Multi Functionele AFM Atomic Force Microscopie Precisie Biologie Microscoop

Name: Multi Functionele AFM Atomic Force Microscopie Precisie Biologie Microscoop
Brand: Truth Instruments Co., Ltd.
SKU: Atomedge Pro
Availability: InStock

Multi-Functional Atomic Force Microscope Product Model: AtomEdge Pro Product Description: The AtomEdge Pro multi-functional atomic force microscope canperform three-dimensional scanning imaging on materials, electronic devices, biological samples, etc. lt features multiple working modes such as contact, tap, and non-contact, providing users with more flexible and precise operation options. In addition, it integrates multiple functional modes such as magnetic force microscopy,

Markeringen:

AFM -microscoop

AFM-systemen

Microscoop met scannerprobe

Productdetails

Markeren:

Multi Functionele AFM Atomic Force Microscopie

AFM Atomic Force Microscopie Precisie

Precisie Biologie Microscoop

Name: AFM atomaire krachtmicroscopie

Scanning Method: XYZ Drie-as volledige samping scannen

Scanning Range: 100 μm X100 μmx 10 μm

Scanning Rate: 0,1-30 Hz

Noise Level In The XY Direction: 0,4 NM

Noise Level In The Z Direction: 0,04 nm

Basiseigenschappen

Plaats van herkomst: CHINA

Merknaam: Truth Instruments

Modelnummer: Atomedge Pro

Handelsgoederen

Minimale bestelhoeveelheid: 1

Prijs: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote

Betalingsvoorwaarden: T/t

Productomschrijving

Multifunctionele Atomic Force Microscoop

Productmodel:

AtomEdge Pro

Productbeschrijving:

De multifunctionele atomic force microscoop AtomEdge Pro kan driedimensionale scanbeelden maken van materialen, elektronische apparaten, biologische monsters, etc. Het beschikt over meerdere werkmodi zoals contact, tap en non-contact, waardoor gebruikers flexibelere en preciezere bedieningsopties hebben. Daarnaast integreert het meerdere functionele modi zoals magnetische krachtmicroscopie, elektrostatische krachtmicroscopie, scanning Kelvin microscopie en piëzo-elektrische krachtmicroscopie, met een sterke stabiliteit en goede schaalbaarheid. Bovendien kunnen functionele modules flexibel worden aangepast aan de behoeften van de gebruiker, waardoor gerichte oplossingen worden geboden voor specifieke onderzoeksgebieden en een efficiënt detectieplatform met meerdere toepassingen in één machine wordt bereikt.

Apparatuurprestaties:

Monstergrootte	25 mm
Scanmethode	XYZ drie-assige volledige monsterscanning
Scanbereik	100 μm x 100 μm x 10 μm
Scansnelheid	0,1-30 Hz
Ruisniveau in de XY-richting	0,4 nm
Ruisniveau in de Z-richting	0,04 nm
Non-lineariteit	0,15% in de xY-richting en 1% in de Z-richting
Beeldbemonsteringspunt	De maximale resolutie van het scanprobebeeld is 4096x4096
Werkmodus	Contactmodus, tapmodus, fasebeeldmodus, liftmodus, multidirectionele scanmodus
Multifunctioneel Meten	Elektrostatische krachtmicroscoop (EFM), scanning Kelvin microscoop (KPFM), piëzo-elektrische krachtmicroscoop (PFM), magnetische krachtmicroscoop (MFM), krachtcurve