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原子力顕微鏡

品質 エレクトロニクス,バイオマテリアル,精密研究アプリケーションのための柔軟な3Dスキャン 工場

エレクトロニクス,バイオマテリアル,精密研究アプリケーションのための柔軟な3Dスキャン

Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a state-of-the-art instrument designed to provide unparalleled precision and versatility in surface property mapping at the nanoscale. Engineered to meet the demanding requirements of advanced research and industrial applications, this AFM offers a comprehensive suite of features that make it an indispensable tool for scientists and engineers working with semiconductors, magnetic materials, and a variety of other

エレクトロニクス,バイオマテリアル,精密研究アプリケーションのための柔軟な3Dスキャン

品質 ターゲットを絞った科学研究のための多機能測定(MFM/EFM) 工場

ターゲットを絞った科学研究のための多機能測定(MFM/EFM)

Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a highly advanced instrument designed for multifunctional measurement, offering unparalleled versatility and precision in nanoscale imaging and analysis. This state-of-the-art AFM integrates a variety of measurement modes, including Electrostatic Force Microscope (EFM), Scanning Kelvin Probe Force Microscope (KPFM), Piezoelectric Force Microscope (PFM), Magnetic Force Microscope (MFM), and Force Curve analysis, making

ターゲットを絞った科学研究のための多機能測定(MFM/EFM)

品質 オールインワン検出プラットフォーム 材料科学のためのカスタムモジュールと多力顕微鏡 工場

オールインワン検出プラットフォーム 材料科学のためのカスタムモジュールと多力顕微鏡

Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a cutting-edge nanoscale characterization platform designed to provide unparalleled precision and versatility in surface analysis. With a sample size capacity of up to 25 mm, this instrument is ideal for investigating a wide range of materials and structures at the nanoscale, making it an essential tool for researchers and engineers across various scientific disciplines. One of the standout features of this AFM is its

オールインワン検出プラットフォーム 材料科学のためのカスタムモジュールと多力顕微鏡

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カー顕微鏡

品質 低温高磁場カー顕微鏡 レーザーMOKE顕微鏡 微小領域イメージング用 工場

低温高磁場カー顕微鏡 レーザーMOKE顕微鏡 微小領域イメージング用

Low Temp High Field Laser Kerr Microscope For Micro Region Imaging Product Description: The Hysteresis Loop Measurement Instrument for Scientific Research is a cutting-edge tool designed for precise magnetization measurements in scientific research applications. This advanced instrument offers a range of features that make it ideal for studying magnetic properties with high accuracy and reliability. One of the key attributes of this instrument is its capability to measure In

低温高磁場カー顕微鏡 レーザーMOKE顕微鏡 微小領域イメージング用

品質 高感度MOKEシステム ヒステレシスループ測定器 弱磁気と2次元材料研究 工場

高感度MOKEシステム ヒステレシスループ測定器 弱磁気と2次元材料研究

High Sensitivity MOKE for Weak Magnetism and 2D Material Study Product Description: The Hysteresis Loop Measurement Instrument for Scientific Research is a cutting-edge tool specifically designed for the characterization of weak magnetic materials. This advanced system offers unparalleled Magnetic Field Resolution through PID Closed-loop Feedback Regulation, with an impressive resolution of 0.02 MT. This level of precision enables researchers to explore the intricate magnetic

高感度MOKEシステム ヒステレシスループ測定器 弱磁気と2次元材料研究

品質 極低温MOKEカー顕微鏡ヒステリシスループ測定装置 2次元強磁性体材料分析用 工場

極低温MOKEカー顕微鏡ヒステリシスループ測定装置 2次元強磁性体材料分析用

Cryogenic Kerr Microscope For 2D Ferromagnetic Material Analysis Product Description: The Hysteresis Loop Measurement Instrument for Scientific Research is a cutting-edge tool designed to provide high sensitivity and precise measurement capabilities for magnetic domain imaging and magnetization measurement in scientific research applications. Key features of this instrument include: Kerr Angle Resolution: Achieving a remarkable 0.3 Mdeg (RMS) Kerr angle resolution, ensuring

極低温MOKEカー顕微鏡ヒステリシスループ測定装置 2次元強磁性体材料分析用

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極低温プローブステーション

品質 精密極低温プローブステーション IV CV マイクロ波および光学試験用多用途光学プローブステーション 工場

精密極低温プローブステーション IV CV マイクロ波および光学試験用多用途光学プローブステーション

Cryogenic Probe Station For IV CV Microwave And Optical Testing Product Description: Introducing our cutting-edge Cryogenic Probe Station, a revolutionary solution designed for precise and efficient testing in a wide range of applications. This advanced system offers unparalleled performance and versatility, making it an ideal choice for researchers and engineers seeking a cost-effective and reliable testing solution. The Cryogenic Probe Station features a Probe Arm Stroke of

精密極低温プローブステーション IV CV マイクロ波および光学試験用多用途光学プローブステーション

品質 4K 閉ループ半導体探査ステーション 2 インチ・ウェーバー試験用真空・ウェーバー探査ステーション 工場

4K 閉ループ半導体探査ステーション 2 インチ・ウェーバー試験用真空・ウェーバー探査ステーション

4K Closed Loop Cryogenic Probe Station For 2 Inch Wafer Testing Product Description: The Cryogenic Probe Station is an essential tool for researchers and scientists working in the field of low-temperature measurements. This advanced equipment is designed to provide precise control over the thermal environment during experiments, ensuring accurate and reliable results. With its innovative features and high-performance capabilities, the Cryogenic Probe Station is ideal for a

4K 閉ループ半導体探査ステーション 2 インチ・ウェーバー試験用真空・ウェーバー探査ステーション

品質 真空極低温プローブステーション 電気試験 自動プローブステーション 工場

真空極低温プローブステーション 電気試験 自動プローブステーション

Cost Effective Cryo Probe Station For Automated Electrical Testing Product Description: The Cryogenic Probe Station is an essential tool for cryogenic device characterization, providing a cost-effective solution for researchers and engineers in various industries. This closed-cycle probe station offers precise control and stability for conducting experiments at low temperatures. Key Features: Vacuum: The Cryogenic Probe Station boasts a low-temperature vacuum level of

真空極低温プローブステーション 電気試験 自動プローブステーション

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