
Waферная MOKE-система 0.3 мdeg для быстрого снятия петель гистерезиса и контроля технологического процесса
Waферная MOKE-система
,MOKE-система 0.3 мdeg
,Waферная измерительная система 0.3 мdeg
Основные свойства
Торговая недвижимость
MOKE на уровне пластин для быстрых петель гистерезиса и контроля технологического процесса
Описание продукта:
Измерительный прибор для петель гистерезиса на уровне пластин — это передовой инструмент, предназначенный для неразрушающего измерения петель гистерезиса магнитных стеков/устройств, автоматического извлечения информации о петлях гистерезиса, включая Hc, Hex и M (значение угла Керра) свободного и закрепленного слоев, а также для быстрого картирования распределения магнитных характеристик пластин.
Благодаря впечатляющему времени безотказной работы в 90% этот прибор обеспечивает надежную и стабильную работу для ваших потребностей в тестировании. Его расширенные функции тестирования позволяют пользователям точно измерять и анализировать магнитные свойства различных материалов с легкостью и эффективностью.
Одной из ключевых особенностей этого прибора является эффективность тестирования, обеспечивающая высокую производительность 12 WPH при измерении ±1,3 Т /9 участков/200 мм пластины. Эта исключительная скорость тестирования позволяет быстро и точно собирать данные, что делает его идеальным для крупносерийного производства.
Для большей гибкости прибор также предлагает дополнительную интеграцию EFEM (Equipment Front End Module), что позволяет легко интегрироваться с существующими системами обработки пластин.
Измерительный прибор для петель гистерезиса на уровне пластин может похвастаться разрешением магнитного поля с регулировкой обратной связи по замкнутому контуру PID, обеспечивая точные и аккуратные измерения с разрешением 0,01 мТ. Этот уровень точности имеет решающее значение для углубленного анализа и характеристики магнитных материалов.
В целом, этот усовершенствованный прибор является универсальным решением для применений с вафельными магнитометрами, измерений MOKE (магнитооптический эффект Керра) в масштабе пластин и метрологии спинтроники. Его инновационные функции и высокие эксплуатационные характеристики делают его незаменимым инструментом для исследователей и производителей, работающих в области магнитных материалов и спинтроники.
Особенности:
- Название продукта: Измерительный прибор для петель гистерезиса на уровне пластин
- Разрешение по углу Керра: 0,3 мград (RMS)
- Повторяемость образца: лучше, чем 10 мкм
- Равномерность магнитного поля: лучше, чем ±1% при Φ1 мм
- Эффективность тестирования: 12 WPH при ±1,3 Т /9 участках измерения/200 мм пластины
- EFEM: опционально
Технические параметры:
Функции тестирования | Неразрушающее измерение петель гистерезиса магнитных стеков/устройств, автоматическое извлечение информации о петлях гистерезиса (Hc, Hex, M (значение угла Керра) свободного и закрепленного слоев) и быстрое картирование распределения магнитных характеристик пластин |
Время безотказной работы | 90% |
EFEM | Опционально |
Равномерность магнитного поля | Лучше, чем ±1% при Φ1 мм |
Разрешение по углу Керра | 0,3 мград (RMS) |
Размер образца | Совместим с 12-дюймовыми и меньшими, поддерживает фрагментарное тестирование |
Магнитное поле | Вертикальное ±2,4 Т; в плоскости ±1,3 Т |
Эффективность тестирования | 12 WPH при ±1,3 Т /9 участках измерения/200 мм пластины |
Повторяемость образца | Лучше, чем 10 мкм |
Разрешение магнитного поля | Регулировка обратной связи по замкнутому контуру PID, 0,01 мТ |
Применения:
Wafer-MOKE от Truth Instruments — это передовой инструмент магнитной метрологии, предназначенный для точных измерений петель гистерезиса на магнитных пластинах из тонкой пленки. Этот инновационный прибор, разработанный в Китае, предлагает непревзойденную точность и эффективность при характеристике магнитных свойств.
С помощью Wafer-MOKE исследователи и производители могут выполнять измерения петель гистерезиса на уровне пластин в различных случаях и сценариях применения. Дополнительная интеграция EFEM обеспечивает бесшовную автоматизацию и интеграцию в существующие процессы производства полупроводников, повышая производительность и уменьшая ручное вмешательство.
Одной из ключевых особенностей Wafer-MOKE являются его универсальные возможности магнитного поля. Прибор может генерировать вертикальные магнитные поля до ±2,4 Т и магнитные поля в плоскости до ±1,3 Т, удовлетворяя широкий спектр требований к тестированию магнитных материалов. Кроме того, равномерность магнитного поля лучше, чем ±1% при Φ1 мм, что обеспечивает надежные и последовательные результаты измерений по всей пластине.
Для глобального обнаружения и контроля качества в полупроводниковой промышленности Wafer-MOKE предлагает исключительное время безотказной работы в 90%, обеспечивая непрерывную работу и минимальное время простоя. Этот высокий процент времени безотказной работы имеет решающее значение для удовлетворения производственных потребностей и поддержания производительности в процессах контроля магнитных пластин.
Кроме того, Wafer-MOKE может похвастаться впечатляющей повторяемостью образцов, с результатами лучше, чем 10 мкм. Этот уровень точности необходим для исследований и разработок, где точные и воспроизводимые измерения имеют первостепенное значение.
В целом, Wafer-MOKE от Truth Instruments — это современное решение для контроля магнитных пластин из тонкой пленки, предлагающее непревзойденную производительность и надежность в приложениях магнитной метрологии.