คําอธิบายสินค้า:เครื่องจองจุลินทรีย์พลังอะตอม (AFM) เป็นเครื่องมือที่มีความทันสมัย ที่ถูกออกแบบมาเพื่อการวิเคราะห์และการระบุลักษณะผิวที่มีความแม่นยําสูงในขนาดนาโนเมตรเครื่องมือวัดหลายประการนี้รวมเทคนิคกล้องจุลินทรีย์ที่ทันสมัยหลายอย่าง, รวมถึงกล้องจุลินทรีย์แรงไฟฟ้าสแตตติก (EFM), เครื่องจุลินทรีย์สแ...

กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมความละเอียดสูงสำหรับการวิเคราะห์ระดับนาโน รายละเอียดสินค้า: กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM) เป็นเครื่องมืออเนกประสงค์สำหรับการวิเคราะห์พื้นผิว ซึ่งใช้กันทั่วไปในการใช้งานทางวิทยาศาสตร์และอุตสาหกรรมต่างๆ อุปกรณ์ล้ำสมัยนี้มีความสามารถในการสแกนที่ยอดเยี่ยมและการถ่ายภาพที่แม่นยำสำหรับ...

มิโครสโกปพลังอะตอมหลายฟังก์ชัน ด้วยโหมด MFM EFM PFM คําอธิบายสินค้า: หนึ่งในลักษณะสําคัญของ AFM คือระดับเสียงต่ําของมันในทิศทาง Z และทิศทาง XY ทั้งสอง, รับประกันการวัดที่แม่นยําและน่าเชื่อถือ.04 nm, ให้ความรู้สึกพิเศษในการจับการเปลี่ยนแปลงพื้นผิวและการปฏิสัมพันธ์ที่ละเอียดในทิศทาง XY ระดับเสียงถูกรั...

กล้องจุลทรรศน์โพรบสแกนขั้นสูงสำหรับการวัดระดับนาโน รายละเอียดสินค้า: กล้องจุลทรรศน์แรงปรมาณู (AFM) เป็นเครื่องมือล้ำสมัยที่นำเสนอความสามารถในการวัดแบบหลายโหมดด้วยความละเอียดระดับนาโนเมตร ทำให้เป็นเครื่องมือสำคัญสำหรับการวิจัยและการใช้งานในอุตสาหกรรมต่างๆ ด้วยความละเอียดที่น่าทึ่ง 0.04 nm AFM ให้ภาพแ...

กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมขั้นสูงสำหรับการถ่ายภาพความละเอียดสูง รายละเอียดสินค้า: กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมเป็นเครื่องมือล้ำสมัยที่ออกแบบมาสำหรับการถ่ายภาพความละเอียดสูงและการวิเคราะห์ระดับนาโน ด้วยช่วงการสแกน 100 μm X 100 μm X 10 μm AFM นี้ให้ความสามารถในการถ่ายภาพความละเอียดอะตอม ซึ่งจำเป็นสำหรับการใช้งา...

กล้องจุลทรรศน์โพรบสแกนที่มีความแม่นยำสูงความละเอียด 0.15 นาโนเมตรความละเอียด คำอธิบายผลิตภัณฑ์: กล้องจุลทรรศน์แรงปรมาณู (AFM) เป็นเครื่องมือที่ทันสมัยซึ่งมีความสามารถพิเศษสำหรับการวิเคราะห์พื้นผิวความละเอียดนาโนเมตร ด้วยช่วงการสแกน 100 μm x 100 μm x 10 μmผลิตภัณฑ์ AFM นี้ให้การถ่ายภาพและการวัดตัวอย่...

รายละเอียดสินค้า:กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมชนิดพื้นฐานเป็นเครื่องมือที่ทันสมัยซึ่งออกแบบมาเพื่อการวิเคราะห์พื้นผิวที่มีความแม่นยำสูงและมีความละเอียดสูงผ่านความสามารถในการสแกนขั้นสูง การใช้การสแกนตัวอย่างแบบสามแกน XYZ ทำให้กล้องจุลทรรศน์นี้สามารถตรวจสอบตัวอย่างได้อย่างครอบคลุมและละเอียด ทำให้มั่นใจได้ถึง...

AFM ที่ทันสมัยที่มีหลายโหมดสําหรับการประกอบลักษณะขนาดนาโน คําอธิบายสินค้า: มิโครสโกปพลังอะตอมิค (Atomic Force Microscope) เป็นอุปกรณ์ที่มีความทันสมัย ที่ถูกออกแบบมาเพื่อการวิเคราะห์พื้นผิวด้วยความแม่นยําสูง และการแสดงลักษณะขนาดนาโนมิกรอสโกปนี้มีความรู้สึกและความแม่นยําอย่างพิเศษในการจับรายละเอียดพื้...

ชื่อสินค้า กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมชนิดพื้นฐาน - AtomExplorer แนะนำผลิตภัณฑ์ กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมชนิดพื้นฐาน AtomExplorer ให้ความละเอียดต่ำกว่านาโนเมตรสำหรับการสังเกตภูมิประเทศและพื้นผิวของวัสดุ โดยจะบันทึกโครงสร้างที่ละเอียดและคุณสมบัติเล็กๆ น้อยๆ บนพื้นผิวของวัสดุในระดับต่างๆ ตั้งแต่นาโนเมตรถึงไมโ...