English
Français
Deutsch
Italiano
Русский
Español
Português
Nederlandse
Ελληνικά
日本語
한국
Polski
فارسی
ไทย
Tiếng Việt
العربية
हिन्दी
Türkçe
Bahasa Indonesia
মাল্টি ফাংশনাল অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ লো নয়েজ ম্যাটেরিয়ালস মাইক্রোস্কোপ উইথ এমএফএম ইএফএম পিএফএম মোড
Multi Functional Atomic Force Microscope With MFM EFM PFM Modes Product Description: One of the key features of the AFM is its low noise levels in both the Z direction and XY direction, ensuring accurate and reliable measurements. The noise level in the Z direction is an impressive 0.04 Nm, providing exceptional sensitivity for capturing subtle surface variations and interactions. In the XY direction, the noise level is maintained at 0.4 Nm, further enhancing the precision of
অল ইন ওয়ান অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ মাল্টি ফাংশনাল জৈবিক মাইক্রোস্কোপ নমনীয় সঠিক অপারেশন জন্য
All In One Atomic Force Microscope For Flexible Precise Operation Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a cutting-edge tool designed for nanoscale electrical measurement and analysis. This advanced instrument offers unparalleled capabilities in scanning and imaging at the nanoscale level, making it an essential device for researchers and scientists working in various fields. Key Product Attributes: Scanning Range: 100 μm X 100 μm x 10 μm Noise Level in the
উচ্চ নির্ভুলতা আরএফ প্রোব স্টেশন 50 এমটি ম্যানুয়াল ওয়েফার প্রোবার ম্যাগনেটোরেসিস্টেন্সের জন্য
Wafer Prober For High Precision Magnetoresistance And RF Testing Product Description: The Wafer-Level Manual In-Plane Magnetic Field Probe Station is a cutting-edge product designed for RH Testing, offering precise and efficient testing functions for various applications. This advanced probe station is equipped with PID Closed-loop Feedback Regulation for Magnetic Field Resolution, providing an impressive resolution of 0.05 MT for accurate measurements. One of the key
বহুমুখী চৌম্বকীয় প্রোব স্টেশন, ওয়েফার স্তরের ম্যানুয়াল প্রোব স্টেশন চৌম্বকীয় পরীক্ষার জন্য
Manual In Plane Probe Station For Wafer Level Magnetic Testing Product Description: The Wafer-Level Manual In-Plane Magnetic Field Probe Station is a cutting-edge tool designed for precise and efficient magnetoresistance testing in research and development settings. With a magnetic field strength of 50 MT, this probe station provides reliable and accurate measurements for a wide range of applications. Equipped with PID closed-loop feedback regulation, the magnetic field
0.05 এমটি স্পিনট্রনিক্স এবং সেমিকন্ডাক্টর পরীক্ষার জন্য চৌম্বকীয় প্রোব স্টেশন যথার্থ সেমিকন্ডাক্টর প্রোবার
Magnetic Probe Station For Spintronics And Semiconductor Testing Product Description: The 1D In-Plane Magnetic Field Probe Station is a cutting-edge device designed for precise and efficient characterization of spintronic devices. This advanced probe station offers a myriad of features and capabilities that make it an indispensable tool for researchers and engineers working in the field of spintronics. The probe station is equipped with 4 groups of DC probes, 1 group of RF
প্লেনে ওয়েফার লেভেল ম্যানুয়াল প্রোব স্টেশন চৌম্বকীয় ক্ষেত্র প্রোব স্টেশন
Wafer-Level Manual In-Plane Magnetic Field Probe Station Product Introduction The wafer-level manual in-plane magnetic field probe station PS1D-Manu8 is a high-precision device designed for wafer testing, suitable for electrical and magnetic measurements in laboratories and enterprises. It provides a highly uniform in-plane magnetic field to ensure stable testing environments and is compatible with multiple sample sizes to meet diverse testing needs. With manually adjustable
পেশাদার স্বয়ংক্রিয় পরীক্ষার সরঞ্জাম চুম্বকীয় চিপ উৎপাদন লাইনের জন্য বহুমুখী চূড়ান্ত পরীক্ষক
Automated Final Test System for Magnetic Chip Production Lines Product Description: The Magnetic Chip Final Test Machine is a cutting-edge product designed for precise and efficient testing of magnetic chips. With its advanced features and capabilities, this machine is the perfect solution for conducting thorough and accurate testing processes. One of the key features of this test machine is the Test Ambient Temperature Module. Equipped with a temperature monitoring module,
বন্ধ চক্র নিম্ন তাপমাত্রা প্রোব স্টেশন বহুমুখী ভ্যাকুয়াম প্রোব স্টেশন
Low Temperature Probe Station For Magnetic Transport Measurements Product Description: The Cryogenic In-Plane Magnetic Field Probe Station is a cutting-edge solution designed for precise measurements in low-temperature environments. This Cryogen Free system offers exceptional performance in sample analysis with its advanced features and capabilities. One of the key highlights of this product is its remarkable Vibration control, ensuring Sample Stage Vibration is less than 1
ট্রাস্ট সিল, ক্রেডিট চেক, রোএসএইচ এবং সরবরাহকারীর সক্ষমতা মূল্যায়ন। কোম্পানিতে কঠোর মান নিয়ন্ত্রণ ব্যবস্থা এবং পেশাদার পরীক্ষাগার রয়েছে।
অভ্যন্তরীণ পেশাদার ডিজাইন দল এবং উন্নত যন্ত্রপাতি কর্মশালা। আপনার প্রয়োজনীয় পণ্যগুলি তৈরি করতে আমরা সহযোগিতা করতে পারি।
উন্নত স্বয়ংক্রিয় মেশিন, কঠোরভাবে প্রক্রিয়া নিয়ন্ত্রণ সিস্টেম. আমরা আপনার চাহিদার বাইরে সব যন্ত্রপাতি ও সরঞ্জাম তৈরি করতে পারি।
বাল্ক এবং কাস্টমাইজড ছোট প্যাকেজিং, FOB, CIF, DDU এবং DDP। আপনার সকল উদ্বেগের জন্য আমরা আপনাকে সর্বোত্তম সমাধান খুঁজে পেতে সাহায্য করব।
খবর
সম্প্রতি, শি'য়ান জিয়াটং বিশ্ববিদ্যালয়ের উপাদান বিজ্ঞান ও প্রকৌশল বিভাগের স্পিনট্রনিক্স এবং কোয়ান্টাম সিস্টেম কেন্দ্রের গবেষণা দল,নামকরা...
খবর
সম্প্রতি, রিসার্চ ইনস্টিটিউট অব ক্লিন এনার্জি অ্যান্ড ফুয়েল কেমিস্ট্রি থেকে গবেষক দল,লিয়াওনিং বিজ্ঞান ও প্রযুক্তি বিশ্ববিদ্যালয়ের রাসায়নিক...
আমাদের লক্ষ্য হল আমাদের ক্লায়েন্টদের আরও লাভবান করতে সাহায্য করার জন্য "উচ্চ গুণমান" ও "ভালো পরিষেবা" এবং "দ্রুত ডেলিভারি" প্রদান করা।
