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  • एटम एक्सप्लोरर: उच्च-सटीक स्कैनिंग प्रोब माइक्रोस्कोप (एसपीएम/एएफएम)

    उत्पाद का वर्णन: The Basic-type Atomic Force Microscope is a cutting-edge nanoscale microscope designed to provide high-precision imaging and multifunctional measurement capabilities for a wide range of scientific and industrial applicationsयह उन्नत उपकरण एक्सवाईजेड तीन-अक्ष पूर्ण-नमूना स्कैनिंग विध...
  • उच्च-सटीक नैनोस्केल सामग्री अभिलक्षण के लिए कम-शोर Z-अक्ष

    उत्पाद का वर्णन:परमाणु बल माइक्रोस्कोप (एएफएम) एक उन्नत, ऑल-इन-वन एएफएम प्रणाली है जिसे नैनोस्केल इमेजिंग और माप के लिए बेजोड़ सटीकता और बहुमुखी प्रतिभा प्रदान करने के लिए डिज़ाइन किया गया है।एक्सवाईजेड तीन अक्ष पूर्ण नमूना स्कैनिंग विधि का उपयोग करना, यह एएफएम सभी तीन स्थानिक आयामों में नमूने के मा...
  • लक्षित वैज्ञानिक अध्ययनों के लिए बहु-कार्यात्मक माप (MFM/EFM)

    उत्पाद का वर्णन:परमाणु बल माइक्रोस्कोप (एएफएम) बहुक्रिया माप के लिए डिज़ाइन किया गया एक अत्यधिक उन्नत उपकरण है, जो नैनोस्केल इमेजिंग और विश्लेषण में अद्वितीय बहुमुखी प्रतिभा और सटीकता प्रदान करता है।यह अत्याधुनिक एएफएम विभिन्न माप मोड को एकीकृत करता है, जिसमें इलेक्ट्रोस्टैटिक फोर्स माइक्रोस्कोप (ईए...
  • इलेक्ट्रॉनिक्स, बायोमटेरियल्स और परिशुद्धता अनुसंधान अनुप्रयोगों के लिए लचीली 3 डी स्कैनिंग

    उत्पाद विवरण: परमाणु बल माइक्रोस्कोप (एएफएम) एक अत्याधुनिक उपकरण है जिसे नैनोस्केल पर सतह संपत्ति मैपिंग में अद्वितीय सटीकता और बहुमुखी प्रतिभा प्रदान करने के लिए डिज़ाइन किया गया है। उन्नत अनुसंधान और औद्योगिक अनुप्रयोगों की मांग आवश्यकताओं को पूरा करने के लिए इंजीनियर, यह एएफएम सुविधाओं का एक व्या...
  • AtomEdge Pro: बहु-कार्यात्मक परमाणु बल माइक्रोस्कोप – सामग्री के लिए 3D इमेजिंग

    उत्पाद का वर्णन:परमाणु बल माइक्रोस्कोप (एएफएम) एक अत्याधुनिक उपकरण है जिसे नैनोमीटर पैमाने पर उच्च परिशुद्धता वाले सतह विश्लेषण और विशेषता के लिए डिज़ाइन किया गया है।यह बहुआयामी माप उपकरण कई उन्नत माइक्रोस्कोपी तकनीकों को एकीकृत करता है, जिसमें इलेक्ट्रोस्टैटिक फोर्स माइक्रोस्कोपी (ईएफएम), स्कैनिंग ...
  • उप-नैनोमीटर सामग्री के नैनोस्केल विश्लेषण के लिए संपर्क/टैप मोड

    उत्पाद विवरण: परमाणु बल माइक्रोस्कोप (एएफएम) एक उन्नत स्कैनिंग बल माइक्रोस्कोप है जिसे नैनोस्केल पर असाधारण इमेजिंग और माप क्षमताएं प्रदान करने के लिए डिज़ाइन किया गया है। सटीकता और बहुमुखी प्रतिभा के लिए इंजीनियर, यह एएफएम मॉडल 0.1 हर्ट्ज से 30 हर्ट्ज तक की विस्तृत श्रृंखला में स्कैनिंग दरों का समर...
  • एटम एक्सप्लोरर: चिप्स और नैनोमटेरियल्स के लिए सटीक स्थलाकृति उपकरण

    उत्पाद का वर्णन:बेसिक-टाइप एटॉमिक फोर्स माइक्रोस्कोप (एएफएम) एक बहुमुखी और उच्च-प्रदर्शन वाला उपकरण है जिसे वैज्ञानिक अनुसंधान और औद्योगिक अनुसंधान एवं विकास अनुप्रयोगों की विविध आवश्यकताओं को पूरा करने के लिए डिज़ाइन किया गया है।यह बहुआयामी एएफएम उन्नत माप मोड से लैस है, जिसमें इलेक्ट्रोस्टैटिक फोर...
  • ऑल-इन-वन डिटेक्शन प्लेटफ़ॉर्म – कस्टम मॉड्यूल और मैटेरियल्स साइंस के लिए मल्टी-फ़ोर्स माइक्रोस्कोपी

    उत्पाद विवरण: परमाणु बल माइक्रोस्कोप (एएफएम) एक अत्याधुनिक नैनोस्केल लक्षण वर्णन प्लेटफ़ॉर्म है जिसे सतह विश्लेषण में अद्वितीय सटीकता और बहुमुखी प्रतिभा प्रदान करने के लिए डिज़ाइन किया गया है। 25 मिमी तक की नमूना आकार क्षमता के साथ, यह उपकरण नैनोस्केल पर विभिन्न प्रकार की सामग्रियों और संरचनाओं की ज...
  • 0.15 एनएम उच्च रिज़ॉल्यूशन माइक्रोस्कोप अनुकूलित परमाणु माइक्रोस्कोप

    उच्च-रिज़ॉल्यूशन इमेजिंग के लिए उन्नत परमाणु बल माइक्रोस्कोप उत्पाद विवरण: परमाणु बल माइक्रोस्कोप उच्च-रिज़ॉल्यूशन इमेजिंग और नैनोस्केल विश्लेषण के लिए डिज़ाइन किया गया एक अत्याधुनिक उपकरण है। 100 μm X 100 μm X 10 μm की स्कैनिंग रेंज के साथ, यह AFM परमाणु रिज़ॉल्यूशन इमेजिंग क्षमताएं प्रदान करता है ...
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