Description du produit: The Basic-type Atomic Force Microscope is a cutting-edge nanoscale microscope designed to provide high-precision imaging and multifunctional measurement capabilities for a wide range of scientific and industrial applicationsCet instrument avancé utilise une méthode de ...

Description du produit : Le microscope à force atomique (AFM) est un système AFM avancé et tout-en-un conçu pour offrir une précision et une polyvalence inégalées pour l'imagerie et les mesures à l'échelle nanométrique. Utilisant une méthode de balayage d'échantillon complet à trois axes XYZ, cet ...

Description du produit:Le microscope à force atomique (AFM) est un instrument hautement avancé conçu pour la mesure multifonctionnelle, offrant une polyvalence et une précision inégalées dans l'imagerie et l'analyse à l'échelle nanométrique.Cet AFM de pointe intègre une variété de modes de mesure, y ...

Description du produit : Le microscope à force atomique (AFM) est un instrument de pointe conçu pour offrir une précision et une polyvalence inégalées dans la cartographie des propriétés de surface à l'échelle nanométrique. Conçu pour répondre aux exigences des applications industrielles et de ...

Description du produit:Le microscope à force atomique (AFM) est un instrument de pointe conçu pour l'analyse et la caractérisation de surface de haute précision à l'échelle nanométrique.Cet outil de mesure multifonctionnel intègre plusieurs techniques de microscopie avancées, y compris la microscopi...

Description du produit:Le microscope à force atomique (AFM) est un microscope à force de balayage avancé conçu pour fournir des capacités d'imagerie et de mesure exceptionnelles à l'échelle nanométrique.Conçu pour la précision et la polyvalence, ce modèle AFM prend en charge une large gamme de fr...

Description du produit:Le microscope de force atomique de type de base (AFM) est un instrument polyvalent et performant conçu pour répondre aux divers besoins de la recherche scientifique et des applications industrielles de R&D.Cet AFM multifonctionnel est équipé de modes de mesure avancés, y ...

Description du produit:Le microscope à force atomique (AFM) est une plateforme de caractérisation à l'échelle nanométrique de pointe conçue pour fournir une précision et une polyvalence inégalées dans l'analyse de surface.d'une capacité de taille d'échantillon maximale de 25 mm, cet instrument est ...

Microscope à force atomique avancé pour l'imagerie haute résolution Description du produit : Le microscope à force atomique est un outil de pointe conçu pour l'imagerie haute résolution et l'analyse à l'échelle nanométrique. Avec une plage de balayage de 100 µm x 100 µm x 10 µm, ce AFM offre des ...