Programowalna stacja pomiarowa z sondami precyzyjnymi RF dla rozszerzalnych badań i rozwoju

Opis produktu:

1D In-Plane Magnetic Field Probe Station jest najnowocześniejszym narzędziem zaprojektowanym do precyzyjnego i wydajnego testowania urządzeń DC i RF.Ta wszechstronna stacja sonda oferuje szeroki zakres funkcji i możliwości, aby sprostać wymaganiom nowoczesnych zastosowań badawczo-rozwojowych.

Jedną z kluczowych cech tej stacji sondy magnetycznej jest jej zakres powiększania optycznego, który obejmuje od 0,75 × do 5 ×.Umożliwia to użytkownikom inspekcję i pozycjonowanie próbek z wyjątkową jasnością i precyzją, zapewniając dokładne pomiary i analizy.

Jeśli chodzi o siłę pola magnetycznego, stacja sondy wyróżnia się maksymalną zdolnością 1 tesli w przestrzeni powietrznej 20 mm.Ten wysoki poziom siły pola magnetycznego zapewnia naukowcom warunki niezbędne do skutecznego zbadania i charakterystyki właściwości magnetycznych próbek.

Siedzenie sondy tej stacji wyposażone jest w 4 grupy sond prądu stałego, 1 grupę sond RF i 8-pinnowe siedzenie próbkowe.Ta konfiguracja umożliwia użytkownikom wykonywanie szerokiego zakresu badań i pomiarów, dzięki czemu jest idealny zarówno do testowania urządzeń DC, jak i RF.

W zakresie kompatybilności licznika źródła, 1D In-Plane Magnetic Field Probe Station jest kompatybilny z różnymi licznikami źródła, w tym SR830, N5173B, Keithley 6221 i Keithley 2182A.Ta elastyczność pozwala badaczom bezproblemowo zintegrować istniejący sprzęt ze stacją sondy dla zwiększonej funkcjonalności i wygody.

Inną charakterystyczną cechą stacji sondy jest jej stopień przemieszczania próbki, który oferuje układ regulowany w osi X o ± 15 mm i czułość regulacji 10 μm.Scena ma 360-stopniowe elektryczne obroty, zapewniając użytkownikom nadzwyczajną kontrolę i precyzję podczas umieszczania próbek do badań i analiz.

Z rozszerzalnymi funkcjami i zaawansowanymi możliwościami,1D In-Plane Magnetic Field Probe Station jest cennym narzędziem dla naukowców i inżynierów pracujących w dziedzinie materiałów magnetycznych i charakterystyki urządzeńNiezależnie od tego, czy prowadzisz badania podstawowe, testowanie urządzeń, czy analizę materiałów, ta stacja sonda oferuje wydajność i elastyczność potrzebną do osiągnięcia wiarygodnych i dokładnych wyników.

Charakterystyka:

• Nazwa produktu: 1D In-Plane Magnetic Field Probe Station
• Próżnia powietrzna: regulowana od 0 do 80 mm
• Poziom emisji:
• Etap przemieszczenia próbki: osi X, układ układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu układu uk
• Rozstrzygnięcie pola magnetycznego: PID Regulacja zwrotnej informacji w pętli zamkniętej, rozdzielczość 0,05 mT
• Zwiększenie optyczne: 0,75×-5×

Parametry techniczne:

Zastosowanie:

Truth Instruments przedstawia PS1DX-MS In-Plane Magnetic Field Probe Station, zaprojektowaną do dokładnych pomiarów w przemyśle półprzewodnikowym.oferuje wyjątkowe powiększenie optyczne w zakresie od 00,75 × do 5 ×, zapewniając jasne i szczegółowe obserwacje podczas badań.

Jednolitość pola magnetycznego ± 1%φ1 mm gwarantuje dokładne i niezawodne wyniki, kluczowe dla badań i rozwoju półprzewodników.Stopień przemieszczania próbki stacji sondy zapewnia elastyczność przy układzie regulowanym w osi X o długości ±15 mmDodatkowo etap umożliwia 360-stopniowe obracanie elektryczne, zwiększając możliwości automatyzacji systemu.

PS1DX-MS z regulowaną szczeliną powietrzną w zakresie od 0 do 80 mm może pomieścić różne rozmiary próbek i konfiguracje, co czyni go wszechstronnym narzędziem do różnych scenariuszy badań.Integracja liczników źródłowych, takich jak SR830, N5173B, Keithley 6221 i Keithley 2182A zapewniają precyzyjną kontrolę i pomiar parametrów elektrycznych podczas badań.

Przyczyny i scenariusze zastosowania produktu:

• Charakterystyka urządzeń półprzewodnikowych z wymaganiami w zakresie pola magnetycznego w płaszczyźnie
• Zautomatyzowane procesy badawcze w laboratoriach badań i rozwoju półprzewodników
• Dokładne pomiary jednolitości pola magnetycznego w materiałach półprzewodnikowych
• Analiza właściwości magnetycznych w cienkich foliach i nanostrukach
• Ocena wpływu pola magnetycznego na elementy elektroniczne