Programmeerbare probeerstation

Productbeschrijving:

De 1D In-Plane Magnetic Field Probe Station is een geavanceerd hulpmiddel dat is ontworpen voor nauwkeurig en efficiënt testen van DC- en RF-apparaten. Dit veelzijdige probe station biedt een breed scala aan functies en mogelijkheden om te voldoen aan de eisen van moderne onderzoeks- en ontwikkelingsapplicaties.

Een van de belangrijkste kenmerken van dit magnetische probe station is het optische vergrotingsbereik, dat varieert van 0,75× tot 5×. Hierdoor kunnen gebruikers monsters met uitzonderlijke helderheid en precisie inspecteren en positioneren, wat zorgt voor nauwkeurige metingen en analyse.

Als het gaat om de magnetische veldsterkte, blinkt het probe station uit met een maximale capaciteit van 1 Tesla bij een luchtspleet van 20 mm. Dit hoge niveau van magnetische veldsterkte biedt onderzoekers de nodige omstandigheden om de magnetische eigenschappen van hun monsters effectief te onderzoeken en te karakteriseren.

De probe seat van dit station is uitgerust met 4 groepen DC-probes, 1 groep RF-probes en een 8-pins draadgebonden monster seat. Deze configuratie stelt gebruikers in staat om een breed scala aan tests en metingen uit te voeren, waardoor het ideaal is voor zowel DC- als RF-apparaattests.

Wat betreft de compatibiliteit met source meters, is de 1D In-Plane Magnetic Field Probe Station compatibel met een verscheidenheid aan source meters, waaronder de SR830, N5173B, Keithley 6221 en Keithley 2182A. Deze flexibiliteit stelt onderzoekers in staat om hun bestaande apparatuur naadloos te integreren met het probe station voor verbeterde functionaliteit en gemak.

Een ander opvallend kenmerk van dit probe station is de monsterverplaatsingstage, die een verstelbare X-as slag van ±15 mm en een afstelsensitiviteit van 10 μm biedt. Bovendien beschikt de stage over 360 graden elektrische rotatie, waardoor gebruikers uitzonderlijke controle en precisie hebben bij het positioneren van monsters voor testen en analyse.

Met zijn uitbreidbare functies en geavanceerde mogelijkheden is de 1D In-Plane Magnetic Field Probe Station een waardevol hulpmiddel voor onderzoekers en ingenieurs die werkzaam zijn op het gebied van magnetische materialen en apparaatkarakterisering. Of u nu fundamenteel onderzoek, apparaattests of materiaalanalyse uitvoert, dit probe station biedt de prestaties en flexibiliteit die u nodig heeft om betrouwbare en nauwkeurige resultaten te behalen.

Kenmerken:

• Productnaam: 1D In-Plane Magnetic Field Probe Station
• Luchtspleet: Verstelbaar van 0-80 mm
• Source Meter: SR830, N5173B, Keithley 6221, Keithley 2182A
• Monsterverplaatsingstage: X-as verstelbare slag ±15 mm, afstelsensitiviteit 10 μm; T-as 360 graden elektrische rotatie
• Magnetische Veldresolutie: PID Closed-loop Feedback Regeling, Resolutie 0,05 mT
• Optische Vergroting: 0,75×-5×

Technische Parameters:

Toepassingen:

Truth Instruments presenteert de PS1DX-MS In-Plane Magnetic Field Probe Station, ontworpen voor precieze metingen in de halfgeleiderindustrie. Dit innovatieve product, afkomstig uit China, biedt een uitzonderlijke optische vergroting variërend van 0,75× tot 5×, wat zorgt voor heldere en gedetailleerde waarnemingen tijdens het testen.

De magnetische velduniformiteit van ±1%φ1 mm garandeert nauwkeurige en betrouwbare resultaten, cruciaal voor onderzoek en ontwikkeling van halfgeleiders. De monsterverplaatsingstage van het probe station biedt flexibiliteit met een verstelbare X-as slag van ±15 mm, met een afstelsensitiviteit van 10 μm. Bovendien maakt de stage 360 graden elektrische rotatie mogelijk, waardoor de geautomatiseerde mogelijkheden van het systeem worden verbeterd.

Met een verstelbare luchtspleet variërend van 0-80 mm, is de PS1DX-MS geschikt voor verschillende monstergroottes en -configuraties, waardoor het een veelzijdig hulpmiddel is voor verschillende testsituaties. De integratie van source meters zoals SR830, N5173B, Keithley 6221 en Keithley 2182A zorgt voor precieze controle en meting van elektrische parameters tijdens het testen.

Producttoepassingsgelegenheden en -scenario's:

• Karakterisering van halfgeleiderapparaten met in-plane magnetische veldvereisten
• Geautomatiseerde testprocessen in laboratoria voor onderzoek en ontwikkeling van halfgeleiders
• Precisie metingen van magnetische velduniformiteit in halfgeleidermaterialen
• Analyse van magnetische eigenschappen in dunne films en nanostructuren
• Evaluatie van magnetische veldeffecten op elektronische componenten