English
Français
Deutsch
Italiano
Русский
Español
Português
Nederlandse
Ελληνικά
日本語
한국
Polski
فارسی
বাংলা
ไทย
Tiếng Việt
العربية
हिन्दी
Türkçe
Mikroskop gaya atom
0.1Hz - 30Hz Mikroskop Kekuatan Atom Mikroskop Probe Pemindaian Nanoscale
Mikroskop Probe Pemindaian Lanjutan untuk Pengukuran Skala Nano Deskripsi Produk: Mikroskop Gaya Atom (AFM) adalah alat canggih yang menawarkan kemampuan pengukuran multi-mode dengan resolusi nanometer, menjadikannya instrumen penting untuk berbagai aplikasi penelitian dan industri. Dengan resolusi ...
0.1Hz - 30Hz Mikroskop Kekuatan Atom Mikroskop Probe Pemindaian Nanoscale
Mikroskop Atomik Pindai Modulasi Gaya Ilmu Resolusi Tinggi Mikroskop 0.04 Nm
Force Modulation Scanning Atomic Force Microscope Dengan Resolusi Tinggi Deskripsi produk: Atomic Force Microscope adalah instrumen mutakhir yang dirancang untuk pengambilan gambar resolusi tinggi dan analisis pada tingkat nanoscale.mikroskop ini menawarkan kinerja yang tak tertandingi dalam ...
Mikroskop Atomik Pindai Modulasi Gaya Ilmu Resolusi Tinggi Mikroskop 0.04 Nm
Mikroskop Gaya Atom Resolusi Tinggi 0.04 Nm Mikroskop Industri Untuk Analisis Skala Nano
Mikroskop Kekuatan Atom Resolusi Tinggi Untuk Analisis Nanoscale Deskripsi produk: Mikroskop Kekuatan Atom (AFM) adalah alat serbaguna untuk analisis permukaan, yang umumnya digunakan dalam berbagai aplikasi ilmiah dan industri.Perangkat mutakhir ini menawarkan kemampuan pemindaian yang luar biasa ...
Mikroskop Gaya Atom Resolusi Tinggi 0.04 Nm Mikroskop Industri Untuk Analisis Skala Nano
Mikroskop Kerr
Mikroskop Kerr Kriogenik Lapangan Magnetik Tinggi Sistem Pencitraan Laser Kerr
Cryogenic High-Magnetic-Field Laser Kerr Microimaging System Pengantar Produk Dikembangkan untuk magnetisme lemah, ukuran kecil, sifat tidak konduktif, medan paksaan rendah, dan suhu Curie rendah dari bahan ferromagnetik dua dimensi,Sistem karakterisasi yang kuat ini memiliki deteksi magnetik yang ...
Mikroskop Kerr Kriogenik Lapangan Magnetik Tinggi Sistem Pencitraan Laser Kerr
Kerr Effect Hysteresis Loop Instrumen Pengukuran Penelitian Ilmiah Instrumen Pengukuran
Instrumen Pengukuran Hysteresis Loop Untuk Penelitian Ilmiah Pengantar Produk Dengan menggunakan efek Kerr magneto-optik, instrumen ini memberikan karakterisasi presisi tinggi magnetisme dalam ferromagnetik, antiferromagnetik buatan, bahan 2D, dan perangkat mikroelektronik.Hal ini dapat secara ...
Kerr Effect Hysteresis Loop Instrumen Pengukuran Penelitian Ilmiah Instrumen Pengukuran
Mikroskop Kerr Magnet Permanen Resolusi Tinggi Mikroskop Efek Kerr Optik Magneto 450Nm
Mikroskop magnet magnet permanen PENDAHULUAN PRODUK Dirancang untuk penelitian mendalam tentang bahan magnet permanen, instrumen pengujian presisi canggih ini memungkinkan pengukuran yang tepat resolusi tinggi dan pengamatan terperinci dari efek Kerr longitudinal, melintang, dan vertikal magneto...
Mikroskop Kerr Magnet Permanen Resolusi Tinggi Mikroskop Efek Kerr Optik Magneto 450Nm
Magneto Optical Cryostat
High Field Optical Cryostat 1.7 K - 350 K Rentang suhu MO Cryo Dengan Akses Optik Multi-Directional
Kriostat Optik Medan Tinggi Dengan Akses Optik Multi Arah Deskripsi Produk: Kriostat Magneto Optik adalah alat penelitian mutakhir yang dirancang untuk pengukuran presisi di bidang Material 2D, Medan Magnet Tinggi, dan pengukuran magneto optik. Kriostat inovatif ini menawarkan kinerja dan keserbagun...
High Field Optical Cryostat 1.7 K - 350 K Rentang suhu MO Cryo Dengan Akses Optik Multi-Directional
Kriostat Optik Magnet Cepat Pendingin 1 Jendela Atas MO Cryostat Untuk Penelitian Material Lanjutan
MO-Cryostat pendinginan cepat untuk penelitian bahan lanjutan Deskripsi produk: The Ultra-Low-Temperature Superconducting-Magnet Integrated Optical Property Measurement Cryostat is a cutting-edge system designed for researchers working with quantum materials and conducting cryogenic microscopy ...
Kriostat Optik Magnet Cepat Pendingin 1 Jendela Atas MO Cryostat Untuk Penelitian Material Lanjutan
Stasiun Probe Cryogenic
Stasiun Probe Otomatis Bebas Cryogen Stasiun Probe Vacuum Suhu Rendah Untuk Pengukuran Perangkat 4K
Stasiun probe bebas cryogen untuk pengukuran perangkat 4K otomatis Deskripsi Produk: Stasiun probe cryogenic adalah perangkat canggih yang dirancang untuk karakterisasi perangkat kriogenik yang bebas kriogen, hemat biaya, dan tepat. Dengan fitur dan kemampuan canggihnya, stasiun penyelidikan ini ...
Stasiun Probe Otomatis Bebas Cryogen Stasiun Probe Vacuum Suhu Rendah Untuk Pengukuran Perangkat 4K
Stasiun Sonde Kriogenik Precision Stasiun Sonde Bebas Kriogen Untuk Pengukuran Magnetik Otomatis
Stasiun Probe Bebas Cryogen untuk Pengukuran Magnetik Otomatis Deskripsi produk: Cryogenic In-Plane Magnetic Field Probe Station adalah alat mutakhir yang dirancang untuk peneliti dan ilmuwan yang bekerja dengan Perangkat Spintronic.Stasiun probe canggih ini menawarkan kontrol yang tepat dan ...
Stasiun Sonde Kriogenik Precision Stasiun Sonde Bebas Kriogen Untuk Pengukuran Magnetik Otomatis
Tester MRAM
Penguji Chip Magnetik Tri Temp Presisi Penguji Akhir untuk Verifikasi Keandalan Tinggi
Tri Temp Magnetic Chip Tester Untuk Verifikasi Keandalan Tinggi Deskripsi produk: Memperkenalkan Mesin Uji Akhir Chip Magnetik mutakhir, solusi utama untuk ATE untuk Chip Magnetik.Produk inovatif ini dirancang untuk memenuhi persyaratan menuntut pengujian chip magnet dengan presisi dan akurasi. ...
Penguji Chip Magnetik Tri Temp Presisi Penguji Akhir untuk Verifikasi Keandalan Tinggi
Sistem Uji Akhir Otomatis Penguji MRAM Presisi Untuk Lini Produksi Chip Magnetik
Sistem Uji Akhir Otomatis Untuk Lini Produksi Chip Magnetik Deskripsi Produk: Sistem Eksitasi1: Salah satu fitur utama dari mesin uji akhir chip magnetik ini adalah kemampuan sistem eksitasi untuk menghasilkan intensitas medan magnet maksimum ±2000 Oe di sepanjang sumbu X. Intensitas medan magnet ...
