Found
18
products for "afm systems
"-
AtomExplorer: высокоточный сканирующий микроскоп (SPM/AFM)
Описание продукта: The Basic-type Atomic Force Microscope is a cutting-edge nanoscale microscope designed to provide high-precision imaging and multifunctional measurement capabilities for a wide range of scientific and industrial applicationsЭтот передовой инструмент использует трехосевой метод ска... -
Малошумная Z-ось для высокоточной характеризации наноматериалов
Описание продукта: Атомно-силовой микроскоп (АСМ) - это современная универсальная система АСМ, разработанная для обеспечения беспрецедентной точности и универсальности при наноразмерном изображении и измерениях. Используя метод сканирования образца по трем осям XYZ, этот АСМ обеспечивает всесторонни... -
Многофункциональное измерение (MFM/EFM) для целевых научных исследований
Описание продукта:Микроскоп атомной силы (AFM) - это высокоразвитый инструмент, предназначенный для многофункциональных измерений, предлагающий непревзойденную универсальность и точность в наноразмере изображения и анализа.Эта современная AFM интегрирует различные режимы измерения, включая электрост... -
Гибкое 3D сканирование для электроники, биоматериалов и исследований точности
Описание продукта:Микроскоп атомной силы (AFM) - это современный инструмент, предназначенный для обеспечения непревзойденной точности и универсальности в картографировании свойств поверхности в наномасштабе.Проектировано для удовлетворения требований передовых исследований и промышленных приложений, ... -
AtomEdge Pro: Многофункциональный микроскоп атомной силы 3D-изображение для материалов
Описание продукта:Микроскоп атомной силы (AFM) - это передовой инструмент, предназначенный для высокоточного анализа поверхности и характеристики в нанометровом масштабе.Этот многофункциональный измерительный инструмент объединяет несколько передовых методов микроскопии, включая электростатическую с... -
Режимы касания/касания для наноразмерного анализа субнанометровых материалов
Описание продукта:Микроскоп атомной силы (AFM) - это передовой микроскоп с помощью сканирования, предназначенный для обеспечения исключительных возможностей изображения и измерения в наномасштабе.Проектировано для точности и универсальности, эта модель AFM поддерживает широкий диапазон частот сканир... -
AtomExplorer: Инструмент прецизионной топографии для чипов и наноматериалов
Описание продукта:Атомно-силовой микроскоп (АСМ) базового типа - это универсальный и высокопроизводительный прибор, разработанный для удовлетворения разнообразных потребностей научных исследований и промышленных НИОКР. Этот многофункциональный АСМ оснащен передовыми режимами измерений, включая микро... -
Универсальная платформа обнаружения – пользовательские модули и многосиловая микроскопия для материаловедения
Описание продукта: Атомно-силовой микроскоп (АСМ) - это передовая платформа для наноразмерной характеризации, разработанная для обеспечения беспрецедентной точности и универсальности в анализе поверхности. Благодаря возможности работы с образцами размером до 25 мм, этот прибор идеально подходит для ... -
0.15 Нм высокоразрешительные микроскопы индивидуальные атомные микроскопы
Усовершенствованный атомно-силовой микроскоп для высокоразрешающей визуализации Описание продукта: Атомно-силовой микроскоп - это передовой инструмент, предназначенный для высокоразрешающей визуализации и наноразмерного анализа. С диапазоном сканирования 100 мкм X 100 мкм X 10 мкм, этот АСМ предлага...