logo
Found

18

products for "

afm systems

"
  • AtomExplorer: высокоточный сканирующий микроскоп (SPM/AFM)

    Описание продукта: The Basic-type Atomic Force Microscope is a cutting-edge nanoscale microscope designed to provide high-precision imaging and multifunctional measurement capabilities for a wide range of scientific and industrial applicationsЭтот передовой инструмент использует трехосевой метод ска...
  • Малошумная Z-ось для высокоточной характеризации наноматериалов

    Описание продукта: Атомно-силовой микроскоп (АСМ) - это современная универсальная система АСМ, разработанная для обеспечения беспрецедентной точности и универсальности при наноразмерном изображении и измерениях. Используя метод сканирования образца по трем осям XYZ, этот АСМ обеспечивает всесторонни...
  • Многофункциональное измерение (MFM/EFM) для целевых научных исследований

    Описание продукта:Микроскоп атомной силы (AFM) - это высокоразвитый инструмент, предназначенный для многофункциональных измерений, предлагающий непревзойденную универсальность и точность в наноразмере изображения и анализа.Эта современная AFM интегрирует различные режимы измерения, включая электрост...
  • Гибкое 3D сканирование для электроники, биоматериалов и исследований точности

    Описание продукта:Микроскоп атомной силы (AFM) - это современный инструмент, предназначенный для обеспечения непревзойденной точности и универсальности в картографировании свойств поверхности в наномасштабе.Проектировано для удовлетворения требований передовых исследований и промышленных приложений, ...
  • AtomEdge Pro: Многофункциональный микроскоп атомной силы 3D-изображение для материалов

    Описание продукта:Микроскоп атомной силы (AFM) - это передовой инструмент, предназначенный для высокоточного анализа поверхности и характеристики в нанометровом масштабе.Этот многофункциональный измерительный инструмент объединяет несколько передовых методов микроскопии, включая электростатическую с...
  • Режимы касания/касания для наноразмерного анализа субнанометровых материалов

    Описание продукта:Микроскоп атомной силы (AFM) - это передовой микроскоп с помощью сканирования, предназначенный для обеспечения исключительных возможностей изображения и измерения в наномасштабе.Проектировано для точности и универсальности, эта модель AFM поддерживает широкий диапазон частот сканир...
  • AtomExplorer: Инструмент прецизионной топографии для чипов и наноматериалов

    Описание продукта:Атомно-силовой микроскоп (АСМ) базового типа - это универсальный и высокопроизводительный прибор, разработанный для удовлетворения разнообразных потребностей научных исследований и промышленных НИОКР. Этот многофункциональный АСМ оснащен передовыми режимами измерений, включая микро...
  • Универсальная платформа обнаружения – пользовательские модули и многосиловая микроскопия для материаловедения

    Описание продукта: Атомно-силовой микроскоп (АСМ) - это передовая платформа для наноразмерной характеризации, разработанная для обеспечения беспрецедентной точности и универсальности в анализе поверхности. Благодаря возможности работы с образцами размером до 25 мм, этот прибор идеально подходит для ...
  • 0.15 Нм высокоразрешительные микроскопы индивидуальные атомные микроскопы

    Усовершенствованный атомно-силовой микроскоп для высокоразрешающей визуализации Описание продукта: Атомно-силовой микроскоп - это передовой инструмент, предназначенный для высокоразрешающей визуализации и наноразмерного анализа. С диапазоном сканирования 100 мкм X 100 мкм X 10 мкм, этот АСМ предлага...
Предыдущий
Page 2 из 2
ЗАТЕМ