Productbeschrijving: De Atomic Force Microscope (AFM) is een geavanceerd instrument ontworpen voor zeer precieze oppervlakteanalyse en -karakterisering op de nanometerschaal. Deze multifunctionele meettool integreert verschillende geavanceerde microscopietechnieken, waaronder Elektrostatische Kracht ...

Hoge-resolutie Atomic Force Microscope voor nanoscale analyse Productbeschrijving: De Atomic Force Microscope (AFM) is een veelzijdig hulpmiddel voor oppervlakteanalyse, veelgebruikt in diverse wetenschappelijke en industriële toepassingen. Dit geavanceerde apparaat biedt uitzonderlijke scanmogelijk...

Multifunctionele Atomic Force Microscoop met MFM EFM PFM Modi Productbeschrijving: Een van de belangrijkste kenmerken van de AFM zijn de lage ruisniveaus in zowel de Z- als de XY-richting, wat zorgt voor nauwkeurige en betrouwbare metingen. Het ruisniveau in de Z-richting is een indrukwekkende 0,04 ...

Geavanceerde scansondemicroscoop voor nanometen Productbeschrijving: De Atomic Force Microscope (AFM) is een geavanceerd instrument dat meerdere meetmogelijkheden biedt met een nanometerresolutie.Het maakt het een essentieel instrument voor verschillende onderzoeks- en industriële toepassingen.. Met ...

Geavanceerde Atomic Force Microscoop voor Hoge-Resolutie Beeldvorming Productbeschrijving: De Atomic Force Microscoop is een geavanceerd hulpmiddel ontworpen voor beeldvorming met hoge resolutie en analyse op nanoschaal. Met een scanbereik van 100 μm X 100 μm X 10 μm biedt deze AFM beeldvormingsmoge...

Hoge precisie scanning sonde microscoop 0,15 nm resolutie Productbeschrijving: De atomaire krachtmicroscoop (AFM) is een geavanceerd instrument dat uitzonderlijke mogelijkheden biedt voor oppervlakte-analyse van nanometerresolutie. Met een scangebereik van 100 μm x 100 μm x 10 μm biedt dit AFM ...

Productbeschrijving:De Atomic Force Microscoop van het basistype is een geavanceerd instrument dat is ontworpen om nauwkeurige oppervlakteanalyse met hoge resolutie te leveren door middel van geavanceerde scanmogelijkheden. Met behulp van een XYZ-drie-assige full-sample scanmethode maakt deze ...

Geavanceerde AFM met meerdere modi voor nanoschaalkarakterisering Productbeschrijving: De Atomic Force Microscope is een geavanceerd instrument dat is ontworpen voor een zeer nauwkeurige oppervlaktanalyse en karakterisering op nanoschaal.deze microscoop biedt uitzonderlijke gevoeligheid en ...

Productnaam Basic-type Atomic Force Microscope - AtomExplorer Productintroductie De AtomExplorer Basic-type Atomic Force Microscope levert sub-nanometer resolutie voor het observeren van de oppervlakte topografie en textuur van materialen. Het legt fijne structuren en minuscule kenmerken vast op ...