logo

Mikroskop siły atomowej

Jakość Mikroskop biologiczny siły atomowej Mikroskop sondy skanującej o wysokiej precyzji fabryka

Mikroskop biologiczny siły atomowej Mikroskop sondy skanującej o wysokiej precyzji

High Precision Scanning Probe Microscope 0.15 Nm Resolution Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a cutting-edge instrument that offers exceptional capabilities for nanometer resolution surface analysis. With a scanning range of 100 μm X 100 μm X 10 μm, this AFM product provides precise imaging and measurement of samples with dimensions up to 200 mm. One of the key features of this AFM is its versatility in probe types. Users can choose from a variety of

Mikroskop biologiczny siły atomowej Mikroskop sondy skanującej o wysokiej precyzji

Jakość Mikroskopy o wysokiej rozdzielczości 0,15 Nm, dostosowane mikroskopy atomowe fabryka

Mikroskopy o wysokiej rozdzielczości 0,15 Nm, dostosowane mikroskopy atomowe

Advanced Atomic Force Microscope For High-Resolution Imaging Product Description: The Atomic Force Microscope is a cutting-edge tool designed for high-resolution imaging and nanoscale analysis. With a scanning range of 100 μm X 100 μm X 10 μm, this AFM offers atomic resolution imaging capabilities that are essential for a wide range of research applications. Equipped with multiple imaging modes including Contact, Tapping, Non-Contact, Lateral Force, Force Modulation, and

Mikroskopy o wysokiej rozdzielczości 0,15 Nm, dostosowane mikroskopy atomowe

Jakość Mikroskop wysokiej siły skanowania 0,15 Nm Mikroskop wysokiej rozdzielczości dla fal fabryka

Mikroskop wysokiej siły skanowania 0,15 Nm Mikroskop wysokiej rozdzielczości dla fal

High Scanning Force Microscope For Wafe Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a cutting-edge instrument used for high-resolution imaging and surface analysis in various fields such as nanotechnology, materials science, and biology. With its advanced capabilities and precise measurements, the AFM is an essential tool for researchers and scientists seeking detailed insights into surface properties at the nanoscale level. One of the key features of the AFM is

Mikroskop wysokiej siły skanowania 0,15 Nm Mikroskop wysokiej rozdzielczości dla fal

Zobacz więcej

Mikroskop Kerr

Jakość 0.5 Mdeg Kerr Microscope Precision Cryogenic Microscope For 2D Ferromagnetic Material Analysis fabryka

0.5 Mdeg Kerr Microscope Precision Cryogenic Microscope For 2D Ferromagnetic Material Analysis

Cryogenic Kerr Microscope For 2D Ferromagnetic Material Analysis Product Description: The Cryogenic High-Magnetic-Field Laser Kerr Microimaging System is a cutting-edge scientific instrument designed for researchers and scientists working in the field of Low Temperature Magneto-Optics. This advanced system offers unparalleled capabilities for Micro-region Kerr measurement and Magnetization measurement, making it an essential tool for studying magnetic materials at the

0.5 Mdeg Kerr Microscope Precision Cryogenic Microscope For 2D Ferromagnetic Material Analysis

Jakość Kompaktowy miernik pętli histerezy do szybkiego testowania kontroli jakości (QC) cienkich warstw magnetycznych fabryka

Kompaktowy miernik pętli histerezy do szybkiego testowania kontroli jakości (QC) cienkich warstw magnetycznych

Compact Hysteresis Loop Tracer for Fast Magnetic Film QC Testing Product Description: The Miniature Hysteresis Loop Measurement Instrument is a cutting-edge product designed for precise and efficient remanence testing. As a compact and portable solution, this non-destructive magnetic tester offers exceptional performance in a miniature package. With a Kerr Angle Resolution of 1 Mdeg (RMS), this instrument provides highly accurate measurements for advanced research and

Kompaktowy miernik pętli histerezy do szybkiego testowania kontroli jakości (QC) cienkich warstw magnetycznych

Jakość Mikroskop laserowy Kerr'a w niskiej temperaturze i wysokim polu magnetycznym do obrazowania mikroobszarów fabryka

Mikroskop laserowy Kerr'a w niskiej temperaturze i wysokim polu magnetycznym do obrazowania mikroobszarów

Low Temp High Field Laser Kerr Microscope For Micro Region Imaging Product Description: The Cryogenic High-Magnetic-Field Laser Kerr Microimaging System is a cutting-edge research tool designed for low temperature magneto-optics studies, offering high-resolution imaging capabilities for precise analysis of magnetic materials. With an impressive optical resolution of 450 Nm, this system provides researchers with detailed images of samples at the nanoscale level, allowing for

Mikroskop laserowy Kerr'a w niskiej temperaturze i wysokim polu magnetycznym do obrazowania mikroobszarów

Zobacz więcej

Kryogeniczna stacja sondy

Jakość Automatyczna kriogeniczna stacja pomiarowa z sondami magnetycznymi fabryka

Automatyczna kriogeniczna stacja pomiarowa z sondami magnetycznymi

Cryogenic In-Plane Magnetic Field Probe Station Product Introduction The PS1DX-Cryo closed-loop cryogenic in-plane magnetic field probe station is designed for transport testing of magnetic materials and spintronic devices, making it the optimal choice for low-temperature magnetic transport measurements. The probe station provides comprehensive control and testing software for automated and systematic testing solutions. Users can monitor and control the temperature and

Automatyczna kriogeniczna stacja pomiarowa z sondami magnetycznymi

Jakość Kryogeniczna pionowa nadprzewodząca stacja sondy pola magnetycznego fabryka

Kryogeniczna pionowa nadprzewodząca stacja sondy pola magnetycznego

Cryogenic Vertical Superconducting Magnetic Field Probe Station Product Introduction The PS1DP-Cryo closed-loop cryogenic superconducting magnet probe station, based on a 4 K closed-loop cryogenic probe station, adds a ±3 T superconducting magnet, providing a low-temperature strong magnetic field environment for 2-inch samples. It can accommodate samples for electrical transport testing of 2D materials, spintronic devices, superconducting materials, and Hall effect testing of

Kryogeniczna pionowa nadprzewodząca stacja sondy pola magnetycznego

Jakość Wysoko zintegrowana stacja sondy kriogenicznej 4 K - 420 K stacja sondy niskotemperaturowej fabryka

Wysoko zintegrowana stacja sondy kriogenicznej 4 K - 420 K stacja sondy niskotemperaturowej

Cryogenic Probe Station Product Introduction The PS-Cryo closed-loop 4 K cryogenic probe station uses a GM refrigeration mechanism, requiring no consumable liquid helium, providing a low-temperature environment down to 4 K. It can accommodate 2-inch samples and meets standard I-V, C-V, microwave, and optoelectronic testing needs. Highly integrated and systematized, software operation allows one-click temperature control and electrical testing, making it the most cost

Wysoko zintegrowana stacja sondy kriogenicznej 4 K - 420 K stacja sondy niskotemperaturowej

Zobacz więcej

Magnetyczna stacja sondy

Jakość Stacja do sondowania manualnego na poziomie wafla z sondą do pomiaru pola magnetycznego w płaszczyźnie fabryka

Stacja do sondowania manualnego na poziomie wafla z sondą do pomiaru pola magnetycznego w płaszczyźnie

Wafer-Level Manual In-Plane Magnetic Field Probe Station Product Introduction The wafer-level manual in-plane magnetic field probe station PS1D-Manu8 is a high-precision device designed for wafer testing, suitable for electrical and magnetic measurements in laboratories and enterprises. It provides a highly uniform in-plane magnetic field to ensure stable testing environments and is compatible with multiple sample sizes to meet diverse testing needs. With manually adjustable

Stacja do sondowania manualnego na poziomie wafla z sondą do pomiaru pola magnetycznego w płaszczyźnie

Jakość 2D W płaszczyźnie Stacja sonda magnetyczna pionowa Wysokiej precyzji Stacja sonda optyczna fabryka

2D W płaszczyźnie Stacja sonda magnetyczna pionowa Wysokiej precyzji Stacja sonda optyczna

2D In Plane-Vertical Magnetic Probe Station Product Introduction The 2D magnetic field probe station PS2DY-MS is a high-precision device specifically developed for room-temperature variable magnetic field electrical testing environments. It supports both in-plane and vertical magnetic field directions, providing a uniform magnetic field environment. Combined with testing source meters and flexible probe configurations, it can perform non-destructive standard tests such as

2D W płaszczyźnie Stacja sonda magnetyczna pionowa Wysokiej precyzji Stacja sonda optyczna

Jakość 1D In Plane Semiconductor Probe Station Magnetic Field Probe Station fabryka

1D In Plane Semiconductor Probe Station Magnetic Field Probe Station

1D In-Plane Magnetic Field Probe Station Product Introduction The magnetic field probe station is primarily used for testing the electrical and magnetic properties of semiconductor materials, micro/nano devices, magnetic materials, and spintronic devices and related technologies. It can provide a magnetic field or variable temperature environment and perform high-precision DC/RF measurements. Our company designs and manufactures various magnetic field probe stations, which

1D In Plane Semiconductor Probe Station Magnetic Field Probe Station

Zobacz więcej