Многофункциональная АФМ Микроскопия атомных сил Микроскоп точной биологии

Name: Многофункциональная АФМ Микроскопия атомных сил Микроскоп точной биологии
Brand: Truth Instruments Co., Ltd.
SKU: Atomedge Pro
Availability: InStock

Multi-Functional Atomic Force Microscope Product Model: AtomEdge Pro Product Description: The AtomEdge Pro multi-functional atomic force microscope canperform three-dimensional scanning imaging on materials, electronic devices, biological samples, etc. lt features multiple working modes such as contact, tap, and non-contact, providing users with more flexible and precise operation options. In addition, it integrates multiple functional modes such as magnetic force microscopy,

Бирки:

АСМ микроскоп

Системы AFM

Микроскоп сканирующего зонда

Детали продукта

Выделить:

Многофункциональная микроскопия атомной силы

Микроскопия атомной силы AFM

Микроскоп точной биологии

Name: Атомная силовая микроскопия АСМ

Scanning Method: XYZ Трехо осевой

Scanning Range: 100 мкм x100 мкм 10 мкм

Scanning Rate: 0,1-30 Гц

Noise Level In The XY Direction: 0,4 nm

Noise Level In The Z Direction: 0,04 нм

Основные свойства

Место происхождения: КИТАЙ

Наименование марки: Truth Instruments

Номер модели: Atomedge Pro

Торговая недвижимость

Минимальное количество заказа: 1

Цена: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote

Условия оплаты: T/T.

Характер продукции

Многофункциональный атомно-силовой микроскоп

Модель продукта:

AtomEdge Pro

Описание продукта:

Многофункциональный атомно-силовой микроскоп AtomEdge Pro может выполнять трехмерное сканирование и визуализацию материалов, электронных устройств, биологических образцов и т. д. Он имеет несколько рабочих режимов, таких как контактный, прерывистый и бесконтактный, предоставляя пользователям более гибкие и точные варианты работы. Кроме того, он интегрирует несколько функциональных режимов, таких как микроскопия магнитных сил, микроскопия электростатических сил, сканирующая кельвиновская микроскопия и пьезоэлектрическая силовая микроскопия, обладая высокой стабильностью и хорошей масштабируемостью. Кроме того, функциональные модули могут быть гибко настроены в соответствии с потребностями пользователя, предоставляя целевые решения для конкретных областей исследований и обеспечивая эффективную платформу обнаружения с несколькими вариантами использования в одном устройстве.

Производительность оборудования:

Размер образца	25 мм
Метод сканирования	Трехкоординатное сканирование по образцу XYZ
Диапазон сканирования	100 мкм x 100 мкм x 10 мкм
Скорость сканирования	0,1-30 Гц
Уровень шума в направлении XY	0,4 нм
Уровень шума в направлении Z	0,04 нм
Нелинейность	0,15% в направлении XY и 1% в направлении Z
Точка дискретизации изображения	Максимальное разрешение изображения сканирующего зонда составляет 4096x4096
Рабочий режим	Контактный режим, прерывистый режим, режим фазовой визуализации, режим подъема, многонаправленный режим сканирования
Многофункциональность Измерение	Микроскоп электростатических сил (EFM), сканирующий кельвиновский микроскоп (KPFM), пьезоэлектрический силовой микроскоп (PFM), микроскоп магнитных сил (MFM), силовая кривая