English
Français
Deutsch
Italiano
Русский
Español
Português
Nederlandse
Ελληνικά
日本語
한국
Polski
فارسی
বাংলা
ไทย
Tiếng Việt
العربية
हिन्दी
Bahasa Indonesia
Yüksek derecede entegre kriyojenik prob istasyonu 4 K - 420 K düşük sıcaklıklı prob istasyonu
Cryogenic Probe Station Product Introduction The PS-Cryo closed-loop 4 K cryogenic probe station uses a GM refrigeration mechanism, requiring no consumable liquid helium, providing a low-temperature environment down to 4 K. It can accommodate 2-inch samples and meets standard I-V, C-V, microwave, and optoelectronic testing needs. Highly integrated and systematized, software operation allows one-click temperature control and electrical testing, making it the most cost
Ürün Ayrıntıları
Vurgulamak:
Yüksek derecede entegre kriyojenik prob istasyonu
,Kriyojenik Sonda İstasyonu 4 K.
,420 K Düşük Sıcaklıklı Sonda İstasyonu
Name:
Kriyojenik prob istasyonu
Sample Temperature:
4 K-420 K
Thermal Anchor:
Prob kolları ve örnek aşama sıcaklık farkı <10 k
Vibration:
Numune aşaması titreşimi <1 μm (tepeden zirveye)
Sample Space:
51 mm'ye kadar örnek tutucu çapı
Probe Arm Stroke:
Xyz, 50 mm-25 mm-25 mm
Temperature Stability:
<± 20 mk (4 K-420 K)
Needing Range:
25 mm çapında herhangi bir nokta
Number Of Probe Arms:
Standart 4 prob kolu, 8'e kadar desteklenen
Temel özellikler
Menşe yeri:
ÇİN
Marka Adı:
Truth Instruments
Model Numarası:
PS-Kriyo
Ticaret Mülkleri
Fiyat:
Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
Ödeme Şartları:
T/T
Ürün Tanımı
Kriyojenik Prob İstasyonu
Ürün Tanıtımı
PS-Cryo kapalı döngü 4 K kriyojenik prob istasyonu, GM soğutma mekanizması kullanır, sarf edilebilir sıvı helyum gerektirmez ve 4 K'ye kadar düşük sıcaklık ortamı sağlar. 2 inçlik numuneleri barındırabilir ve standart I-V, C-V, mikrodalga ve optoelektronik test ihtiyaçlarını karşılar. Yüksek derecede entegre ve sistematize edilmiş, yazılım operasyonu tek tıklamayla sıcaklık kontrolü ve elektriksel test imkanı sunar, bu da onu kriyojenik elektriksel test için en uygun maliyetli seçenek haline getirir.
Ekipman Performansı
| Ekipman Performans Göstergesi | Açıklama |
|---|---|
| Numune Sıcaklığı | 4 K-420 K |
| Sıcaklık Kararlılığı | <±20 mK (4 K-420 K) |
| Titreşim | Numune tablası titreşimi<1 μm (tepeden tepeye) |
| Vakum | Düşük sıcaklık vakumu<1.2E-3Pa |
| Prob Kolu Hareketi | X-Y-Z, 50 mm-25 mm-25 mm |
| Gerekli Aralık | 25 mm çap içindeki herhangi bir nokta |
| Prob Kolu Sayısı | Standart 4 prob kolu, 8'e kadar desteklenir |
| Termal Çapa | Prob kolları ve numune tablası sıcaklık farkı<10 K |
| Numune Alanı | Numune tutucu çapı 51 mm'ye kadar |
| Numune Tutucu Tipi | Toprak, koaksiyel, triaksiyel seçenekler |
| DC Probu | ZN50, uç malzemesi tungsten veya berilyum bakır |
| Frekans Aralığı | Düşük sıcaklıklı koaksiyel kablo ile 0-50 MHz, yarı sert koaksiyel kablo ile 0-1 GHz |
| Mikrodalga Probu | GSG, uç malzemesi tungsten |
| Frekans Aralığı | K-tipi konektör ile 0-40 GHz, 1.85 mm konektör ile 0-67 GHz |
| Elektriksel Kaçak Akım | <100 fA@1 V |
| Optik Mikroskop | 0.75 X-3.75 X sürekli zoom |
Soru Gönder
