Wafer-schaal Hysteresis Loop Tracer voor Contactloze Magnetische Metrologie

Productbeschrijving:

Het Wafer-Level Hysteresis Loop Meetinstrument is een geavanceerd hulpmiddel dat is ontworpen voor nauwkeurige en efficiënte karakterisering van magnetische eigenschappen op waferniveau. Dit instrument is essentieel voor industrieën die nauwkeurige en betrouwbare metingen nodig hebben voor kwaliteitscontrole en onderzoeksdoeleinden.

Een van de belangrijkste kenmerken van dit product is de uitzonderlijke Sample Repeatability, die beter is dan 10 μm. Dit precisieniveau zorgt voor consistente en betrouwbare resultaten, cruciaal voor het analyseren van magnetische eigenschappen met hoge nauwkeurigheid.

Wat betreft de compatibiliteit met Sample Size, is dit instrument veelzijdig en ondersteunt het monsters tot 12 inch en kleiner. Bovendien is het in staat om fragmenttesten uit te voeren, wat flexibiliteit biedt in de monstervoorbereiding en testprocedures.

Het Wafer-Level Hysteresis Loop Meetinstrument beschikt over krachtige Magnetic Field-mogelijkheden, met een verticaal bereik van ±2,4 T en een in-plane bereik van ±1,3 T. Deze magnetische veldsterktes maken een uitgebreide karakterisering van magnetische materialen mogelijk, waardoor het een ideaal hulpmiddel is voor Wafer Level Magnetic Characterization.

Voor extra gemak en efficiëntie is een EFEM (Equipment Front End Module) optioneel bij dit instrument. De EFEM-integratie stroomlijnt het testproces en verbetert de algehele productiviteit, vooral in productieomgevingen met een hoge doorvoer.

Testing Efficiency is een opvallend kenmerk van dit instrument en biedt een testsnelheid van 12 WPH (Wafers Per Hour) bij ±1,3 T met 9 Sites Measurement op een 200 mm wafer. Deze hoge testdoorvoer maakt het instrument geschikt voor MOKE (Magneto-Optical Kerr Effect) testen in de productielijn, waar snelle en betrouwbare metingen essentieel zijn.

Kenmerken:

• Productnaam: Wafer-Level Hysteresis Loop Meetinstrument
• Magnetic Field Resolution: PID Closed-loop Feedback Regulation, 0.01 MT
• Testfuncties:
  • Niet-destructieve Hysteresis Loop Meting van Magnetische Stacks/apparaten
  • Automatische Extractie van Hysteresis Loop Informatie (vrije Laag en Vastgezette Laag Hc, Hex, M (Kerr Hoek Waarde))
  • Snelle Mapping van Wafer Magnetische Karakteristiek Verdeling
• Sample Repeatability: Beter dan 10 μm
• Magnetic Field: Verticaal ±2,4 T; In-plane ±1,3 T
• Kerr Angle Resolution: 0,3 Mdeg (RMS)

Technische parameters:

Toepassingen:

Truth Instruments' Wafer-MOKE is een geavanceerd Magnetic Metrology Tool ontworpen voor nauwkeurige hysteresis loop metingen in verschillende scenario's. Met zijn uitzonderlijke mogelijkheden en geavanceerde functies is dit instrument ideaal voor een reeks Product Application Occasions en Scenario's.

Afkomstig uit CHINA, is de Wafer-MOKE ontworpen om ongeëvenaarde prestaties en efficiëntie te leveren. De hoge Testing Efficiency van 12 WPH@±1,3 T /9 Sites Measurement/200 Mm Wafer zorgt voor snelle en nauwkeurige testprocessen, waardoor het een waardevolle aanwinst is in onderzoeksfaciliteiten, fabrieken en academische instellingen.

Een van de opvallende kenmerken van dit product is de opmerkelijke Magnetic Field Uniformity, die ±1%@Φ1 Mm overtreft. Dit precisieniveau is essentieel voor toepassingen die consistentie en betrouwbaarheid vereisen, zoals MRAM Testing en karakterisering van magnetisch materiaal.

De Wafer-MOKE beschikt over een krachtige Magnetic Field capaciteit, met Vertical ±2,4 T en In-plane ±1,3 T mogelijkheden. Deze flexibiliteit stelt gebruikers in staat om een breed scala aan experimenten en metingen uit te voeren, die voldoen aan diverse onderzoeksbehoeften.

Uitgerust met een Kerr Angle Resolution van 0,3 Mdeg (RMS), biedt dit instrument uitzonderlijke nauwkeurigheid bij het vastleggen van subtiele magnetische variaties. Onderzoekers en wetenschappers die werken aan magnetische domeinstudies en materiaalanalyse zullen de Wafer-MOKE onmisbaar vinden voor hun projecten.

Bovendien verbetert de compatibiliteit van het instrument met monstergroottes tot 12 inch en kleiner, evenals de ondersteuning voor Fragment Testing, de veelzijdigheid en toepasbaarheid verder. Of het nu gaat om het analyseren van kleine fragmenten of grotere wafers, de Wafer-MOKE biedt de flexibiliteit die nodig is voor uitgebreide magnetische metingen.

Kortom, de Truth Instruments Wafer-MOKE is een state-of-the-art product dat uitblinkt in Wafer Scale MOKE-toepassingen, waardoor het een onmisbaar hulpmiddel is voor magnetische metrologie, MRAM-testen en diverse onderzoeksinspanningen.