กล้องจุลทรรศน์ชีวภาพความแม่นยำสูง AFM Atomic Force Microscopy อเนกประสงค์

Name: กล้องจุลทรรศน์ชีวภาพความแม่นยำสูง AFM Atomic Force Microscopy อเนกประสงค์
Brand: Truth Instruments Co., Ltd.
SKU: Atomedge Pro
Availability: InStock

Multi-Functional Atomic Force Microscope Product Model: AtomEdge Pro Product Description: The AtomEdge Pro multi-functional atomic force microscope canperform three-dimensional scanning imaging on materials, electronic devices, biological samples, etc. lt features multiple working modes such as contact, tap, and non-contact, providing users with more flexible and precise operation options. In addition, it integrates multiple functional modes such as magnetic force microscopy,

แท็ก:

กล้องจุลทรรศน์ AFM

ระบบ AFM

กล้องจุลทรรศน์แบบสแกนโพรบ

รายละเอียดสินค้า

เน้น:

AFM Atomic Force Microscopy อเนกประสงค์

AFM Atomic Force Microscopy แม่นยำ

กล้องจุลทรรศน์ชีวภาพความแม่นยำสูง

Name: กล้องจุลทรรศน์อะตอม AFM

Scanning Method: การสแกนตัวอย่างเต็มรูปแบบของ XYZ สามแกน

Scanning Range: 100 μm x100 μmx 10 μm

Scanning Rate: 0.1-30 Hz

Noise Level In The XY Direction: 0.4 นาโนเมตร

Noise Level In The Z Direction: 0.04 นาโนเมตร

คุณสมบัติพื้นฐาน

สถานที่กำเนิด: จีน

ชื่อแบรนด์: Truth Instruments

เลขรุ่น: Atomedge Pro

การซื้อขายอสังหาริมทรัพย์

ปริมาณการสั่งซื้อขั้นต่ำ: 1

ราคา: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote

เงื่อนไขการจ่ายเงิน: t/t

คําอธิบายสินค้า

กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมแบบหลายฟังก์ชัน

รุ่นผลิตภัณฑ์:

AtomEdge Pro

รายละเอียดผลิตภัณฑ์:

กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมแบบหลายฟังก์ชัน AtomEdge Pro สามารถทำการถ่ายภาพสแกนสามมิติบนวัสดุ อุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ ตัวอย่างทางชีวภาพ ฯลฯ มีโหมดการทำงานหลายโหมด เช่น การสัมผัส การแตะ และแบบไม่สัมผัส ซึ่งให้ตัวเลือกการทำงานที่ยืดหยุ่นและแม่นยำยิ่งขึ้นแก่ผู้ใช้ นอกจากนี้ยังรวมโหมดการทำงานหลายโหมด เช่น กล้องจุลทรรศน์แรงแม่เหล็ก กล้องจุลทรรศน์แรงไฟฟ้า กล้องจุลทรรศน์สแกนเคลวิน และกล้องจุลทรรศน์แรงเพียโซอิเล็กทริก ซึ่งมีความเสถียรสูงและสามารถปรับขนาดได้ดี นอกจากนี้ โมดูลการทำงานยังสามารถปรับแต่งได้อย่างยืดหยุ่นตามความต้องการของผู้ใช้ โดยให้โซลูชันที่ตรงเป้าหมายสำหรับสาขาวิจัยเฉพาะ และบรรลุแพลตฟอร์มการตรวจจับที่มีประสิทธิภาพพร้อมการใช้งานหลายอย่างในเครื่องเดียว

ประสิทธิภาพของอุปกรณ์:

ขนาดตัวอย่าง	25 มม.
วิธีการสแกน	การสแกนตัวอย่างเต็มรูปแบบสามแกน XYZ
ช่วงการสแกน	100 μm x100 μmx 10 μm
อัตราการสแกน	0.1-30 Hz
ระดับเสียงรบกวนในทิศทาง XY	0.4 nm
ระดับเสียงรบกวนในทิศทาง Z	0.04 nm
ความไม่เป็นเชิงเส้น	0.15% ในทิศทาง xY และ 1% ในทิศทาง Z
จุดสุ่มตัวอย่างภาพ	ความละเอียดสูงสุดของภาพโพรบสแกนคือ 4096x4096
โหมดการทำงาน	โหมดสัมผัส, โหมดแตะ, โหมดการถ่ายภาพเฟส, โหมดลิฟต์, โหมดการสแกนหลายทิศทาง
มัลติฟังก์ชัน การวัด	กล้องจุลทรรศน์แรงไฟฟ้าสถิต (EFM), กล้องจุลทรรศน์สแกนเคลวิน (KPFM), กล้องจุลทรรศน์แรงเพียโซอิเล็กทริก (PFM), กล้องจุลทรรศน์แรงแม่เหล็ก (MFM), เส้นโค้งแรง