logo

Microscopio Kerr

Calidad Microscopio Magnetoóptico Kerr 250Nm Microscopio de prueba de rotación para la caracterización integral del material fábrica

Microscopio Magnetoóptico Kerr 250Nm Microscopio de prueba de rotación para la caracterización integral del material

SpinTest MagnetoOptic Kerr Microscope For Comprehensive Material Characterization Product Description: The Multifunctional Spin-Test Magneto-Optic Kerr Microscope is an essential tool for researchers and scientists working with magnetic thin films in the field of spintronics. This advanced MOKE microscope offers a wide range of capabilities to support precise measurements and analysis of magnetic properties. With objectives ranging from 5x to 100x, including non-magnetic

Microscopio Magnetoóptico Kerr 250Nm Microscopio de prueba de rotación para la caracterización integral del material

Calidad Instrumento de medición de bucle de histéresis MOKE Instrumento de medición magnética MOKE Miniatura fábrica

Instrumento de medición de bucle de histéresis MOKE Instrumento de medición magnética MOKE Miniatura

Miniature Hysteresis Loop Measurement Instrument Product Introduction The MINIMOKE miniature MOKE magnetic measurement instrument uses the magneto-optical Kerr effect to measure hysteresis loops, offering advantages such as speed, precision, non-contact, and non-destructive (no additional sample processing required). It provides information on coercive force, saturation magnetic field, and remanence of magnetic materials. Lightweight, compact, easy to operate, and fast

Instrumento de medición de bucle de histéresis MOKE Instrumento de medición magnética MOKE Miniatura

Calidad Sistema de medición no destructivo de la oblea con instrumento de bucle de histeresis de nivel de oblea fábrica

Sistema de medición no destructivo de la oblea con instrumento de bucle de histeresis de nivel de oblea

Wafer-Level Hysteresis Loop Measurement Instrument Product Introduction Using polar/longitudinal magneto-optical Kerr effects (MOKE), this instrument rapidly and globally detects the magnetism of wafer films. Non-contact measurement avoids wafer damage and is suitable for post-patterning sample testing in spin chip production. It provides a vertical magnetic field of up to 2.5 T and an in-plane magnetic field of up to 1.4 T, with strong magnetic fields inducing free and

Sistema de medición no destructivo de la oblea con instrumento de bucle de histeresis de nivel de oblea

Visión más

Estación de sonda criogénica

Visión más