Система измерения пластин в сильном поле MOKE сканер пластин для характеризации MRAM и магнитных пленок

Описание продукта:

Одной из ключевых особенностей MOKE Wafer Scanner является его неразрушающее измерение петель гистерезиса . Это позволяет пользователям анализировать магнитные свойства своих образцов, не причиняя им повреждений, гарантируя, что целостность материалов остается нетронутой на протяжении всего процесса тестирования.

С автоматическим извлечением информации о петле гистерезиса , включая такие ключевые параметры, как коэрцитивная сила (Hc) свободного и закрепленного слоев, поле обменного смещения (Hex) и намагниченность (M) со значением угла Керра, MOKE Wafer Scanner упрощает сбор и анализ данных, облегчая пользователям получение значимых выводов из своих измерений.

Кроме того, MOKE Wafer Scanner предлагает быстрое картирование распределения магнитных характеристик пластин , позволяя пользователям эффективно оценивать пространственные изменения магнитных свойств по образцу. Эта глобальная функция обнаружения обеспечивает всесторонний анализ всей поверхности пластины, предоставляя ценную информацию для оптимизации производственных процессов и обеспечения стабильного контроля качества.

Оснащенный технологией регулирования с обратной связью по замкнутому контуру PID , MOKE Wafer Scanner обеспечивает исключительное разрешение магнитного поля 0,01 MT. Этот высокий уровень точности обеспечивает точные и надежные измерения, позволяя пользователям проводить углубленный анализ с уверенностью.

С впечатляющим временем безотказной работы 90%, MOKE Wafer Scanner минимизирует простои и максимизирует производительность, что делает его надежным инструментом для непрерывного использования в исследовательских и производственных условиях.

Пользователи также могут извлечь выгоду из повторяемости образцов MOKE Wafer Scanner , которая превышает 10 μм. Этот уровень согласованности и точности гарантирует, что измерения могут быть воспроизведены с высокой точностью, позволяя исследователям уверенно подтверждать свои результаты и делать значимые выводы из своих экспериментов.

Когда дело доходит до возможностей магнитного поля , MOKE Wafer Scanner предлагает вертикальный диапазон ±2,4 Т и диапазон в плоскости ±1,3 Т. Этот широкий спектр напряженностей магнитного поля позволяет пользователям характеризовать широкий спектр материалов и устройств, делая прибор универсальным и адаптируемым к различным исследовательским и производственным требованиям.

Особенности:

• Название продукта: Инструмент для измерения петель гистерезиса на уровне пластин
• Эффективность тестирования: 12 WPH@±1,3 T / 9 измерений на участках / пластина 200 мм
• Размер образца: Совместим с 12-дюймовыми и меньшими, поддерживает фрагментарное тестирование
• Повторяемость образца: лучше, чем 10 μм
• Функции тестирования:
  • Неразрушающее измерение петель гистерезиса магнитных стеков/устройств
  • Автоматическое извлечение информации о петле гистерезиса (Hc свободного и закрепленного слоев, Hex, M (значение угла Керра))
  • Быстрое картирование распределения магнитных характеристик пластин
• Равномерность магнитного поля: лучше, чем ±1%@Φ1 мм

Технические параметры:

Применения:

Wafer-MOKE от Truth Instruments - это передовой продукт, разработанный для спинтронной метрологии, в частности, для измерения петель гистерезиса на уровне пластин. Этот усовершенствованный прибор, родом из Китая, предлагает точные и неразрушающие функции тестирования для магнитных стеков и устройств.

Модель Wafer-MOKE идеально подходит для различных случаев и сценариев применения продукта благодаря своим исключительным возможностям. Одним из основных вариантов использования является тестирование MRAM, где прибор обеспечивает автоматическое извлечение информации о петле гистерезиса, такой как Hc свободного и закрепленного слоев, Hex и M (значение угла Керра).

Благодаря повторяемости образца лучше, чем 10 μм, Wafer-MOKE обеспечивает высокую точность измерений, что делает его надежным инструментом для отраслей, требующих точной магнитной характеристики. Его эффективность тестирования 12 пластин в час при ±1,3 Т, охватывающая 9 участков на измерение на пластине 200 мм, значительно повышает производительность.

Кроме того, время безотказной работы прибора 90% способствует бесперебойным процессам тестирования, обеспечивая минимальное время простоя и повышение производительности. Возможности магнитного поля Wafer-MOKE в вертикальном направлении ±2,4 Т и в плоскости ±1,3 Т обеспечивают универсальность при тестировании различных магнитных материалов и структур.

Будь то в исследовательских лабораториях, производственных помещениях или отделах контроля качества, Wafer-MOKE оказывается незаменимым инструментом для применения в ваферных магнитометрах. Его быстрое картирование распределения магнитных характеристик пластин еще больше расширяет его полезность в различных сценариях, требующих детального магнитного анализа.