Описание продукта:Микроскоп атомной силы (AFM) - это передовой инструмент, предназначенный для высокоточного анализа поверхности и характеристики в нанометровом масштабе.Этот многофункциональный измерительный инструмент объединяет несколько передовых методов микроскопии, включая электростатическую с...

Микроскоп атомной силы высокого разрешения для анализа на наномасштабе Описание продукта: Микроскоп атомной силы (AFM) - универсальный инструмент для анализа поверхности, обычно используемый в различных научных и промышленных приложениях.Это передовое устройство предлагает исключительные возможности ...

Многофункциональный атомно-силовой микроскоп с режимами MFM, EFM, PFM Описание продукта: Одной из ключевых особенностей АСМ являются низкие уровни шума как в направлении Z, так и в направлении XY, что обеспечивает точные и надежные измерения. Уровень шума в направлении Z составляет впечатляющие 0,04 ...

Усовершенствованный сканирующий зондовый микроскоп для наномасштабных измерений Описание продукта: Атомно-силовой микроскоп (АСМ) - это передовой инструмент, предлагающий многорежимные возможности измерений с нанометровым разрешением, что делает его незаменимым прибором для различных исследовательск...

Усовершенствованный атомно-силовой микроскоп для высокоразрешающей визуализации Описание продукта: Атомно-силовой микроскоп - это передовой инструмент, предназначенный для высокоразрешающей визуализации и наноразмерного анализа. С диапазоном сканирования 100 мкм X 100 мкм X 10 мкм, этот АСМ предлага...

Высокоточный сканирующий зондовый микроскоп разрешение 0,15 Нм Описание продукта: Микроскоп атомной силы (AFM) - это передовой инструмент, который предлагает исключительные возможности для анализа поверхности с нанометровым разрешением.данный продукт AFM обеспечивает точную визуализацию и измерение ...

Описание продукта:Атомно-силовой микроскоп базового типа - это передовой прибор, предназначенный для обеспечения точного анализа поверхности с высоким разрешением с помощью передовых возможностей сканирования. Используя метод сканирования образца по трем осям XYZ, этот микроскоп обеспечивает всестор...

Усовершенствованный АСМ с несколькими режимами для наноразмерной характеризации Описание продукта: Атомно-силовой микроскоп - это современный прибор, предназначенный для высокоточной анализа поверхности и наноразмерной характеризации. С уровнем шума в направлении Z 0,04 нм, этот микроскоп обеспечива...

Название продукта Атомно-силовой микроскоп базового типа - AtomExplorer Введение в продукт Атомно-силовой микроскоп базового типа AtomExplorer обеспечивает разрешение субнанометрового уровня для наблюдения за топографией и текстурой поверхности материала. Он захватывает тонкие структуры и мельчайшие ...