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Hochintegrierte Kryo-Probestation 4 K - 420 K Tieftemperatur-Probestation
Cryogenic Probe Station Product Introduction The PS-Cryo closed-loop 4 K cryogenic probe station uses a GM refrigeration mechanism, requiring no consumable liquid helium, providing a low-temperature environment down to 4 K. It can accommodate 2-inch samples and meets standard I-V, C-V, microwave, and optoelectronic testing needs. Highly integrated and systematized, software operation allows one-click temperature control and electrical testing, making it the most cost
Produktdetails
Hervorheben:
Hochintegrierte Kryo-Probestation
,Kryo-Probestation 4 K
,420 K Tieftemperatur-Probestation
Name:
Kryogene Sondenstation
Sample Temperature:
4 k-420 k
Thermal Anchor:
Sondenarme und Probenstadentemperaturdifferenz <10 K
Vibration:
Probenstadiumschwingung <1 μm (Peak-to-Peak)
Sample Space:
Probenhalterdurchmesser bis zu 51 mm
Probe Arm Stroke:
XYZ, 50 mm-25 mm-25 mm
Temperature Stability:
<± 20 mk (4 k-420 K)
Needing Range:
Jeder Punkt innerhalb von 25 mm Durchmesser
Number Of Probe Arms:
Standard 4 Sondenarme, bis zu 8 unterstützt
Grundlegende Eigenschaften
Herkunftsort:
CHINA
Markenbezeichnung:
Truth Instruments
Modellnummer:
PS-Cryo
Immobilienhandel
Preis:
Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
Zahlungsbedingungen:
T/t
Produkt-Beschreibung
Kryogene Probestation
Produkteinführung
Die PS-Cryo Closed-Loop 4 K kryogene Probestation verwendet einen GM-Kältemechanismus, der kein verbrauchbares flüssiges Helium benötigt und eine Tieftemperaturumgebung bis zu 4 K bietet. Sie kann 2-Zoll-Proben aufnehmen und erfüllt die Standardanforderungen für I-V-, C-V-, Mikrowellen- und optoelektronische Tests. Hochintegriert und systematisiert, ermöglicht die Softwarebedienung die Temperaturregelung und elektrische Tests mit einem Klick, was sie zur kostengünstigsten Wahl für kryogene elektrische Tests macht.
Geräteleistung
| Geräteleistungsindikatoren | Beschreibung |
|---|---|
| Probentemperatur | 4 K-420 K |
| Temperaturstabilität | <±20 mK (4 K-420 K) |
| Vibration | Vibration des Probentisches<1 μm (Peak-to-Peak) |
| Vakuum | Tieftemperaturvakuum<1.2E-3Pa |
| Hub des Probenarms | X-Y-Z, 50 mm-25 mm-25 mm |
| Benötigter Bereich | Jeder Punkt innerhalb von 25 mm Durchmesser |
| Anzahl der Probenarme | Standard 4 Probenarme, bis zu 8 unterstützt |
| Wärmeanker | Temperaturunterschied zwischen Probenarmen und Probentisch<10 K |
| Probenraum | Probenhalterdurchmesser bis zu 51 mm |
| Probenhaltertyp | Masse, koaxial, triaxial Optionen |
| DC-Sonde | ZN50, Spitzenmaterial Wolfram oder Berylliumkupfer |
| Frequenzbereich | 0-50 MHz mit Tieftemperatur-Koaxialkabel, 0-1 GHz mit halbstarrem Koaxialkabel |
| Mikrowellensonde | GSG, Spitzenmaterial Wolfram |
| Frequenzbereich | 0-40 GHz mit K-Typ-Anschluss, 0-67 GHz mit 1,85 mm Anschluss |
| Elektrischer Leckstrom | <100 fA@1 V |
| Optisches Mikroskop | 0,75 X-3,75 X kontinuierlicher Zoom |
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