logo

Атомный силовый микроскоп

Качество Биологический микроскоп атомной силы высокоточный сканирующий зондовый микроскоп разрешение 0,15 Нм Фабрика

Биологический микроскоп атомной силы высокоточный сканирующий зондовый микроскоп разрешение 0,15 Нм

High Precision Scanning Probe Microscope 0.15 Nm Resolution Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a cutting-edge instrument that offers exceptional capabilities for nanometer resolution surface analysis. With a scanning range of 100 μm X 100 μm X 10 μm, this AFM product provides precise imaging and measurement of samples with dimensions up to 200 mm. One of the key features of this AFM is its versatility in probe types. Users can choose from a variety of

Биологический микроскоп атомной силы высокоточный сканирующий зондовый микроскоп разрешение 0,15 Нм

Качество 0.15 Нм высокоразрешительные микроскопы индивидуальные атомные микроскопы Фабрика

0.15 Нм высокоразрешительные микроскопы индивидуальные атомные микроскопы

Advanced Atomic Force Microscope For High-Resolution Imaging Product Description: The Atomic Force Microscope is a cutting-edge tool designed for high-resolution imaging and nanoscale analysis. With a scanning range of 100 μm X 100 μm X 10 μm, this AFM offers atomic resolution imaging capabilities that are essential for a wide range of research applications. Equipped with multiple imaging modes including Contact, Tapping, Non-Contact, Lateral Force, Force Modulation, and

0.15 Нм высокоразрешительные микроскопы индивидуальные атомные микроскопы

Качество Микроскоп высокой сканирующей силы 0,15 Нм Микроскоп высокого разрешения для волокна Фабрика

Микроскоп высокой сканирующей силы 0,15 Нм Микроскоп высокого разрешения для волокна

High Scanning Force Microscope For Wafe Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a cutting-edge instrument used for high-resolution imaging and surface analysis in various fields such as nanotechnology, materials science, and biology. With its advanced capabilities and precise measurements, the AFM is an essential tool for researchers and scientists seeking detailed insights into surface properties at the nanoscale level. One of the key features of the AFM is

Микроскоп высокой сканирующей силы 0,15 Нм Микроскоп высокого разрешения для волокна

Взгляд больше

Керр микроскоп

Качество 0.5 Mdeg Kerr Microscope Precision Cryogenic Microscope For 2D Ferromagnetic Material Analysis Фабрика

0.5 Mdeg Kerr Microscope Precision Cryogenic Microscope For 2D Ferromagnetic Material Analysis

Cryogenic Kerr Microscope For 2D Ferromagnetic Material Analysis Product Description: The Cryogenic High-Magnetic-Field Laser Kerr Microimaging System is a cutting-edge scientific instrument designed for researchers and scientists working in the field of Low Temperature Magneto-Optics. This advanced system offers unparalleled capabilities for Micro-region Kerr measurement and Magnetization measurement, making it an essential tool for studying magnetic materials at the

0.5 Mdeg Kerr Microscope Precision Cryogenic Microscope For 2D Ferromagnetic Material Analysis

Качество Компактный гистерический трассировщик для быстрого тестирования QC магнитной пленки Фабрика

Компактный гистерический трассировщик для быстрого тестирования QC магнитной пленки

Compact Hysteresis Loop Tracer for Fast Magnetic Film QC Testing Product Description: The Miniature Hysteresis Loop Measurement Instrument is a cutting-edge product designed for precise and efficient remanence testing. As a compact and portable solution, this non-destructive magnetic tester offers exceptional performance in a miniature package. With a Kerr Angle Resolution of 1 Mdeg (RMS), this instrument provides highly accurate measurements for advanced research and

Компактный гистерический трассировщик для быстрого тестирования QC магнитной пленки

Качество Лазерный микроскоп Керра с низкой температурой и высоким полем Фабрика

Лазерный микроскоп Керра с низкой температурой и высоким полем

Low Temp High Field Laser Kerr Microscope For Micro Region Imaging Product Description: The Cryogenic High-Magnetic-Field Laser Kerr Microimaging System is a cutting-edge research tool designed for low temperature magneto-optics studies, offering high-resolution imaging capabilities for precise analysis of magnetic materials. With an impressive optical resolution of 450 Nm, this system provides researchers with detailed images of samples at the nanoscale level, allowing for

Лазерный микроскоп Керра с низкой температурой и высоким полем

Взгляд больше

Криогенная зондовая станция

Качество Автоматизированная криогенная зондовая станция с магнитным полем Фабрика

Автоматизированная криогенная зондовая станция с магнитным полем

Cryogenic In-Plane Magnetic Field Probe Station Product Introduction The PS1DX-Cryo closed-loop cryogenic in-plane magnetic field probe station is designed for transport testing of magnetic materials and spintronic devices, making it the optimal choice for low-temperature magnetic transport measurements. The probe station provides comprehensive control and testing software for automated and systematic testing solutions. Users can monitor and control the temperature and

Автоматизированная криогенная зондовая станция с магнитным полем

Качество Криогенная вертикальная станция зондирования сверхпроводящего магнитного поля Фабрика

Криогенная вертикальная станция зондирования сверхпроводящего магнитного поля

Cryogenic Vertical Superconducting Magnetic Field Probe Station Product Introduction The PS1DP-Cryo closed-loop cryogenic superconducting magnet probe station, based on a 4 K closed-loop cryogenic probe station, adds a ±3 T superconducting magnet, providing a low-temperature strong magnetic field environment for 2-inch samples. It can accommodate samples for electrical transport testing of 2D materials, spintronic devices, superconducting materials, and Hall effect testing of

Криогенная вертикальная станция зондирования сверхпроводящего магнитного поля

Качество Высокоинтегрированная криогенная зондовая станция 4 K - 420 K Низкотемпературная зондовая станция Фабрика

Высокоинтегрированная криогенная зондовая станция 4 K - 420 K Низкотемпературная зондовая станция

Cryogenic Probe Station Product Introduction The PS-Cryo closed-loop 4 K cryogenic probe station uses a GM refrigeration mechanism, requiring no consumable liquid helium, providing a low-temperature environment down to 4 K. It can accommodate 2-inch samples and meets standard I-V, C-V, microwave, and optoelectronic testing needs. Highly integrated and systematized, software operation allows one-click temperature control and electrical testing, making it the most cost

Высокоинтегрированная криогенная зондовая станция 4 K - 420 K Низкотемпературная зондовая станция

Взгляд больше

Тестировщик MRAM

Качество MRAM и Spintronic CIP -тестер Tri Tempe Ate Automated Test Equipment для автоматического партийного тестирования Фабрика

MRAM и Spintronic CIP -тестер Tri Tempe Ate Automated Test Equipment для автоматического партийного тестирования

MRAM And Spintronic Chip Tester For Automated Batch Testing Product Description: The Magnetic Chip Final Test Machine is a state-of-the-art testing equipment designed to provide accurate and reliable testing for magnetic chips. With advanced features and precise specifications, this machine is an essential tool for ensuring the quality and performance of magnetic chips in various applications. Excitation System3: The True Zero Value Of The Magnetic Field Under Zero Magnetic

MRAM и Spintronic CIP -тестер Tri Tempe Ate Automated Test Equipment для автоматического партийного тестирования

Качество Автоматический тестер MRAM для магнитных чипов, машина для финального тестирования, высокая скорость Фабрика

Автоматический тестер MRAM для магнитных чипов, машина для финального тестирования, высокая скорость

Automatic Magnetic Chip Final Test Machine Product Introduction Magnetic chips, capable of providing high-speed, low-power non-volatile information storage, are considered key to solving future storage technology bottlenecks. Their excellent perfor-mance and reliability are crucial for the stable operation of electronic devices and data security. This product uses a three-temperature-zone anti-magnetic testing device to simulate magnetic field environments under different

Автоматический тестер MRAM для магнитных чипов, машина для финального тестирования, высокая скорость

Взгляд больше

Магнитная зондовая станция

Качество Ручная зондовая станция для пластин с магнитным полем в плоскости Фабрика

Ручная зондовая станция для пластин с магнитным полем в плоскости

Wafer-Level Manual In-Plane Magnetic Field Probe Station Product Introduction The wafer-level manual in-plane magnetic field probe station PS1D-Manu8 is a high-precision device designed for wafer testing, suitable for electrical and magnetic measurements in laboratories and enterprises. It provides a highly uniform in-plane magnetic field to ensure stable testing environments and is compatible with multiple sample sizes to meet diverse testing needs. With manually adjustable

Ручная зондовая станция для пластин с магнитным полем в плоскости

Качество 2D В плоскости Вертикальная магнитная зондирующая станция высокоточная оптическая зондирующая станция Фабрика

2D В плоскости Вертикальная магнитная зондирующая станция высокоточная оптическая зондирующая станция

2D In Plane-Vertical Magnetic Probe Station Product Introduction The 2D magnetic field probe station PS2DY-MS is a high-precision device specifically developed for room-temperature variable magnetic field electrical testing environments. It supports both in-plane and vertical magnetic field directions, providing a uniform magnetic field environment. Combined with testing source meters and flexible probe configurations, it can perform non-destructive standard tests such as

2D В плоскости Вертикальная магнитная зондирующая станция высокоточная оптическая зондирующая станция

Качество 1D В плоскости полупроводниковая зондирующая станция магнитное поле зондирующая станция Фабрика

1D В плоскости полупроводниковая зондирующая станция магнитное поле зондирующая станция

1D In-Plane Magnetic Field Probe Station Product Introduction The magnetic field probe station is primarily used for testing the electrical and magnetic properties of semiconductor materials, micro/nano devices, magnetic materials, and spintronic devices and related technologies. It can provide a magnetic field or variable temperature environment and perform high-precision DC/RF measurements. Our company designs and manufactures various magnetic field probe stations, which

1D В плоскости полупроводниковая зондирующая станция магнитное поле зондирующая станция

Взгляд больше