Programmeerbare probeerstation

Productbeschrijving:

Het 1D In-Plane Magnetisch Veld Probestation is een geavanceerd hulpmiddel dat is ontworpen voor nauwkeurig en efficiënt testen van DC- en RF-apparaten. Dit veelzijdige probestation biedt een breed scala aan functies en mogelijkheden om te voldoen aan de eisen van moderne onderzoeks- en ontwikkelingsapplicaties.

Een van de belangrijkste kenmerken van dit magnetische probestation is het optische vergrotingsbereik, dat varieert van 0,75X tot 5X. Hierdoor kunnen gebruikers monsters met uitzonderlijke helderheid en precisie inspecteren en positioneren, wat zorgt voor nauwkeurige metingen en analyses.

Als het gaat om de magnetische veldsterkte, blinkt het probestation uit met een maximale capaciteit van 1 Tesla bij een luchtspleet van 20 mm. Dit hoge niveau van magnetische veldsterkte biedt onderzoekers de nodige omstandigheden om de magnetische eigenschappen van hun monsters effectief te onderzoeken en te karakteriseren.

De probe-zitting van dit station is uitgerust met 4 groepen DC-probes, 1 groep RF-probes en een 8-pins draadgebonden monsterzitting. Deze configuratie stelt gebruikers in staat om een breed scala aan tests en metingen uit te voeren, waardoor het ideaal is voor zowel DC- als RF-apparaattests.

Wat betreft de compatibiliteit met bronmeters, is het 1D In-Plane Magnetisch Veld Probestation compatibel met een verscheidenheid aan bronmeters, waaronder de SR830, N5173B, Keithley 6221 en Keithley 2182A. Deze flexibiliteit stelt onderzoekers in staat om hun bestaande apparatuur naadloos te integreren met het probestation voor verbeterde functionaliteit en gemak.

Een ander opvallend kenmerk van dit probestation is de monsterverplaatsingstafel, die een verstelbare X-as slag van ±15 mm en een afstelsensitiviteit van 10 μm biedt. Bovendien beschikt de tafel over 360 graden elektrische rotatie, waardoor gebruikers uitzonderlijke controle en precisie hebben bij het positioneren van monsters voor testen en analyse.

Met zijn uitbreidbare functies en geavanceerde mogelijkheden is het 1D In-Plane Magnetisch Veld Probestation een waardevol hulpmiddel voor onderzoekers en ingenieurs die werkzaam zijn op het gebied van magnetische materialen en apparaatkarakterisering. Of u nu fundamenteel onderzoek, apparaattests of materiaalanalyse uitvoert, dit probestation biedt de prestaties en flexibiliteit die u nodig heeft om betrouwbare en nauwkeurige resultaten te behalen.

Kenmerken:

• Productnaam: 1D In-Plane Magnetisch Veld Probestation
• Luchtspleet: Verstelbaar van 0-80 mm
• Bronmeter: SR830, N5173B, Keithley 6221, Keithley 2182A
• Monsterverplaatsingstafel: X-as verstelbare slag ±15 mm, afstelsensitiviteit 10 μm; T-as 360 graden elektrische rotatie
• Magnetische Veldresolutie: PID Closed-loop Feedback Regeling, Resolutie 0,05 MT
• Optische Vergroting: 0,75 X-5 X

Technische parameters:

Toepassingen:

Truth Instruments presenteert het PS1DX-MS In-Plane Magnetisch Veld Probestation, ontworpen voor precieze metingen in de halfgeleiderindustrie. Dit innovatieve product, afkomstig uit China, biedt een uitzonderlijke optische vergroting variërend van 0,75X tot 5X, wat zorgt voor heldere en gedetailleerde observaties tijdens het testen.

De magnetische velduniformiteit van ±1%φ1 mm garandeert nauwkeurige en betrouwbare resultaten, cruciaal voor onderzoek en ontwikkeling van halfgeleiders. De monsterverplaatsingstafel van het probestation biedt flexibiliteit met een verstelbare X-as slag van ±15 mm, met een afstelsensitiviteit van 10 μm. Bovendien maakt de tafel 360 graden elektrische rotatie mogelijk, wat de geautomatiseerde mogelijkheden van het systeem verbetert.

Met een verstelbare luchtspleet variërend van 0-80 mm, is de PS1DX-MS geschikt voor verschillende monstergroottes en configuraties, waardoor het een veelzijdig hulpmiddel is voor verschillende testsituaties. De integratie van bronmeters zoals SR830, N5173B, Keithley 6221 en Keithley 2182A zorgt voor precieze controle en meting van elektrische parameters tijdens het testen.

Producttoepassingsgelegenheden en -scenario's:

• Karakterisering van halfgeleiderapparaten met in-plane magnetische veldvereisten
• Geautomatiseerde testprocessen in laboratoria voor onderzoek en ontwikkeling van halfgeleiders
• Precisie metingen van magnetische velduniformiteit in halfgeleidermaterialen
• Analyse van magnetische eigenschappen in dunne films en nanostructuren
• Evaluatie van magnetische veldeffecten op elektronische componenten