Microscopie de la force atomique multi-fonctionnelle AFM Microscope de biologie précise

Name: Microscopie de la force atomique multi-fonctionnelle AFM Microscope de biologie précise
Brand: Truth Instruments Co., Ltd.
SKU: Atomedge Pro
Availability: InStock

Multi-Functional Atomic Force Microscope Product Model: AtomEdge Pro Product Description: The AtomEdge Pro multi-functional atomic force microscope canperform three-dimensional scanning imaging on materials, electronic devices, biological samples, etc. lt features multiple working modes such as contact, tap, and non-contact, providing users with more flexible and precise operation options. In addition, it integrates multiple functional modes such as magnetic force microscopy,

Étiquettes:

Microscope AFM

Systèmes de gestion aérienne

Microscope de sonde à balayage

Détails de produit

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Microscopie de la force atomique AFM multifonctionnelle

AFM Microscopie de la force atomique précise

Microscope de biologie précise

Name: Microscopie à force atomique AFM

Scanning Method: XYZ SCALLATION EXEMPLAGE FULLE AXIS

Scanning Range: 100 μm x100 μmx 10 μm

Scanning Rate: 0,1 à 30 Hz

Noise Level In The XY Direction: 0,4 nanomètres

Noise Level In The Z Direction: 0,04 nm

Propriétés de base

Lieu d'origine: CHINE

Nom de marque: Truth Instruments

Numéro de modèle: Atomedge Pro

Propriétés commerciales

Quantité de commande minimale: 1

Prix: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote

Conditions de paiement: T / t

Description de produit

Microscope à force atomique multifonctionnel

Modèle du produit :

AtomEdge Pro

Description du produit :

Le microscope à force atomique multifonctionnel AtomEdge Pro peut effectuer une imagerie par balayage tridimensionnel sur des matériaux, des dispositifs électroniques, des échantillons biologiques, etc. Il propose plusieurs modes de fonctionnement tels que contact, tapotement et sans contact, offrant aux utilisateurs des options d'opération plus flexibles et précises. De plus, il intègre plusieurs modes fonctionnels tels que la microscopie à force magnétique, la microscopie à force électrostatique, la microscopie de Kelvin à balayage et la microscopie à force piézoélectrique, offrant une grande stabilité et une bonne évolutivité. De plus, les modules fonctionnels peuvent être personnalisés de manière flexible en fonction des besoins de l'utilisateur, offrant des solutions ciblées pour des domaines de recherche spécifiques et réalisant une plateforme de détection efficace avec de multiples utilisations en une seule machine.

Performance de l'équipement :

Taille de l'échantillon	25 mm
Méthode de balayage	Balayage complet de l'échantillon sur trois axes XYZ
Plage de balayage	100 μm x 100 μm x 10 μm
Vitesse de balayage	0,1-30 Hz
Niveau de bruit dans la direction XY	0,4 nm
Niveau de bruit dans la direction Z	0,04 nm
Non-linéarité	0,15 % dans la direction XY et 1 % dans la direction Z
Point d'échantillonnage de l'image	La résolution maximale de l'image de la sonde de balayage est de 4096x4096
Mode de fonctionnement	Mode contact, mode tapotement, mode d'imagerie de phase, mode levage, mode de balayage multidirectionnel
Multifonctionnel Mesure	Microscope à force électrostatique (EFM), microscope de Kelvin à balayage (KPFM), microscope à force piézoélectrique (PFM), microscope à force magnétique (MFM), courbe de force