Sistema di misurazione dei wafer ad alto campo MOKE Wafer Scanner per la caratterizzazione della MRAM e del film magnetico

Descrizione del prodotto:

Una delle caratteristiche chiave delScanner per wafer MOKEè il suoMisurazione del circuito di isteresi non distruttivoQuesto permette agli utenti di analizzare le proprietà magnetiche dei loro campioni senza causare danni,garantire che l'integrità dei materiali rimanga intatta durante tutto il processo di prova.

Conestrazione automatica delle informazioni sul circuito di isteresi, compresi i parametri chiave quali la coercività dello strato libero e dello strato fissato (Hc), il campo di distorsione di scambio (Hex) e la magnetizzazione (M) con valore dell'angolo di Kerr, ilScanner per wafer MOKEsemplifica la raccolta e l'analisi dei dati, rendendo più facile per gli utenti trarre informazioni significative dalle loro misurazioni.

Inoltre, ilScanner per wafer MOKEofferteRapid mapping della distribuzione delle caratteristiche magnetiche dei wafer, che consente agli utenti di valutare in modo efficiente la variazione spaziale delle proprietà magnetiche su un campione.fornire informazioni preziose per ottimizzare i processi di produzione e garantire un controllo della qualità coerente.

Equipaggiati con:Regolazione del feedback a circuito chiuso del PIDLa tecnologia,Scanner per wafer MOKEfornisce eccezionalirisoluzione del campo magneticoQuesto elevato livello di precisione garantisce misure accurate e affidabili, consentendo agli utenti di condurre analisi approfondite con sicurezza.

Con un'impressionantetempo di attivitàdi 90%, ilScanner per wafer MOKEriduce al minimo i tempi di fermo e massimizza la produttività, rendendolo uno strumento affidabile per un uso continuo in ambienti di ricerca e produzione.

Gli utenti possono anche beneficiare dellaripetibilità del campionedellaScanner per wafer MOKE, che supera i 10 μm. Questo livello di coerenza e precisione garantisce la replicazione delle misurazioni con precisione,consentire ai ricercatori di convalidare con sicurezza le loro scoperte e trarre conclusioni significative dai loro esperimenti.

Quando si tratta dicapacità di campo magnetico, ilScanner per wafer MOKEoffre una gamma verticale di ±2,4 T e una gamma in piano di ±1,3 T. Questo ampio spettro di intensità del campo magnetico consente agli utenti di caratterizzare una vasta gamma di materiali e dispositivi,rendere lo strumento versatile e adattabile alle diverse esigenze di ricerca e produzione.

Caratteristiche:

• Nome del prodotto: strumento di misura del ciclo di isteresi a livello di wafer
• Efficienza di prova: 12 WPH@±1,3 T /9 siti di misurazione/200 mm Wafer
• Dimensione del campione: compatibile con 12 pollici e sotto, supporta il test dei frammenti
• Ripetibilità del campione: migliore di 10 μm
• Funzioni di prova:
  • Misurazione del ciclo di isteresi non distruttivo delle pile/dispositivi magnetici
  • Estrazione automatica delle informazioni sul circuito di isteresi (strato libero e strato fissato Hc, Hex, M (valore dell'angolo di Kerr)
  • Mappa rapida della distribuzione delle caratteristiche magnetiche dei wafer
• Uniformità del campo magnetico: migliore di ± 1%@Φ1 mm

Parametri tecnici:

Applicazioni:

La Wafer-MOKE di Truth Instruments è un prodotto all'avanguardia progettato per la metrologia spintronica, specificamente per la misurazione del ciclo di isteresi a livello di wafer.offre funzioni di prova precise e non distruttive per le pile e i dispositivi magnetici.

Il modello Wafer-MOKE è ideale per varie occasioni e scenari di applicazione del prodotto a causa delle sue eccezionali capacità.quando lo strumento consente l'estrazione automatica di informazioni sul circuito di isteresi, quali strato libero e strato pinato Hc, Esatto e M (valore dell'angolo di Kerr).

Con una ripetibilità del campione migliore di 10 μm, il Wafer-MOKE garantisce un'elevata precisione nelle misurazioni, rendendolo uno strumento affidabile per le industrie che richiedono una caratterizzazione magnetica precisa.La sua efficienza di prova di 12 wafer all'ora a ± 1.3 T, che copre 9 siti per misurazione su un wafer da 200 mm, migliora significativamente la produttività.

Inoltre, il tempo di attività dello strumento del 90% contribuisce a un processo di prova ininterrotto, garantendo un minimo di tempi di fermo e un aumento della produttività.Capacità di campo magnetico del Wafer-MOKE di ±2 verticale.4 T e in piano ±1.3 T offrono versatilità nella prova di vari materiali e strutture magnetiche.

Sia nei laboratori di ricerca, negli impianti di produzione o nei reparti di controllo della qualità, il Wafer-MOKE si rivela uno strumento indispensabile per le applicazioni di magnetometri a wafer.La sua rapida mappatura della distribuzione delle caratteristiche magnetiche dei wafer migliora ulteriormente la sua utilità in diversi scenari che richiedono un'analisi magnetica dettagliata.