logo

Μικροσκόπιο Kerr

Ποιότητα Μικροσκόπιο Kerr 0.5 Mdeg Ακριβείας Κρυογονικό Μικροσκόπιο για Ανάλυση 2D Σιδηρομαγνητικού Υλικού εργοστάσιο

Μικροσκόπιο Kerr 0.5 Mdeg Ακριβείας Κρυογονικό Μικροσκόπιο για Ανάλυση 2D Σιδηρομαγνητικού Υλικού

Cryogenic Kerr Microscope For 2D Ferromagnetic Material Analysis Product Description: The Cryogenic High-Magnetic-Field Laser Kerr Microimaging System is a cutting-edge scientific instrument designed for researchers and scientists working in the field of Low Temperature Magneto-Optics. This advanced system offers unparalleled capabilities for Micro-region Kerr measurement and Magnetization measurement, making it an essential tool for studying magnetic materials at the

Ποιότητα Σύστημα Cryo MOKE Επιστημονική Έρευνα Όργανα μέτρησης για μαγνητική απεικόνιση εργοστάσιο

Σύστημα Cryo MOKE Επιστημονική Έρευνα Όργανα μέτρησης για μαγνητική απεικόνιση

Cryo MOKE System For Magnetization Imaging Of Spintronic Materials Product Description: The Hysteresis Loop Measurement Instrument for Scientific Research is a cutting-edge tool designed for precise and convenient in-plane and vertical magnetic field measurements. This instrument is an essential component of any Cryogenic Magnetic Imaging System and 2D Material Characterization System, providing researchers with valuable data for their scientific experiments. With an in-plane

Ποιότητα Κρυογενικό Μικροσκόπιο MOKE Kerr για Μέτρηση Βρόχου Υστέρησης για Ανάλυση Δισδιάστατων Σιδηρομαγνητικών Υλικών εργοστάσιο

Κρυογενικό Μικροσκόπιο MOKE Kerr για Μέτρηση Βρόχου Υστέρησης για Ανάλυση Δισδιάστατων Σιδηρομαγνητικών Υλικών

Cryogenic Kerr Microscope For 2D Ferromagnetic Material Analysis Product Description: The Hysteresis Loop Measurement Instrument for Scientific Research is a cutting-edge tool designed to provide high sensitivity and precise measurement capabilities for magnetic domain imaging and magnetization measurement in scientific research applications. Key features of this instrument include: Kerr Angle Resolution: Achieving a remarkable 0.3 Mdeg (RMS) Kerr angle resolution, ensuring

Ποιότητα Σύστημα υψηλής ευαισθησίας MOKE Υστερέζης Μέτρηση βρόχου για αδύναμο μαγνητισμό και μελέτη 2D υλικών εργοστάσιο

Σύστημα υψηλής ευαισθησίας MOKE Υστερέζης Μέτρηση βρόχου για αδύναμο μαγνητισμό και μελέτη 2D υλικών

High Sensitivity MOKE for Weak Magnetism and 2D Material Study Product Description: The Hysteresis Loop Measurement Instrument for Scientific Research is a cutting-edge tool specifically designed for the characterization of weak magnetic materials. This advanced system offers unparalleled Magnetic Field Resolution through PID Closed-loop Feedback Regulation, with an impressive resolution of 0.02 MT. This level of precision enables researchers to explore the intricate magnetic

Ποιότητα Μικροσκόπιο Kerr Laser MOKE Χαμηλής Θερμοκρασίας Υψηλού Πεδίου για Απεικόνιση Μικροπεριοχών εργοστάσιο

Μικροσκόπιο Kerr Laser MOKE Χαμηλής Θερμοκρασίας Υψηλού Πεδίου για Απεικόνιση Μικροπεριοχών

Low Temp High Field Laser Kerr Microscope For Micro Region Imaging Product Description: The Hysteresis Loop Measurement Instrument for Scientific Research is a cutting-edge tool designed for precise magnetization measurements in scientific research applications. This advanced instrument offers a range of features that make it ideal for studying magnetic properties with high accuracy and reliability. One of the key attributes of this instrument is its capability to measure In

Ποιότητα Σύστημα MOKE επιπέδου κυψελού 0,3 Mdeg για ταχεία κυκλώματα υστερέσης και έλεγχο διαδικασίας εργοστάσιο

Σύστημα MOKE επιπέδου κυψελού 0,3 Mdeg για ταχεία κυκλώματα υστερέσης και έλεγχο διαδικασίας

Wafer Level MOKE For Rapid Hysteresis Loops And Process Control Product Description: The Wafer-Level Hysteresis Loop Measurement Instrument is a cutting-edge tool designed for non-destructive hysteresis loop measurement of magnetic stacks/devices, automatic extraction of hysteresis loop information including free layer and pinned layer Hc, Hex, and M (Kerr angle value), as well as rapid mapping of wafer magnetic characteristic distribution. With an impressive uptime of 90%,

Ποιότητα Σύστημα μέτρησης δίσκων υψηλού πεδίου MOKE Wafer Scanner για χαρακτηρισμό MRAM και μαγνητικών φιλμ εργοστάσιο

Σύστημα μέτρησης δίσκων υψηλού πεδίου MOKE Wafer Scanner για χαρακτηρισμό MRAM και μαγνητικών φιλμ

High Field Wafer MOKE For MRAM And Magnetic Film Characterization Product Description: MOKE Wafer Scanner is a cutting-edge instrument designed for precise and efficient Wafer-Level Hysteresis Loop Measurement of magnetic stacks and devices. This advanced tool offers a range of testing functions that make it an indispensable asset for researchers and manufacturers in the field of thin film magnetic wafer inspection. One of the key features of the MOKE Wafer Scanner is its non

Ποιότητα Μικροσκόπιο Kerr Μαγνητοοπτικού Ελέγχου Περιστροφής για Έρευνα Πολλαπλών Λειτουργιών για Ανάλυση Υλικών εργοστάσιο

Μικροσκόπιο Kerr Μαγνητοοπτικού Ελέγχου Περιστροφής για Έρευνα Πολλαπλών Λειτουργιών για Ανάλυση Υλικών

Material Analysis With Multifunctional SpinTest MagnetoOptic Kerr Microscope Product Description: The Multifunctional Spin-Test Magneto-Optic Kerr Microscope is a cutting-edge instrument designed for researchers and professionals in the field of spintronic devices. This advanced microscope offers unparalleled capabilities for studying magnetic thin films with exceptional precision and detail. One of the key features of this microscope is its Magnetic Field Resolution, which

Ποιότητα MOKE Wafer Scanner EFEM Σύστημα Μέτρησης Wafer για Χάρτες Υστέρησης και Μαγνητικής Ομοιομορφίας εργοστάσιο

MOKE Wafer Scanner EFEM Σύστημα Μέτρησης Wafer για Χάρτες Υστέρησης και Μαγνητικής Ομοιομορφίας

MOKE Wafer Scanner For Hysteresis And Magnetic Uniformity Maps Product Description: Introducing the Wafer-Level Hysteresis Loop Measurement Instrument, a cutting-edge tool in Spintronics Metrology designed to meet the demanding requirements of advanced research and development in the field. This innovative product offers unparalleled capabilities for precise and efficient measurement of magnetic properties at the wafer level. One of the key features of this state-of-the-art

« 1 2 3 4 »