English
Français
Deutsch
Italiano
Русский
Español
Português
Nederlandse
日本語
한국
Polski
فارسی
বাংলা
ไทย
Tiếng Việt
العربية
हिन्दी
Türkçe
Indonesia
Κρυογενές μικροσκόπιο Κερ υψηλού μαγνητικού πεδίου Laser Kerr Imaging System
Σύστημα Μικροαπεικόνισης Kerr Laser Κρυογονικού Υψηλού Μαγνητικού Πεδίου Εισαγωγή Προϊόντος Αναπτύχθηκε για τον ασθενή μαγνητισμό, το μικρό μέγεθος, τη μη αγώγιμη φύση, το χαμηλό πεδίο καταναγκασμού και τη χαμηλή θερμοκρασία Curie των δισδιάστατων σιδηρομαγνητικών υλικών, αυτό το ισχυρό σύστημα χαρα...
Λεπτομέρειες προιόντος
Επισημαίνω:
Κρυογενικό Μικροσκόπιο Kerr
,Σύστημα απεικόνισης Kerr υψηλού μαγνητικού πεδίου
,Σύστημα απεικόνισης λέιζερ Κερ
Optical Resolution:
450 nm
Electrical Source Meterc:
SR830, Keithley 6221, Keithley 2182 α
Vertical Magnetic Field:
Μαγνητής με ψύξη νερού, 1,6 T@Air Gap 10,5 mm σε θερμοκρασία δωματίου. 1 T@Air Gap 24 mm σε χαμηλή θ
Kerr Angle Resolution:
0,5 MDEG (RMS)
Temperature Stability:
± 50 mK
Variable Temperature Range:
4.2 k - 420 k
Objectives:
5 ×, 20 ×, 50 ×, 100 ×, μη μαγνητική
In-Plane Magnetic Field:
Μαγνητής με ψύξη νερού, 1 T@Air Gap 18 mm σε θερμοκρασία δωματίου. 0,75 T@Air Gap 28 mm σε χαμηλή θε
Βασικές ιδιότητες
Τόπος προέλευσης:
ΚΙΝΑ
Ονομασία μάρκας:
Truth Instruments
Αριθμός μοντέλου:
Kmpl-l
Εμπορικά Ακίνητα
Τιμή:
Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
Όροι πληρωμής:
T/t
Περιγραφή προϊόντων
Σύστημα Μικροαπεικόνισης Kerr Laser Κρυογονικού Υψηλού Μαγνητικού Πεδίου
Εισαγωγή Προϊόντος
Αναπτύχθηκε για τον ασθενή μαγνητισμό, το μικρό μέγεθος, τη μη αγώγιμη φύση, το χαμηλό πεδίο καταναγκασμού και τη χαμηλή θερμοκρασία Curie των δισδιάστατων σιδηρομαγνητικών υλικών, αυτό το ισχυρό σύστημα χαρακτηρισμού διαθέτει υψηλή ακρίβεια ανίχνευσης μαγνητισμού, υψηλής ακρίβειας, μέτρηση και τοποθέτηση σημείων μικροπεριοχής, ισχυρά μαγνητικά πεδία και μεγάλη μεταβολή θερμοκρασίας, καλύπτοντας τις περισσότερες από τις ανάγκες μαγνητικού χαρακτηρισμού για δισδιάστατα σιδηρομαγνητικά υλικά.
Απόδοση Εξοπλισμού
| Δείκτης Απόδοσης Εξοπλισμού | Περιγραφή |
|---|---|
| Οπτική Ανάλυση | 450 nm |
| Στόχοι | 5*, 20*, 50*, 100*, μη μαγνητικοί |
| Ανάλυση Γωνίας Kerr | 0.5 mdeg (RMS) |
| Σημείο Laser | 5 μm |
| Μαγνητικό Πεδίο Επίπεδο | Μαγνήτης με υδρόψυξη, 1 T@air gap 18 mm σε θερμοκρασία δωματίου; 0.75 T@air gap 28 mm σε χαμηλή θερμοκρασία |
| Κάθετο Μαγνητικό Πεδίο | Μαγνήτης με υδρόψυξη, 1.6 T@air gap 10.5 mm σε θερμοκρασία δωματίου; 1 T@air gap 24 mm σε χαμηλή θερμοκρασία |
| Ανάλυση Μαγνητικού Πεδίου | Ρύθμιση ανάδρασης κλειστού βρόχου PID, ανάλυση 0.05 mT |
| Εύρος Μεταβλητής Θερμοκρασίας | 4.2 K - 420 K |
| Σταθερότητα Θερμοκρασίας | ±50 mK |
| Μέτρο Ηλεκτρικής Πηγής | SR830, Keithley 6221, Keithley 2182 A |
| Λειτουργίες Δοκιμών | Υπό συνθήκες περιβάλλοντος και χαμηλής θερμοκρασίας, μπορεί να εκτελέσει δυναμική παρατήρηση μαγνητικού τομέα, σάρωση βρόχου υστέρησης μικροπεριοχής ποσοτικού λέιζερ, δοκιμή ηλεκτρικής μεταφοράς και δοκιμή δεύτερης αρμονικής. |
| Επέκταση | Μπορεί να επεκταθεί με συζευγμένο φως άντλησης, Raman και άλλες πηγές φωτός. |
Περιπτώσεις Εφαρμογής
- Θερμοκρασία 4.5 K, 50* Μεγέθυνση Παρατήρηση Αντιστροφής Μαγνητικού Τομέα, Γωνία Kerr Laser
- CrTe 2D Material: Συνθήκες δοκιμής — θερμοκρασία 100 K, στόχος 50*, πολωμένο φως, καθαρή αντίθεση διαφορικής εικόνας κατά την αντιστροφή μαγνητικού τομέα.
- FG 2D Material: Συνθήκες δοκιμής — θερμοκρασία 5 K, στόχος 50*, πολωμένο φως, μαγνητικό πεδίο 2800 mT που εφαρμόζεται, καθαρή απεικόνιση.
Στείλε Ερευνά
