
Wafer-Scale-Hystereseschleifentester für berührungslose magnetische Metrologie
Wafer-Scale-Hystereseschleifentester
,Berührungsloser Hystereseschleifentester
,Hystereseschleifentester für magnetische Metrologie
Grundlegende Eigenschaften
Immobilienhandel
Wafer Scale Hysteresis Tracer For Non Contact Magnetic Metrology
Beschreibung des Produkts:
Das Wafer-Level Hysteresis Loop Measurement Instrument ist ein cutting-edge Tool, das für eine präzise und effiziente Charakterisierung magnetischer Eigenschaften auf der Wafer-Ebene entwickelt wurde.This instrument is essential for industries requiring accurate and reliable measurements for quality control and research purposes Das Instrument ist für Industriezweige unerlässlich, die genaue und zuverlässige Messungen für Qualitätskontrolle und Forschungszwecke benötigen.
Eines der wichtigsten Merkmale dieses Produkts ist seine außergewöhnliche Sample Repeatability, die besser als 10 μm ist.crucial for analyzing magnetic properties with high accuracy Das ist ein sehr wichtiger Punkt für die Analyse magnetischer Eigenschaften mit hoher Genauigkeit.
When it comes to Sample Size compatibility, this instrument is versatile and supports samples up to 12 inches and below. Zusätzlich ist es in der Lage, Fragment-Tests zu handhaben,bietet Flexibilität in sample preparation and testing procedures.
Das Wafer-Level Hysteresis Loop Measurement Instrument verfügt über leistungsstarke Magnetic Field-Fähigkeiten, mit einem vertikalen Bereich von ±2.4 T und einem In-plane-Bereich von ±1.3 T.Diese magnetischen Feldstärken ermöglichen eine umfassende Charakterisierung magnetischer Materialien., so dass es ein ideales Tool für Wafer Level Magnetic Characterization ist.
Die EFEM-Integration optimiert den Testprozess und verbessert die Gesamtproduktivität.especially in high-throughput-Produktionsumgebungen.
Testing Efficiency ist ein herausragendes Feature dieses Instruments, das eine Testgeschwindigkeit von 12 WPH (Wafers Per Hour) bei ±1.3 T mit 9 Sites Measurement auf einem 200 mm Wafer bietet.Dieser hohe Testdurchsatz macht das Instrument für MOKE (Magneto-Optical Kerr Effect) Testing geeignet, wo schnelle und zuverlässige Messungen essentiell sind.
Eigenschaften:
- Produktbezeichnung: Wafer-Level Hysterese-Loop-Messgerät
- Magnetische Feld Auflösung: PID Closed-loop Feedback Regulation, 0.01 MT
- Prüffunktionen:
- Nicht zerstörerische Hysteresis-Loop-Messung von Magnetstacks/Geräten
- Automatic Extraction Of Hysteresis Loop Information (free Layer And Pinned Layer Hc, Hex, M (Kerr Angle Value))
- Rapid Mapping Of Wafer Magnetic Characteristic Distribution
- Probenwiederholbarkeit: besser als 10 μm
- Magnetischer Bereich: Vertical ±2.4 T; In-plane ±1.3 T
- Auflösung des Kerr-Winkels: 0,3 Mdeg (RMS)
Technische Parameter:
Betriebszeit | 90% |
Auflösung des Magnetfeldes | PID-Rückkopplungsregelung in geschlossener Schleife, 0,01 MT |
EFEM | Zusätzlich |
Auflösung des Kerr-Winkels | 0.3 Mdeg (RMS) |
Effizienzprüfung | 12 WPH@±1,3 T /9 Standortmessung/200 mm Wafer |
Einheitlichkeit des Magnetfeldes | Besser als ±1%@Φ1 mm |
Probenwiederholbarkeit | Besser als 10 μm |
Magnetfeld | Vertikal ±2,4 T; in der Ebene ±1,3 T |
Prüffunktionen | Nicht zerstörende Hysterese-Schleife der magnetischen Stapel/Geräte, automatische Extraktion der Hysterese-Schleife Informationen (freie Schicht und Pinn-Schicht Hc, Hex, M (Kerr-Winkelwert)),Und schnelle Kartierung der wafermagnetischen Eigenschaftsverteilung |
Stichprobengröße | Kompatibel mit 12-Zoll- und unteren, unterstützt Fragment-Test |
Anwendungen:
Truth Instruments' Wafer-MOKE ist ein cutting-edge Magnetic Metrology Tool, das für präzise Hysteresis-Loop-Messungen in einer Vielzahl von Szenarien entwickelt wurde.Mit seinen außergewöhnlichen Fähigkeiten und fortschrittlichen Funktionen, this instrument is ideal for a range of Product Application Occasions and Scenarios. Das Instrument ist für eine Reihe von Produkt-Anwendungsfällen und -Szenarien ideal.
Originating from CHINA, the Wafer-MOKE is engineered to deliver unparalleled performance and efficiency. Seine hohe Testing Efficiency von 12 WPH@±1.3 T / 9 Sites Measurement/200 Mm Wafer sorgt für schnelle und genaue Testprozesse, so dass es ein wertvolles Asset in Forschungseinrichtungen, Fertigungsanlagen und akademischen Institutionen.
One of the standout features of this product is its remarkable Magnetic Field Uniformity, die ±1%@Φ1 Mm übersteigt.Diese Präzisionsstufe ist essentiell für Anwendungen, die Konsistenz und Zuverlässigkeit erfordern, wie z.B. MRAM Testing und magnetische Materialcharakterisierung.
Die Wafer-MOKE verfügt über eine leistungsstarke Magnetic Field-Kapazität, mit Vertical ±2.4 T und In-plane ±1.3 T-Capabilities.,catering to diverse research needs. Das ist ein großes Projekt.
Equipped with a Kerr Angle Resolution of 0.3 Mdeg (RMS), bietet dieses Instrument eine außergewöhnliche Genauigkeit bei der Erfassung subtiler magnetischer Variationen.Forscher und Wissenschaftler, die an magnetischen Domänenstudien und Materialanalyse arbeiten, werden den Wafer-MOKE für ihre Projekte unentbehrlich finden..
Darüber hinaus, the instrument's compatibility with sample sizes up to 12 inches and below, as well as its support for Fragment Testing, verbessert weiter seine Vielseitigkeit und Anwendbarkeit.Whether analyzing small fragments or larger wafers Whether analyzing small fragments or larger wafers Whether analyzing small fragments or larger wafersDie Wafer-MOKE bietet die Flexibilität, die für umfassende magnetische Messungen erforderlich ist.
Abschließend ist die Truth Instruments Wafer-MOKE ein State-of-the-Art Produkt, das in Wafer Scale MOKE Anwendungen hervorragend ist, was es zu einem unverzichtbaren Tool für magnetische Metrologie, MRAM-Tests,und verschiedene Forschungsanstrengungen.