logo

Mikroskop siły atomowej

Jakość Mikroskop AFM o wysokiej stabilności 0,1 Hz - 30 Hz Systemy AFM do obrazowania materiałów, biologii i elektroniki fabryka

Mikroskop AFM o wysokiej stabilności 0,1 Hz - 30 Hz Systemy AFM do obrazowania materiałów, biologii i elektroniki

High Stability AFM For Materials Biology And Electronics Imaging Product Description: The Atomic Force Microscope is a cutting-edge scientific instrument that offers high-resolution imaging and precise measurements for a wide range of applications in nanotechnology, material science, and biological research. This advanced microscope utilizes XYZ Three-axis Full Sample Scanning method, allowing for detailed analysis of samples with exceptional accuracy. One of the key features

Mikroskop AFM o wysokiej stabilności 0,1 Hz - 30 Hz Systemy AFM do obrazowania materiałów, biologii i elektroniki

Jakość Wysokostabilny mikroskop AtomEdge Pro AFM: skanowanie 3D o rozdzielczości 4096×4096 + EFM/KPFM/PFM fabryka

Wysokostabilny mikroskop AtomEdge Pro AFM: skanowanie 3D o rozdzielczości 4096×4096 + EFM/KPFM/PFM

Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a cutting-edge instrument designed for high-precision surface analysis and nanoscale electrical measurement. Renowned for its versatility and advanced functionality, this AFM offers a comprehensive suite of features that make it an indispensable tool in both research and industrial applications. With a scanning rate adjustable between 0.1 and 30 Hz, users can tailor the imaging speed to suit a wide range of sample

Wysokostabilny mikroskop AtomEdge Pro AFM: skanowanie 3D o rozdzielczości 4096×4096 + EFM/KPFM/PFM

Jakość AtomEdge Pro: Wielofunkcyjny Mikroskop Sił Atomowych – Obrazowanie 3D dla Materiałów fabryka

AtomEdge Pro: Wielofunkcyjny Mikroskop Sił Atomowych – Obrazowanie 3D dla Materiałów

Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a cutting-edge instrument designed for high-precision surface analysis and characterization at the nanometer scale. This multifunctional measurement tool integrates several advanced microscopy techniques, including Electrostatic Force Microscopy (EFM), Scanning Kelvin Probe Microscopy (KPFM), Piezoelectric Force Microscopy (PFM), Magnetic Force Microscopy (MFM), and Force Curve measurements. These capabilities make it

AtomEdge Pro: Wielofunkcyjny Mikroskop Sił Atomowych – Obrazowanie 3D dla Materiałów

Zobacz więcej

Mikroskop Kerr

Jakość Mikroskop MOKE o wysokiej temperaturze 450Nm Mikroskop badawczy do badania procesu magnetyzacji silnego pola fabryka

Mikroskop MOKE o wysokiej temperaturze 450Nm Mikroskop badawczy do badania procesu magnetyzacji silnego pola

High Temperature MOKE for Strong Field Magnetization Process Study Product Description: The Permanent Magnet Kerr Microscope is an advanced tool designed for studying magnetic materials with precision and accuracy. This cutting-edge microscope utilizes Permanent Magnet Materials to generate in-plane magnetic fields, providing researchers with valuable insights into the magnetic properties of their samples. One of the key features of this microscope is its water-cooled magnet,

Mikroskop MOKE o wysokiej temperaturze 450Nm Mikroskop badawczy do badania procesu magnetyzacji silnego pola

Jakość System Pomiaru Płytki w Wysokim Polu MOKE Skaner Płytki dla MRAM i Charakterystyki Filmów Magnetycznych fabryka

System Pomiaru Płytki w Wysokim Polu MOKE Skaner Płytki dla MRAM i Charakterystyki Filmów Magnetycznych

High Field Wafer MOKE For MRAM And Magnetic Film Characterization Product Description: MOKE Wafer Scanner is a cutting-edge instrument designed for precise and efficient Wafer-Level Hysteresis Loop Measurement of magnetic stacks and devices. This advanced tool offers a range of testing functions that make it an indispensable asset for researchers and manufacturers in the field of thin film magnetic wafer inspection. One of the key features of the MOKE Wafer Scanner is its non

System Pomiaru Płytki w Wysokim Polu MOKE Skaner Płytki dla MRAM i Charakterystyki Filmów Magnetycznych

Jakość System MOKE na poziomie płytki 0,3 Mdeg dla szybkich pętli histerezy i kontroli procesu fabryka

System MOKE na poziomie płytki 0,3 Mdeg dla szybkich pętli histerezy i kontroli procesu

Wafer Level MOKE For Rapid Hysteresis Loops And Process Control Product Description: The Wafer-Level Hysteresis Loop Measurement Instrument is a cutting-edge tool designed for non-destructive hysteresis loop measurement of magnetic stacks/devices, automatic extraction of hysteresis loop information including free layer and pinned layer Hc, Hex, and M (Kerr angle value), as well as rapid mapping of wafer magnetic characteristic distribution. With an impressive uptime of 90%,

System MOKE na poziomie płytki 0,3 Mdeg dla szybkich pętli histerezy i kontroli procesu

Zobacz więcej

Kryogeniczna stacja sondy

Jakość Wysokiej precyzji Kryogenicznej Stacji Sonda Kryogeniczna Stacje Sonda Kryogeniczna Do Spintroniki Materiały 2D I Superprzewodniki fabryka

Wysokiej precyzji Kryogenicznej Stacji Sonda Kryogeniczna Stacje Sonda Kryogeniczna Do Spintroniki Materiały 2D I Superprzewodniki

Cryo Prober For Spintronics 2D Materials And Superconductors Product Description: The Cryogenic Vertical Superconducting Magnetic Field Probe Station is a cutting-edge product that offers advanced capabilities for precise measurements in various research and testing applications. This state-of-the-art system comes equipped with a standard configuration of 4 probe arms, with the flexibility to support up to 8 probe arms, allowing for versatile testing setups. One of the

Wysokiej precyzji Kryogenicznej Stacji Sonda Kryogeniczna Stacje Sonda Kryogeniczna Do Spintroniki Materiały 2D I Superprzewodniki

Jakość 4-ramienne automatyczna stacja pomiarowa z precyzyjnym magnesem nadprzewodzącym 3T fabryka

4-ramienne automatyczna stacja pomiarowa z precyzyjnym magnesem nadprzewodzącym 3T

Automated Cryogenic Probe Station With 3T Superconducting Magnet Product Description: The Cryogenic Vertical Superconducting Magnetic Field Probe Station is a cutting-edge instrument designed for precise measurements in a variety of research and testing applications. This advanced probe station offers exceptional temperature stability with a range from 10 K to 420 K, maintaining a remarkably low temperature variation of less than ±20 MK. Equipped with a vertical superconducti

4-ramienne automatyczna stacja pomiarowa z precyzyjnym magnesem nadprzewodzącym 3T

Jakość Uniwersalna stacja sondy kriogenicznej, nadprzewodząca, stacja sondy magnetycznej do badań w Hall i SOT fabryka

Uniwersalna stacja sondy kriogenicznej, nadprzewodząca, stacja sondy magnetycznej do badań w Hall i SOT

Superconducting Magnet Probe Station For Hall And SOT Testing Product Description: The Cryogenic Vertical Superconducting Magnetic Field Probe Station is a cutting-edge product designed for precise and efficient testing of semiconductor devices and spintronic devices. Equipped with standard 4 probe arms, this probe station can support up to 8 probe arms, providing flexibility and scalability for various testing needs. Featuring X-Y-Z probe arm stroke dimensions of 50 mm, 25

Uniwersalna stacja sondy kriogenicznej, nadprzewodząca, stacja sondy magnetycznej do badań w Hall i SOT

Zobacz więcej

Magnetyczna stacja sondy

Jakość 140 MT Stacje sondowania płytek krzemowych 2D do testowania spintroniki i na poziomie płytki fabryka

140 MT Stacje sondowania płytek krzemowych 2D do testowania spintroniki i na poziomie płytki

2D Magnetic Probe Station For Spintronics And Wafer Level Testing Product Description: The Vector Magnetic Probe Station is a cutting-edge tool designed for precise measurements of magnetic fields in Spintronic devices. It is equipped with advanced features to accurately analyze the magnetic properties of materials used in various applications. The Air Gap of the probe station is adjustable from 0-40 mm, allowing for flexibility in measuring magnetic fields at different

140 MT Stacje sondowania płytek krzemowych 2D do testowania spintroniki i na poziomie płytki

Jakość Stacja sondy wektorowo-magnetycznej Skalable Wafer Probe Station Do charakterystyki urządzeń 2D fabryka

Stacja sondy wektorowo-magnetycznej Skalable Wafer Probe Station Do charakterystyki urządzeń 2D

Vector Magnetic Probe Station For 2D Device Characterization Product Description: The 2D In Plane-Vertical Magnetic Probe Station is an advanced tool designed for precise measurements of magnetic fields, specifically focusing on the vertical component. With exceptional features and capabilities, this product is an indispensable asset for researchers and engineers working in various fields such as spintronics, magnetic materials, and more. One of the key highlights of this

Stacja sondy wektorowo-magnetycznej Skalable Wafer Probe Station Do charakterystyki urządzeń 2D

Jakość Programowalna stacja pomiarowa z sondami precyzyjnymi RF dla rozszerzalnych badań i rozwoju fabryka

Programowalna stacja pomiarowa z sondami precyzyjnymi RF dla rozszerzalnych badań i rozwoju

Programmable Probe Station For Expandable Research And Development Product Description: The 1D In-Plane Magnetic Field Probe Station is a cutting-edge tool designed for precise and efficient testing of DC and RF devices. This versatile probe station offers a wide range of features and capabilities to meet the demands of modern research and development applications. One of the key features of this magnetic probe station is its optical magnification range, which spans from 0

Programowalna stacja pomiarowa z sondami precyzyjnymi RF dla rozszerzalnych badań i rozwoju

Zobacz więcej