak, örnek analizi ve deneylerde esneklik sağlar.

AFM, 0,1Hz ila 30Hz arasında bir tarama hızı aralığı sunarak, kullanıcıların tarama hızını deneylerinin özel gereksinimlerine göre ayarlamasına olanak tanır. Tarama hızındaki bu esneklik, verimli veri toplama ve analiz sağlar, araştırma ve analiz süreçlerinin genel verimliliğini ve etkinliğini artırır.

Özetle, Atomik Kuvvet Mikroskobu, araştırmacılara ve bilim insanlarına nanometre ölçeğinde örnekleri keşfetmek ve analiz etmek için güçlü bir araç sağlamak üzere çok modlu ölçüm yeteneklerini, nanometre çözünürlüğünü ve çok işlevli tarama modlarını birleştiren son teknoloji bir cihazdır. Çok yönlü tarama aralığı, yüksek çözünürlüklü görüntüleme ve ayarlanabilir tarama hızı ile AFM, çok çeşitli araştırma ve endüstriyel uygulamalar için kapsamlı bir çözüm sunar.

Özellikler:

• Ürün Adı: Atomik Kuvvet Mikroskobu
• Çözünürlük: 0,04 Nm
• Tarama Hızı: 0,1Hz-30Hz
• Numune Sahnesi: 100 μm Çözünürlüklü Motorlu XY Sahnesi
• Tarama Aralığı: 100 μm X 100 μm X 10μm
• Tarama Modları: Temas, Dokunma, Temassız, Yanal Kuvvet, Kuvvet Modülasyonu

Teknik Parametreler:

Uygulamalar:

Truth Instruments, çeşitli uygulamalarda nanometre ölçekli görüntüleme ve nanometre ölçekli karakterizasyon için tasarlanmış son teknoloji bir araç olan AtomEdge Pro Atomik Kuvvet Mikroskobunu sunar. Çin kökenli bu gelişmiş mikroskop, çok çeşitli araştırma ve endüstriyel senaryolar için benzersiz hassasiyet ve çok yönlülük sunar.

AtomEdge Pro, 100 μm x 100 μm x 10 μm'lik bir tarama aralığına sahiptir ve kullanıcıların örnekleri yüksek çözünürlük ve doğrulukla keşfetmelerine olanak tanır. 100 μm çözünürlüğe sahip motorlu bir XY sahnesi ile donatılmış bu mikroskop, ayrıntılı analiz için örneklerin hassas bir şekilde konumlandırılmasını ve taranmasını sağlar.

AtomEdge Pro'nun temel güçlü yönlerinden biri, temas, dokunma, temassız, yanal kuvvet ve kuvvet modülasyonunu içeren tarama modlarıdır. Bu çok yönlülük, araştırmacıların mikroskobu farklı numune türlerine ve deneysel gereksinimlere uyarlamasına olanak tanıyarak, onu nanometre ölçekli görüntüleme ve karakterizasyon için ideal hale getirir.

Araştırmacılar, dinamik süreçleri ve nanometre ölçeğindeki ince detayları yakalamak için AtomEdge Pro'nun tarama hızını 0,1Hz'den 30Hz'e ayarlayabilir. 0,04 Nm'lik yüksek çözünürlük, numune özelliklerinin derinlemesine analizi için gerekli olan doğru ölçümleri ve görüntülemeyi sağlar.

Gelişmiş yetenekleri ve hassas mühendisliği ile Truth Instruments AtomEdge Pro Atomik Kuvvet Mikroskobu, çok çeşitli ürün uygulamaları ve senaryoları için uygundur. Malzeme bilimi ve yarı iletken araştırmalarından biyolojik çalışmalara ve yüzey analizine kadar, bu tarama sondası mikroskobu, zorlu nanometre ölçekli araştırmalar için eşsiz performans ve güvenilirlik sunar.