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उच्च एकीकृत क्रायोजेनिक जांच स्टेशन 4 K - 420 K निम्न तापमान जांच स्टेशन
क्रायोजेनिक प्रोब स्टेशन उत्पाद परिचय PS-Cryo क्लोज्ड-लूप 4 K क्रायोजेनिक प्रोब स्टेशन एक GM रेफ्रिजरेशन तंत्र का उपयोग करता है, जिसमें उपभोग्य तरल हीलियम की आवश्यकता नहीं होती है, जो 4 K तक का निम्न-तापमान वातावरण प्रदान करता है। यह 2-इंच के नमूनों को समायोजित कर सकता है और मानक I-V, C-V, माइक्रोवे...
उत्पाद का विवरण
प्रमुखता देना:
उच्च एकीकृत क्रायोजेनिक जांच स्टेशन
,क्रायोजेनिक जांच स्टेशन 4 K
,420 K निम्न तापमान जांच स्टेशन
Name:
क्रायोजेनिक जांच स्टेशन
Sample Temperature:
4 K-420 K
Thermal Anchor:
जांच हथियार और नमूना चरण तापमान अंतर <10 k
Vibration:
नमूना चरण कंपन <1 μM (पीक-टू-पीक)
Sample Space:
नमूना धारक व्यास 51 मिमी तक
Probe Arm Stroke:
XYZ, 50 मिमी -25 मिमी -25 मिमी
Temperature Stability:
<± 20 mK (4 K-420 K)
Needing Range:
25 मिमी व्यास के भीतर कोई भी बिंदु
Number Of Probe Arms:
मानक 4 जांच हथियार, 8 समर्थित तक
मूल गुण
उत्पत्ति का स्थान:
चीन
ब्रांड नाम:
Truth Instruments
मॉडल संख्या:
पीएस-क्रियो
व्यापारिक संपत्तियाँ
कीमत:
Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
भुगतान की शर्तें:
टी/टी
उत्पाद का वर्णन
क्रायोजेनिक प्रोब स्टेशन
उत्पाद परिचय
PS-Cryo क्लोज्ड-लूप 4 K क्रायोजेनिक प्रोब स्टेशन एक GM रेफ्रिजरेशन तंत्र का उपयोग करता है, जिसमें उपभोग्य तरल हीलियम की आवश्यकता नहीं होती है, जो 4 K तक का निम्न-तापमान वातावरण प्रदान करता है। यह 2-इंच के नमूनों को समायोजित कर सकता है और मानक I-V, C-V, माइक्रोवेव और ऑप्टोइलेक्ट्रॉनिक परीक्षण आवश्यकताओं को पूरा करता है। अत्यधिक एकीकृत और व्यवस्थित, सॉफ्टवेयर ऑपरेशन एक-क्लिक तापमान नियंत्रण और विद्युत परीक्षण की अनुमति देता है, जो इसे क्रायोजेनिक विद्युत परीक्षण के लिए सबसे अधिक लागत प्रभावी विकल्प बनाता है।
उपकरण प्रदर्शन
| उपकरण प्रदर्शन संकेतक | विवरण |
|---|---|
| नमूना तापमान | 4 K-420 K |
| तापमान स्थिरता | <±20 mK (4 K-420 K) |
| कंपन | नमूना स्टेज कंपन<1 μm (पीक-टू-पीक) |
| वैक्यूम | निम्न-तापमान वैक्यूम<1.2E-3Pa |
| प्रोब आर्म स्ट्रोक | X-Y-Z, 50 mm-25 mm-25 mm |
| आवश्यक रेंज | 25 मिमी व्यास के भीतर कोई भी बिंदु |
| प्रोब आर्म्स की संख्या | मानक 4 प्रोब आर्म्स, अधिकतम 8 समर्थित |
| थर्मल एंकर | प्रोब आर्म्स और नमूना स्टेज तापमान अंतर<10 K |
| नमूना स्थान | नमूना धारक व्यास 51 मिमी तक |
| नमूना धारक प्रकार | ग्राउंड, कोएक्सियल, ट्राइएक्सियल विकल्प |
| डीसी प्रोब | ZN50, टिप सामग्री टंगस्टन या बेरिलियम कॉपर |
| आवृत्ति रेंज | निम्न-तापमान कोएक्सियल केबल के साथ 0-50 मेगाहर्ट्ज, अर्ध-कठोर कोएक्सियल केबल के साथ 0-1 गीगाहर्ट्ज |
| माइक्रोवेव प्रोब | GSG, टिप सामग्री टंगस्टन |
| आवृत्ति रेंज | K-प्रकार कनेक्टर के साथ 0-40 GHz, 1.85 मिमी कनेक्टर के साथ 0-67 GHz |
| विद्युत रिसाव धारा | <100 fA@1 V |
| ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप | 0.75 X-3.75 X निरंतर ज़ूम |
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