Programlanabilir Sonda İstasyonu Genişletilebilir Araştırma ve Geliştirme için Hassas RF Sonda İstasyonu

Ürün Açıklaması:

1D Düzlem İçi Manyetik Alan Prob İstasyonu, DC ve RF cihazlarının hassas ve verimli bir şekilde test edilmesi için tasarlanmış son teknoloji bir araçtır. Bu çok yönlü prob istasyonu, modern araştırma ve geliştirme uygulamalarının taleplerini karşılamak için çok çeşitli özellikler ve yetenekler sunar.

Bu manyetik prob istasyonunun temel özelliklerinden biri, 0,75× ile 5× arasında değişen optik büyütme aralığıdır. Bu, kullanıcıların örnekleri olağanüstü netlik ve hassasiyetle incelemesine ve konumlandırmasına olanak tanıyarak doğru ölçümler ve analiz sağlar.

Manyetik alan gücü söz konusu olduğunda, prob istasyonu 20 mm'lik bir hava boşluğunda maksimum 1 Tesla kapasiteye sahiptir. Bu yüksek manyetik alan gücü seviyesi, araştırmacılara örneklerinin manyetik özelliklerini etkili bir şekilde keşfetmek ve karakterize etmek için gerekli koşulları sağlar.

Bu istasyonun prob yuvası, 4 grup DC probu, 1 grup RF probu ve 8 pimli tel bağlı bir numune yuvası ile donatılmıştır. Bu yapılandırma, kullanıcıların çok çeşitli testler ve ölçümler yapmasını sağlar ve hem DC hem de RF cihaz testleri için idealdir.

Kaynak ölçer uyumluluğu açısından, 1D Düzlem İçi Manyetik Alan Prob İstasyonu, SR830, N5173B, Keithley 6221 ve Keithley 2182A dahil olmak üzere çeşitli kaynak ölçerlerle uyumludur. Bu esneklik, araştırmacıların mevcut ekipmanlarını prob istasyonuyla sorunsuz bir şekilde entegre etmelerine olanak tanıyarak gelişmiş işlevsellik ve kolaylık sağlar.

Bu prob istasyonunun bir diğer öne çıkan özelliği, X ekseninde ±15 mm ayarlanabilir strok ve 10 μm'lik ayar hassasiyeti sunan numune yer değiştirme aşamasıdır. Ek olarak, aşama 360 ​​derecelik elektrikli dönüşe sahiptir ve kullanıcılara test ve analiz için numuneleri konumlandırırken olağanüstü kontrol ve hassasiyet sağlar.

Genişletilebilir işlevleri ve gelişmiş yetenekleriyle, 1D Düzlem İçi Manyetik Alan Prob İstasyonu, manyetik malzemeler ve cihaz karakterizasyonu alanında çalışan araştırmacılar ve mühendisler için değerli bir araçtır. İster temel araştırma, cihaz testi veya malzeme analizi yapıyor olun, bu prob istasyonu güvenilir ve doğru sonuçlar elde etmek için ihtiyacınız olan performansı ve esnekliği sunar.

Özellikler:

• Ürün Adı: 1D Düzlem İçi Manyetik Alan Prob İstasyonu
• Hava Boşluğu: 0-80 mm'den Ayarlanabilir
• Kaynak Ölçer: SR830, N5173B, Keithley 6221, Keithley 2182A
• Numune Yer Değiştirme Aşaması: X ekseni Ayarlanabilir Strok ±15 mm, Ayar Hassasiyeti 10 μm; T ekseni 360 derecelik Elektrikli Dönüş
• Manyetik Alan Çözünürlüğü: PID Kapalı Döngü Geri Bildirim Düzenlemesi, Çözünürlük 0,05 mT
• Optik Büyütme: 0,75×-5×

Teknik Parametreler:

Uygulamalar:

Truth Instruments, yarı iletken endüstrisinde hassas ölçümler için tasarlanmış PS1DX-MS Düzlem İçi Manyetik Alan Prob İstasyonunu sunar. Çin'den kaynaklanan bu yenilikçi ürün, test sırasında net ve ayrıntılı gözlemler sağlayan 0,75× ile 5× arasında değişen olağanüstü optik büyütme sunar.

±1%φ1 mm'lik manyetik alan düzgünlüğü, yarı iletken araştırmaları ve geliştirmeleri için çok önemli olan doğru ve güvenilir sonuçları garanti eder. Prob istasyonunun numune yer değiştirme aşaması, ±15 mm'lik bir X ekseni ayarlanabilir strok sunarak 10 μm'lik ayar hassasiyeti sağlar. Ek olarak, aşama, sistemin otomatik yeteneklerini geliştiren 360 derecelik elektrikli dönüşe izin verir.

0-80 mm arasında değişen ayarlanabilir bir hava boşluğu ile PS1DX-MS, çeşitli numune boyutlarına ve konfigürasyonlarına uyum sağlayarak farklı test senaryoları için çok yönlü bir araç haline getirir. SR830, N5173B, Keithley 6221 ve Keithley 2182A gibi kaynak ölçerlerin entegrasyonu, test sırasında elektriksel parametrelerin hassas kontrolünü ve ölçümünü sağlar.

Ürün Uygulama Durumları ve Senaryoları:

• Düzlem içi manyetik alan gereksinimleri olan yarı iletken cihazların karakterizasyonu
• Yarı iletken araştırma ve geliştirme laboratuvarlarında otomatik test süreçleri
• Yarı iletken malzemelerde manyetik alan düzgünlüğünün hassas ölçümleri
• İnce filmlerde ve nanoyapılarda manyetik özelliklerin analizi
• Elektronik bileşenler üzerindeki manyetik alan etkilerinin değerlendirilmesi