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AtomExplorer: Microscópio de Sonda de Varredura (SPM/AFM) de Alta Precisão
Descrição do produto: The Basic-type Atomic Force Microscope is a cutting-edge nanoscale microscope designed to provide high-precision imaging and multifunctional measurement capabilities for a wide range of scientific and industrial applicationsEste instrumento avançado utiliza um método de ... -
Eixo Z de baixo ruído para a caracterização de materiais em nanoescala de alta precisão
Descrição do produto:O Microscópio de Força Atômica (AFM) é um sistema avançado de AFM tudo-em-um projetado para fornecer precisão e versatilidade incomparáveis para imagens e medições em nanoescala.Utilizando um método de varredura de amostra completa de três eixos XYZ, este AFM permite uma análise ... -
Medição Multifuncional (MFM/EFM) para Estudos Científicos Direcionados
Descrição do produto:O Microscópio de Força Atómica (AFM) é um instrumento altamente avançado concebido para medições multifuncionais, oferecendo uma versatilidade e precisão incomparáveis em imagens e análises em nanoescala.Este AFM de última geração integra uma variedade de modos de medição, ... -
Flexível digitalização 3D para aplicações de electrónica, biomateriais e pesquisa de precisão
Descrição do produto:O microscópio de força atômica (AFM) é um instrumento de última geração projetado para fornecer precisão e versatilidade incomparáveis no mapeamento de propriedades da superfície em nanoescala.Projetado para satisfazer os exigentes requisitos da investigação avançada e aplicaç... -
AtomEdge Pro: Microscópio de Força Atômica Multifuncional Imagem 3D para Materiais
Descrição do Produto: O Microscópio de Força Atômica (AFM) é um instrumento de ponta projetado para análise e caracterização de superfícies de alta precisão na escala nanométrica. Esta ferramenta de medição multifuncional integra várias técnicas avançadas de microscopia, incluindo Microscopia de For... -
Modos de Contato/Toque para Análise em Escala Sub-nanométrica de Materiais
Descrição do produto:O Microscópio de Força Atômica (AFM) é um microscópio de Força de Análise avançado projetado para fornecer capacidades excepcionais de imagem e medição em nanoescala.Projetado para precisão e versatilidade, este modelo AFM suporta uma ampla gama de taxas de digitalização de 0,1 ... -
AtomExplorer: ferramenta de topografia de precisão para chips e nanomateriais
Descrição do Produto:O Microscópio de Força Atômica (AFM) do tipo Básico é um instrumento versátil e de alto desempenho projetado para atender às diversas necessidades de pesquisa científica e aplicações de P&D industrial. Este AFM multifuncional está equipado com modos de medição avançados, ... -
Plataforma de detecção tudo-em-um Modulos personalizados e microscopia de força múltipla para ciência dos materiais
Descrição do Produto: O Microscópio de Força Atômica (AFM) é uma plataforma de caracterização em nanoescala de ponta, projetada para fornecer precisão e versatilidade incomparáveis na análise de superfície. Com uma capacidade de tamanho de amostra de até 25 mm, este instrumento é ideal para ... -
0.15 nm Microscópios de Alta Resolução Microscópios Atómicos Personalizados
Microscópio de Força Atômica Avançado para Imagem de Alta Resolução Descrição do Produto: O Microscópio de Força Atômica é uma ferramenta de ponta projetada para imagem de alta resolução e análise em nanoescala. Com uma faixa de varredura de 100 μm X 100 μm X 10 μm, este AFM oferece capacidades de ...