Description du produit:Le microscope à force atomique (AFM) est un instrument de pointe conçu pour l'analyse et la caractérisation de surface de haute précision à l'échelle nanométrique.Cet outil de mesure multifonctionnel intègre plusieurs techniques de microscopie avancées, y compris la microscopi...

Microscope de force atomique à haute résolution pour l'analyse à l'échelle nanométrique Description du produit: Le microscope à force atomique (AFM) est un outil polyvalent pour l'analyse de surface, couramment utilisé dans diverses applications scientifiques et industrielles.Cet appareil de pointe ...

Microscope de force atomique multifonctionnel avec modes MFM EFM PFM Description du produit: L'une des principales caractéristiques de l'AFM est son faible niveau de bruit dans la direction Z et dans la direction XY, assurant des mesures précises et fiables..Le niveau de bruit est maintenu à 0,4 nm ...

Microscope à sonde à balayage avancé pour les mesures à l'échelle nanométrique Description du produit : Le microscope à force atomique (AFM) est un outil de pointe qui offre des capacités de mesure multi-modes avec une résolution nanométrique, ce qui en fait un instrument essentiel pour diverses ...

Microscope à force atomique avancé pour l'imagerie haute résolution Description du produit : Le microscope à force atomique est un outil de pointe conçu pour l'imagerie haute résolution et l'analyse à l'échelle nanométrique. Avec une plage de balayage de 100 µm x 100 µm x 10 µm, ce AFM offre des ...

Microscope à sonde de balayage de haute précision Résolution 0,15 nm Description du produit: Le microscope à force atomique (AFM) est un instrument de pointe qui offre des capacités exceptionnelles pour l'analyse de surface à résolution nanométrique.ce produit AFM permet d'obtenir des images et des ...

Description du produit:Le microscope de force atomique de type Basic est un instrument de pointe conçu pour fournir une analyse de surface précise et haute résolution grâce à des capacités de balayage avancées.Utilisation d'une méthode de balayage à échantillon complet XYZ à trois axes, ce ...

AFM Avancée avec Modes Multiples pour la Caractérisation à l'Échelle Nanométrique Description du produit : Le microscope à force atomique est un instrument de pointe conçu pour l'analyse de surface de haute précision et la caractérisation à l'échelle nanométrique. Avec un niveau de bruit dans la ...

Nom du produit Microscope de force atomique de type de base - AtomExplorer Introduction du produit Le microscope de force atomique de type AtomExplorer Basic offre une résolution inférieure aux nanomètres pour observer la topographie et la texture de la surface du matériau.Il capture des structures ...