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Microscope à force atomique

Qualité Scanner 3D flexible pour les applications électroniques, biomatériaux et de recherche de précision usine

Scanner 3D flexible pour les applications électroniques, biomatériaux et de recherche de précision

Description du produit : Le microscope à force atomique (AFM) est un instrument de pointe conçu pour offrir une précision et une polyvalence inégalées dans la cartographie des propriétés de surface à l'échelle nanométrique. Conçu pour répondre aux exigences des applications industrielles et de ...

Scanner 3D flexible pour les applications électroniques, biomatériaux et de recherche de précision

Qualité Mesure Multifonctionnelle (MFM/EFM) pour des Études Scientifiques Ciblées usine

Mesure Multifonctionnelle (MFM/EFM) pour des Études Scientifiques Ciblées

Description du produit:Le microscope à force atomique (AFM) est un instrument hautement avancé conçu pour la mesure multifonctionnelle, offrant une polyvalence et une précision inégalées dans l'imagerie et l'analyse à l'échelle nanométrique.Cet AFM de pointe intègre une variété de modes de mesure, y ...

Mesure Multifonctionnelle (MFM/EFM) pour des Études Scientifiques Ciblées

Qualité Plateforme de détection tout-en-un – Modules personnalisés et microscopie multi-forces pour la science des matériaux usine

Plateforme de détection tout-en-un – Modules personnalisés et microscopie multi-forces pour la science des matériaux

Description du produit:Le microscope à force atomique (AFM) est une plateforme de caractérisation à l'échelle nanométrique de pointe conçue pour fournir une précision et une polyvalence inégalées dans l'analyse de surface.d'une capacité de taille d'échantillon maximale de 25 mm, cet instrument est ...

Plateforme de détection tout-en-un – Modules personnalisés et microscopie multi-forces pour la science des matériaux

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Microscope Kerr

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