Çok Fonksiyonlu AFM Atomik Kuvvet Mikroskopi Hassas Biyoloji Mikroskopu

Name: Çok Fonksiyonlu AFM Atomik Kuvvet Mikroskopi Hassas Biyoloji Mikroskopu
Brand: Truth Instruments Co., Ltd.
SKU: Atomedge Pro
Availability: InStock

Multi-Functional Atomic Force Microscope Product Model: AtomEdge Pro Product Description: The AtomEdge Pro multi-functional atomic force microscope canperform three-dimensional scanning imaging on materials, electronic devices, biological samples, etc. lt features multiple working modes such as contact, tap, and non-contact, providing users with more flexible and precise operation options. In addition, it integrates multiple functional modes such as magnetic force microscopy,

Etiketler:

AFM mikroskobu

AFM Sistemleri

Tarama Sondu Mikroskopu

Ürün Ayrıntıları

Vurgulamak:

Çok fonksiyonel AFM Atomik Kuvvet Mikroskopi

AFM Atomik Kuvvet Mikroskopisi

Bioloji Mikroskopu

Name: AFM atomik kuvvet mikroskopisi

Scanning Method: XYZ Üç Eksenli Tam Örnek Tarama

Scanning Range: 100 μm x100 μmx 10 μm

Scanning Rate: 0.1-30 Hz

Noise Level In The XY Direction: 0,4 deniz mili

Noise Level In The Z Direction: 0.04 nm

Temel özellikler

Menşe yeri: ÇİN

Marka Adı: Truth Instruments

Model Numarası: Atomedge Pro

Ticaret Mülkleri

Asgari sipariş miktarı: 1

Fiyat: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote

Ödeme Şartları: T/T

Ürün Tanımı

Çok Fonksiyonlu Atomik Kuvvet Mikroskopu

Ürün modeli:

AtomEdge Pro

Ürün Tanımı:

AtomEdge Pro çok fonksiyonel atomik kuvvet mikroskopu, malzemeler, elektronik cihazlar, biyolojik örnekler vb. üzerinde üç boyutlu tarama görüntülemesi yapabilir.Birden fazla çalışma moduna sahiptir., dokunma ve temassız, kullanıcılara daha esnek ve hassas işletim seçenekleri sunar.Elektrostatik kuvvet mikroskopu, tarama Kelvin mikroskobu ve piezoelektrik kuvvet mikroskobu, güçlü bir istikrar ve iyi ölçeklenebilirlik özelliğine sahiptir. Ayrıca, işlevsel modüller kullanıcı ihtiyaçlarına göre esnek bir şekilde özelleştirilebilir,Belirli araştırma alanları için hedefli çözümler sunmak ve bir makineye birden fazla kullanım için verimli bir tespit platformu elde etmek.

Ekipmanın performansı:

Örnek Boyutu	25 mm
Tarama Yöntemi	XYZ üç eksenli tam örnek taraması
Tarama aralığı	100 μm x 100 μm x 10 μm
Tarama Hızı	0.1-30 Hz
XY yönünde gürültü seviyesi	0.4 nm
Z yönünde gürültü seviyesi	0.04 nm
Doğrusal olmayanlık	0XY yönünde %15 ve Z yönünde %1
Resim Örnekleme Noktası	Tarama sonda görüntüsünün maksimum çözünürlüğü 4096x4096
Çalışma Modu	Temas modu, dokunma modu, faz görüntüleme modu, kaldırma modu, çok yönlü tarama modu
Çok fonksiyonel Ölçüm	Elektrostatik kuvvet mikroskobu (EFM), tarama Kelvin mikroskobu (KPFM), piezoelektrik kuvvet mikroskobu (PFM), manyetik kuvvet mikroskobu (MFM), kuvvet eğrisi