Found
18
products for "afm systems
"-
AtomExplorer: میکروسکوپ سنجه اسکن با دقت بالا (SPM/AFM)
توضیحات محصول: میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) نوع پایه یک میکروسکوپ نانومقیاس پیشرفته است که برای ارائه تصویربرداری با دقت بالا و قابلیتهای اندازهگیری چند منظوره برای طیف گستردهای از کاربردهای علمی و صنعتی طراحی شده است. این ابزار پیشرفته از روش اسکن کامل نمونه سه محوره XYZ استفاده میکند و به کاربرا... -
محور Z کم سر و صدا برای مشخصه سازی دقیق مواد نانو
توضیحات محصول: میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) یک سیستم AFM پیشرفته و همهکاره است که برای ارائه دقت و تطبیقپذیری بینظیر برای تصویربرداری و اندازهگیری در مقیاس نانو طراحی شده است. با استفاده از روش اسکن کامل نمونه سه محوره XYZ، این AFM امکان تجزیه و تحلیل جامع و دقیق سطح را با اجازه دادن به آزادی کامل ... -
اندازه گیری چند عملکردی (MFM/EFM) برای مطالعات علمی هدفمند
توضیحات محصول: میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) یک ابزار بسیار پیشرفته است که برای اندازهگیری چند منظوره طراحی شده است و تطبیقپذیری و دقت بینظیری را در تصویربرداری و تجزیه و تحلیل در مقیاس نانو ارائه میدهد. این AFM پیشرفته، انواع حالتهای اندازهگیری، از جمله میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک (EFM)، میکرو... -
اسکن سه بعدی انعطاف پذیر برای الکترونیک، مواد زیستی و کاربردهای تحقیق دقیق
توضیحات محصول:میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) یک ابزار پیشرفته است که برای ارائه دقت بی نظیر و قابلیت های گوناگون در نقشه برداری ویژگی های سطحی در مقیاس نانو طراحی شده است.طراحی شده برای برآورده کردن الزامات پیشرفته تحقیقات و کاربردهای صنعتی، این AFM مجموعه ای جامع از ویژگی ها را ارائه می دهد که آن را یک ... -
AtomEdge Pro: میکروسکوپ نیروی اتمی چند منظوره – تصویربرداری سه بعدی برای مواد
توضیحات محصول:میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) یک ابزار پیشرفته است که برای تجزیه و تحلیل و توصیف سطح با دقت بالا در مقیاس نانومتر طراحی شده است.این ابزار اندازه گیری چند منظوره چندین تکنیک پیشرفته میکروسکوپی را ادغام می کند، از جمله میکروسکوپی نیروی الکترواستاتیک (EFM) ، اسکن میکروسکوپی پروب کلوین (KPFM) ... -
روش های تماس/تاپ برای تجزیه و تحلیل نانومتر مواد زیر نانومتر
توضیحات محصول:میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) یک میکروسکوپ نیروی اسکن پیشرفته است که برای ارائه قابلیت های تصویربرداری و اندازه گیری استثنایی در مقیاس نانو طراحی شده است.طراحی شده برای دقت و انعطاف پذیری، این مدل AFM از طیف گسترده ای از نرخ های اسکن از 0.1 هرتز تا 30 هرتز پشتیبانی می کند و به کاربران اجا... -
AtomExplorer: ابزار توپوگرافی دقیق برای تراشهها و مواد نانو
توضیحات محصول:میکروسکوپ نیروی اتمی نوع پایه (AFM) یک ابزار متنوع و با عملکرد بالا است که برای پاسخگویی به نیازهای متنوع تحقیقات علمی و کاربردهای صنعت تحقیق و توسعه طراحی شده است.این AFM چند منظوره مجهز به حالت اندازه گیری پیشرفته است، از جمله میکروسکوپی نیروی الکترواستاتیک (EFM) ، میکروسکوپی نیروی س... -
پلتفرم تشخیص همهکاره – ماژولهای سفارشی و میکروسکوپ چند نیرو برای علم مواد
توضیحات محصول: میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) یک پلتفرم مشخصه یابی نانومقیاس پیشرفته است که برای ارائه دقت و تطبیق پذیری بی نظیر در تجزیه و تحلیل سطح طراحی شده است. با ظرفیت اندازه نمونه تا 25 میلی متر، این ابزار برای بررسی طیف گسترده ای از مواد و ساختارها در مقیاس نانو ایده آل است و آن را به ابزاری ضرو... -
0میکروسکوپ های رزولوشن بالا 15 نانو متری میکروسکوپ های اتمی سفارشی
میکروسکوپ نیروی اتمی پیشرفته برای تصویربرداری با وضوح بالا توضیحات محصول: میکروسکوپ نیروی اتمی ابزاری پیشرفته است که برای تصویربرداری با وضوح بالا و تجزیه و تحلیل در مقیاس نانو طراحی شده است. این AFM با محدوده اسکن 100 میکرومتر X 100 میکرومتر X 10 میکرومتر، قابلیتهای تصویربرداری با وضوح اتمی را ارا...