English
Français
Deutsch
Italiano
Русский
Español
Português
Nederlandse
Ελληνικά
日本語
한국
فارسی
বাংলা
ไทย
Tiếng Việt
العربية
हिन्दी
Türkçe
Bahasa Indonesia
Wysoko zintegrowana stacja sondy kriogenicznej 4 K - 420 K stacja sondy niskotemperaturowej
Cryogenic Probe Station Product Introduction The PS-Cryo closed-loop 4 K cryogenic probe station uses a GM refrigeration mechanism, requiring no consumable liquid helium, providing a low-temperature environment down to 4 K. It can accommodate 2-inch samples and meets standard I-V, C-V, microwave, and optoelectronic testing needs. Highly integrated and systematized, software operation allows one-click temperature control and electrical testing, making it the most cost
Szczegóły produktu
Podkreślić:
Wysoce zintegrowana stacja sondy kriogenicznej
,Stacja Kryogenicznej Sondu 4 K
,Stacja badawcza o niskiej temperaturze 420 K
Name:
Kryogeniczna stacja sondy
Sample Temperature:
4 K-420 k
Thermal Anchor:
Ramiona ramion sondy i stadium próbki Różnica temperatur <10 K
Vibration:
Wibracja stadium próbki <1 μm (szczytowy do szczytu)
Sample Space:
Średnica uchwytu próbki do 51 mm
Probe Arm Stroke:
XYZ, 50 mm-25 mm-25 mm
Temperature Stability:
<± 20 mk (4 K-420 K)
Needing Range:
Dowolny punkt o średnicy 25 mm
Number Of Probe Arms:
Standard 4 ramiona sondy, do 8 obsługiwanych
Podstawowe właściwości
Miejsce pochodzenia:
CHINY
Nazwa marki:
Truth Instruments
Numer modelu:
PS-Cryo
Nieruchomości handlowe
Cena £:
Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
Warunki płatności:
T/t
Opis produktu
Kriogeniczna stacja pomiarowa
Wprowadzenie do produktu
Stacja pomiarowa PS-Cryo z zamkniętą pętlą 4 K wykorzystuje mechanizm chłodzenia GM, nie wymagając ciekłego helu, zapewniając środowisko niskotemperaturowe do 4 K. Może pomieścić próbki o średnicy 2 cali i spełnia standardowe wymagania testowe I-V, C-V, mikrofalowe i optoelektroniczne. Wysoce zintegrowana i usystematyzowana, obsługa oprogramowania umożliwia kontrolę temperatury i testy elektryczne jednym kliknięciem, co czyni ją najbardziej opłacalnym wyborem do kriogenicznych testów elektrycznych.
Wydajność sprzętu
| Wskaźnik wydajności sprzętu | Opis |
|---|---|
| Temperatura próbki | 4 K-420 K |
| Stabilność temperatury | <±20 mK (4 K-420 K) |
| Wibracje | Wibracje stolika próbki<1 μm (peak-to-peak) |
| Próżnia | Próżnia niskotemperaturowa<1.2E-3Pa |
| Skok ramienia sondy | X-Y-Z, 50 mm-25 mm-25 mm |
| Potrzebny zakres | Dowolny punkt w obrębie średnicy 25 mm |
| Liczba ramion sondy | Standardowo 4 ramiona sondy, obsługiwane do 8 |
| Kotwica termiczna | Różnica temperatur ramion sondy i stolika próbki<10 K |
| Przestrzeń próbki | Średnica uchwytu próbki do 51 mm |
| Typ uchwytu próbki | Opcje uziemienia, współosiowe, trójosiowe |
| Sonda DC | ZN50, materiał końcówki wolfram lub miedź berylowa |
| Zakres częstotliwości | 0-50 MHz z niskotemperaturowym kablem współosiowym, 0-1 GHz z półsztywnym kablem współosiowym |
| Sonda mikrofalowa | GSG, materiał końcówki wolfram |
| Zakres częstotliwości | 0-40 GHz ze złączem typu K, 0-67 GHz ze złączem 1,85 mm |
| Prąd upływu elektrycznego | <100 fA@1 V |
| Mikroskop optyczny | 0,75 X-3,75 X ciągły zoom |
Wyślij zapytanie
