Mehrfunktionales AFM Atomkraftmikroskopie Präzisionsbiologie Mikroskop

Name: Mehrfunktionales AFM Atomkraftmikroskopie Präzisionsbiologie Mikroskop
Brand: Truth Instruments Co., Ltd.
SKU: Atomedge Pro
Availability: InStock

Multi-Functional Atomic Force Microscope Product Model: AtomEdge Pro Product Description: The AtomEdge Pro multi-functional atomic force microscope canperform three-dimensional scanning imaging on materials, electronic devices, biological samples, etc. lt features multiple working modes such as contact, tap, and non-contact, providing users with more flexible and precise operation options. In addition, it integrates multiple functional modes such as magnetic force microscopy,

Umbauten:

AFM -Mikroskop

AFM Systeme

Rasterkraftmikroskop

Produktdetails

Hervorheben:

Multifunktionale AFM Atomkraftmikroskopie

AFM Atomkraftmikroskopie Präzision

Präzises Biomikroskop

Name: AFM -Atomkraftmikroskopie

Scanning Method: XYZ Drei-Achsen Vollprobenscanning

Scanning Range: 100 μm x100 μmx 10 μm

Scanning Rate: 0,1-30 Hz

Noise Level In The XY Direction: 0,4 Nanometer

Noise Level In The Z Direction: 0,04 nm

Grundlegende Eigenschaften

Herkunftsort: CHINA

Markenbezeichnung: Truth Instruments

Modellnummer: Atomedge Pro

Immobilienhandel

Mindestbestellmenge: 1

Preis: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote

Zahlungsbedingungen: T/t

Produkt-Beschreibung

Mehrfunktionales Atomkraftmikroskop

Produktmodell:

AtomEdge Pro

Beschreibung des Produkts:

Das Multi-Funktions-Atomkraftmikroskop AtomEdge Pro kann dreidimensionale Scanning-Bilder von Materialien, elektronischen Geräten, biologischen Proben usw. erstellen.Es verfügt über mehrere Arbeitsmodi wie Kontakt, Tap und berührungslos, so dass Benutzer flexiblere und präzisere Bedienmöglichkeiten haben.Elektrostatische Kraftmikroskopie, Scanning Kelvin-Mikroskopie und Piezoelektrische Kraftmikroskopie, mit starker Stabilität und guter Skalierbarkeit.Bereitstellung zielgerichteter Lösungen für spezifische Forschungsfelder und Erreichung einer effizienten Erkennungsplattform mit mehreren Anwendungen in einer Maschine.

Ausrüstungsleistung:

Stichprobengröße	25 mm
Scannungsmethode	XYZ-Drei-Achsen-Fullprobenscanning
Abstand der Scan	100 μm x 100 μm x 10 μm
Scannenrate	0.1 bis 30 Hz
Geräuschpegel in der XY-Richtung	0.4 nm
Geräuschpegel in Z-Richtung	00,04 nm
Nichtlinearität	0.15% in der xY-Richtung und 1% in der Z-Richtung
Bild Probenahmepunkt	Die maximale Auflösung des Scan-Sonde-Bildes beträgt 4096x4096
Betriebsmodus	Kontaktmodus, Tappingmodus, Phasenbildmodus, Liftmodus, Mehrrichtungsscannermodus
Multifunktionales Messung	Elektrostatisches Kraftmikroskop (EFM), Scannen-Kelvin-Mikroskop (KPFM), Piezoelektrische Kraftmikroskop (PFM), Magnetkraftmikroskop (MFM), Kraftkurve