Mikroskop Biologi Presisi Mikroskopi Gaya Atom AFM Multi Fungsi

Name: Mikroskop Biologi Presisi Mikroskopi Gaya Atom AFM Multi Fungsi
Brand: Truth Instruments Co., Ltd.
SKU: Atomedge Pro
Availability: InStock

Multi-Functional Atomic Force Microscope Product Model: AtomEdge Pro Product Description: The AtomEdge Pro multi-functional atomic force microscope canperform three-dimensional scanning imaging on materials, electronic devices, biological samples, etc. lt features multiple working modes such as contact, tap, and non-contact, providing users with more flexible and precise operation options. In addition, it integrates multiple functional modes such as magnetic force microscopy,

Tag:

Mikroskop AFM

Sistem AFM

Mikroskop Probe Pemindaian

Rincian produk

Menyoroti:

Mikroskopi Gaya Atom AFM Multi Fungsi

Presisi AFM Mikroskopi Gaya Atom

Mikroskop Biologi Presisi

Name: Mikroskop gaya atom AFM

Scanning Method: XYZ Tiga sumbu pemindaian sampel penuh

Scanning Range: 100 μm x100 μmx 10 μm

Scanning Rate: 0,1-30 Hz

Noise Level In The XY Direction: 0,4 nm

Noise Level In The Z Direction: 0,04 nm

Properti Dasar

Tempat Asal: CINA

Nama merek: Truth Instruments

Nomor Model: Atomedge Pro

Properti Perdagangan

Jumlah pesanan minimum: 1

Harga: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote

Ketentuan Pembayaran: T/t

Deskripsi Produk

Mikroskop Kekuatan Atom Multifungsi

Model produk:

AtomEdge Pro

Deskripsi produk:

Mikroskop kekuatan atom multi-fungsi AtomEdge Pro dapat melakukan pencitraan pemindaian tiga dimensi pada bahan, perangkat elektronik, sampel biologis, dll.Ini memiliki beberapa mode kerja seperti kontak, tap, dan non-kontak, menyediakan pengguna dengan pilihan operasi yang lebih fleksibel dan tepat.Mikroskopi gaya elektrostatikSelain itu, modul fungsional dapat disesuaikan secara fleksibel sesuai dengan kebutuhan pengguna.menyediakan solusi yang ditargetkan untuk bidang penelitian tertentu dan mencapai platform deteksi yang efisien dengan beberapa penggunaan dalam satu mesin.

Kinerja peralatan:

Ukuran Sampel	25 mm
Metode Pemindaian	XYZ pemindaian sampel penuh tiga sumbu
Jangkauan Pemindaian	100 μm x 100 μm x 10 μm
Kecepatan Pemindaian	0.1-30 Hz
Tingkat kebisingan di arah XY	0.4 nm
Tingkat kebisingan di arah Z	00,04 nm
Nonlinearitas	0.15% di arah xY dan 1% di arah Z
Gambar Titik pengambilan sampel	Resolusi maksimum gambar probe pemindaian adalah 4096x4096
Mode Kerja	Mode kontak, mode tap, mode pencitraan fase, mode angkat, mode pemindaian multi arah
Multifungsi Pengukuran	Mikroskop gaya elektrostatik (EFM), mikroskop Kelvin pemindaian (KPFM), mikroskop gaya piezoelektrik (PFM),mikroskop gaya magnetik (MFM), kurva gaya