
Kryogene Kerr-Mikroskop für hohe Magnetfelder - Laser-Kerr-Abbildungssystem
Kryogenes Kerr-Mikroskop
,Kerr-Abbildungssystem für hohe Magnetfelder
,Laser-Kerr-Abbildungssystem
Grundlegende Eigenschaften
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Entwickelt für den schwachen Magnetismus, die geringe Größe, die nicht leitfähige Natur, das geringe Zwangsfeld und die niedrige Curie-Temperatur von zweidimensionalen ferromagnetischen Materialien,Dieses leistungsstarke Charakterisierungssystem verfügt über eine hohe magnetische Detektionspräzision., hochpräzise Mikroregion-Punktmessung und Positionierung starker Magnetfelder und großer Temperaturschwankungen,für die Erfüllung der meisten Anforderungen an die magnetische Charakterisierung von zweidimensionalen ferromagnetischen Materialien.
Leistungsindikator der Ausrüstung | Beschreibung |
---|---|
Optische Auflösung | 450 nm |
Ziele | 5*, 20*, 50*, 100*, nicht magnetisch |
Auflösung des Kerr-Winkels | 0.5 mdeg (RMS) |
Laserspitze | 5 μm |
Magnetfeld im Flugzeug | Wassergekühlter Magnet, 1 T@Luftlücke 18 mm bei Raumtemperatur; 0,75 T@Luftlücke 28 mm bei niedriger Temperatur |
Vertikalmagnetfeld | Wassergekühlter Magnet, 1,6 T@Luftöffnung 10,5 mm bei Raumtemperatur; 1 T@Luftöffnung 24 mm bei niedriger Temperatur |
Auflösung des Magnetfeldes | PID-Rückkopplungsregelung in geschlossener Schleife, Auflösung 0,05 mT |
Variabler Temperaturbereich | 4.2 K - 420 K |
Temperaturstabilität | ±50 mK |
Elektroquellenzähler | SR830, Keithley 6221, Keithley 2182 A |
Prüffunktionen | Unter Umgebungs- und Niedertemperaturbedingungen kann es dynamische Beobachtungen im magnetischen Bereich durchführen, quantitative Laser-Mikroregion-Hysterese-Schleife scannen, elektrische Transportprüfungen,und zweite harmonische Prüfung. |
Erweiterung | Kann mit kombiniertem Pumpenlicht, Raman und anderen Lichtquellen erweitert werden. |


- Temperatur 4,5 K, Vergrößerung 50* Beobachtung Magnetfeldumkehrung, Laser Kerr Winkel

- CrTe 2D-Material: Prüfbedingungen: Temperatur 100 K, 50* Objektiv, polarisiertes Licht, klarer Bilddifferenzkontrast bei Umkehrung der Magnetfläche.
- FG 2D-Material: Prüfbedingungen 5 K Temperatur, 50* Objektiv, polarisiertes Licht, 2800 mT Magnetfeld, klare Bildgebung.