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비접촉 자기 측정용 웨이퍼 스케일 히스테레시스 루프 추적기

Wafer Scale Hysteresis Tracer For Non Contact Magnetic Metrology Product Description: The Wafer-Level Hysteresis Loop Measurement Instrument is a cutting-edge tool designed for precise and efficient characterization of magnetic properties at the wafer level. This instrument is essential for industries requiring accurate and reliable measurements for quality control and research purposes. One of the key features of this product is its exceptional Sample Repeatability, which is
제품 상세정보
강조하다:

웨이퍼 스케일 히스테레시스 루프 트레이서

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비접촉 히스테레시스 루프 추적기

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자기 측정 히스테레시 루프 추적기

Name: 히스테리시스 루프 트레이서
EFEM: 선택 과목
Testing Efficiency: 12 wph@ ± 1.3 t /9 사이트 측정 /200 mm 웨이퍼
Magnetic Field Uniformity: ± 1%@φ1 mm보다 낫습니다
Magnetic Field Resolution: PID 폐쇄 루프 피드백 조절, 0.01 Mt
Testing Functions: 자기 스택/장치의 비파괴 적 히스테리시스 루프 측정, 히스테리시스 루프 정보의 자동 추출 (자유 층 및 고정 레이어 HC, HEX, M (KERR Angle Value)) 및 웨이
Sample Repeatability: 10 μm보다 낫습니다
Sample Size: 12 인치 이하와 호환되며 조각 테스트를 지원합니다
Uptime: 90%

기본 속성

브랜드 이름: Truth Instruments
모델 번호: 웨이퍼-모크

부동산 거래

가격: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
지불 조건: t/t
제품 설명

웨이퍼 스케일 히스테리시스 트레이서, 비접촉 자기 계측용

제품 설명:

웨이퍼 레벨 히스테리시스 루프 측정 장비는 웨이퍼 레벨에서 자기적 특성을 정확하고 효율적으로 특성화하도록 설계된 최첨단 도구입니다. 이 장비는 품질 관리 및 연구 목적으로 정확하고 신뢰할 수 있는 측정이 필요한 산업에 필수적입니다.

이 제품의 주요 특징 중 하나는 10 μm보다 우수한 뛰어난 샘플 반복성입니다. 이 정밀도는 일관되고 신뢰할 수 있는 결과를 보장하며, 높은 정확도로 자기적 특성을 분석하는 데 매우 중요합니다.

샘플 크기 호환성과 관련하여 이 장비는 다재다능하며 최대 12인치 이하의 샘플을 지원합니다. 또한 조각 테스트를 처리할 수 있어 샘플 준비 및 테스트 절차에서 유연성을 제공합니다.

웨이퍼 레벨 히스테리시스 루프 측정 장비는 ±2.4 T의 수직 범위와 ±1.3 T의 평면 내 범위를 갖춘 강력한 자기장 기능을 자랑합니다. 이러한 자기장 강도는 자기 재료의 포괄적인 특성화를 가능하게 하여 웨이퍼 레벨 자기 특성화에 이상적인 도구입니다.

편의성과 효율성을 높이기 위해 이 장비에는 EFEM(장비 프론트 엔드 모듈)이 옵션으로 제공됩니다. EFEM 통합은 테스트 프로세스를 간소화하고 특히 높은 처리량의 생산 환경에서 전반적인 생산성을 향상시킵니다.

테스트 효율성은 이 장비의 뛰어난 특징으로, 200mm 웨이퍼에서 9개 사이트 측정으로 ±1.3 T에서 12 WPH(시간당 웨이퍼)의 테스트 속도를 제공합니다. 이 높은 테스트 처리량은 빠르고 신뢰할 수 있는 측정이 필수적인 생산 라인 MOKE(Magneto-Optical Kerr Effect) 테스트에 적합합니다.

 

특징:

  • 제품명: 웨이퍼 레벨 히스테리시스 루프 측정 장비
  • 자기장 해상도: PID 폐루프 피드백 조절, 0.01 MT
  • 테스트 기능:
    • 자기 스택/장치의 비파괴 히스테리시스 루프 측정
    • 히스테리시스 루프 정보 자동 추출(자유층 및 고정층 Hc, Hex, M(Kerr 각도 값))
    • 웨이퍼 자기 특성 분포의 신속한 매핑
  • 샘플 반복성: 10 μm보다 우수
  • 자기장: 수직 ±2.4 T; 평면 내 ±1.3 T
  • Kerr 각도 해상도: 0.3 Mdeg (RMS)
 

기술 매개변수:

가동 시간 90%
자기장 해상도 PID 폐루프 피드백 조절, 0.01 MT
EFEM 옵션
Kerr 각도 해상도 0.3 Mdeg (RMS)
테스트 효율성 12 WPH@±1.3 T / 9개 사이트 측정 / 200mm 웨이퍼
자기장 균일성 ±1mm에서 ±1%보다 우수
샘플 반복성 10 μm보다 우수
자기장 수직 ±2.4 T; 평면 내 ±1.3 T
테스트 기능 자기 스택/장치의 비파괴 히스테리시스 루프 측정, 히스테리시스 루프 정보 자동 추출(자유층 및 고정층 Hc, Hex, M(Kerr 각도 값)), 웨이퍼 자기 특성 분포의 신속한 매핑
샘플 크기 12인치 이하와 호환 가능, 조각 테스트 지원
 

응용 분야:

Truth Instruments의 Wafer-MOKE는 다양한 시나리오에서 정확한 히스테리시스 루프 측정을 위해 설계된 최첨단 자기 계측 도구입니다. 뛰어난 기능과 고급 기능을 갖춘 이 장비는 다양한 제품 응용 사례 및 시나리오에 이상적입니다.

중국에서 시작된 Wafer-MOKE는 타의 추종을 불허하는 성능과 효율성을 제공하도록 설계되었습니다. 12 WPH@±1.3 T / 9개 사이트 측정 / 200mm 웨이퍼의 높은 테스트 효율성은 빠르고 정확한 테스트 프로세스를 보장하여 연구 시설, 제조 공장 및 학술 기관에서 귀중한 자산으로 만듭니다.

이 제품의 뛰어난 특징 중 하나는 ±1mm에서 ±1%를 초과하는 놀라운 자기장 균일성입니다. 이 정밀도는 MRAM 테스트 및 자기 재료 특성화와 같이 일관성과 신뢰성이 필요한 응용 분야에 필수적입니다.

Wafer-MOKE는 수직 ±2.4 T 및 평면 내 ±1.3 T 기능을 갖춘 강력한 자기장 용량을 자랑합니다. 이러한 유연성을 통해 사용자는 광범위한 실험과 측정을 수행하여 다양한 연구 요구 사항을 충족할 수 있습니다.

0.3 Mdeg(RMS)의 Kerr 각도 해상도를 갖춘 이 장비는 미묘한 자기적 변화를 포착하는 데 탁월한 정확성을 제공합니다. 자기 도메인 연구 및 재료 분석을 수행하는 연구원과 과학자는 Wafer-MOKE가 프로젝트에 필수적이라는 것을 알게 될 것입니다.

또한 최대 12인치 이하의 샘플 크기와의 호환성, 조각 테스트 지원은 유연성과 적용 가능성을 더욱 향상시킵니다. 작은 조각이나 더 큰 웨이퍼를 분석하든 Wafer-MOKE는 포괄적인 자기 측정을 위해 필요한 유연성을 제공합니다.

결론적으로, Truth Instruments Wafer-MOKE는 웨이퍼 스케일 MOKE 응용 분야에서 뛰어난 최첨단 제품으로, 자기 계측, MRAM 테스트 및 다양한 연구 노력에 필수적인 도구입니다.

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