logo

Атомный силовый микроскоп

Качество Атомно-силовой микроскоп 0,04 нм, 0,1 Гц - 30 Гц, АСМ для точного наноразмерного анализа поверхности Фабрика

Атомно-силовой микроскоп 0,04 нм, 0,1 Гц - 30 Гц, АСМ для точного наноразмерного анализа поверхности

Atomic Force Microscope For Precise Nanoscale Surface Analysis Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a cutting-edge instrument that offers multi-mode measurement capabilities for surface analysis at the atomic resolution level. This advanced microscope allows for detailed examination of samples with a size of up to 25 mm, providing researchers with invaluable insights into various materials and structures. One of the key features of the Atomic Force

Атомно-силовой микроскоп 0,04 нм, 0,1 Гц - 30 Гц, АСМ для точного наноразмерного анализа поверхности

Качество 0.1Гц - 30Гц Микроскоп атомной силы Наномасштабные сканирующие зондовые микроскопы Фабрика

0.1Гц - 30Гц Микроскоп атомной силы Наномасштабные сканирующие зондовые микроскопы

Advanced Scanning Probe Microscope for Nanoscale Measurements Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a cutting-edge tool that offers multi-mode measurement capabilities with nanometer resolution, making it an essential instrument for various research and industrial applications. With a remarkable resolution of 0.04 nm, the AFM provides high-precision imaging and measurement of surface topography at the nanoscale level. This exceptional resolution allows

0.1Гц - 30Гц Микроскоп атомной силы Наномасштабные сканирующие зондовые микроскопы

Качество Модуляция силы сканирование атомный микроскоп высокое разрешение научный микроскоп 0,04 Нм Фабрика

Модуляция силы сканирование атомный микроскоп высокое разрешение научный микроскоп 0,04 Нм

Force Modulation Scanning Atomic Force Microscope With High Resolution Product Description: The Atomic Force Microscope is a cutting-edge instrument designed for high-resolution imaging and analysis at the nanoscale level. With its advanced capabilities, this microscope offers unparalleled performance in nanotechnology research and development. One of the key features of the Atomic Force Microscope is its impressive scanning speed range, which allows for precise and efficient

Модуляция силы сканирование атомный микроскоп высокое разрешение научный микроскоп 0,04 Нм

Взгляд больше

Керр микроскоп

Качество Система измерения пластин в сильном поле MOKE сканер пластин для характеризации MRAM и магнитных пленок Фабрика

Система измерения пластин в сильном поле MOKE сканер пластин для характеризации MRAM и магнитных пленок

High Field Wafer MOKE For MRAM And Magnetic Film Characterization Product Description: MOKE Wafer Scanner is a cutting-edge instrument designed for precise and efficient Wafer-Level Hysteresis Loop Measurement of magnetic stacks and devices. This advanced tool offers a range of testing functions that make it an indispensable asset for researchers and manufacturers in the field of thin film magnetic wafer inspection. One of the key features of the MOKE Wafer Scanner is its non

Система измерения пластин в сильном поле MOKE сканер пластин для характеризации MRAM и магнитных пленок

Качество Waферная MOKE-система 0.3 мdeg для быстрого снятия петель гистерезиса и контроля технологического процесса Фабрика

Waферная MOKE-система 0.3 мdeg для быстрого снятия петель гистерезиса и контроля технологического процесса

Wafer Level MOKE For Rapid Hysteresis Loops And Process Control Product Description: The Wafer-Level Hysteresis Loop Measurement Instrument is a cutting-edge tool designed for non-destructive hysteresis loop measurement of magnetic stacks/devices, automatic extraction of hysteresis loop information including free layer and pinned layer Hc, Hex, and M (Kerr angle value), as well as rapid mapping of wafer magnetic characteristic distribution. With an impressive uptime of 90%,

Waферная MOKE-система 0.3 мdeg для быстрого снятия петель гистерезиса и контроля технологического процесса

Качество Низкотемпературный высокополевой микроскоп Керра лазерный микроскоп MOKE для микрорегиональной визуализации Фабрика

Низкотемпературный высокополевой микроскоп Керра лазерный микроскоп MOKE для микрорегиональной визуализации

Low Temp High Field Laser Kerr Microscope For Micro Region Imaging Product Description: The Hysteresis Loop Measurement Instrument for Scientific Research is a cutting-edge tool designed for precise magnetization measurements in scientific research applications. This advanced instrument offers a range of features that make it ideal for studying magnetic properties with high accuracy and reliability. One of the key attributes of this instrument is its capability to measure In

Низкотемпературный высокополевой микроскоп Керра лазерный микроскоп MOKE для микрорегиональной визуализации

Взгляд больше

Вибрирующий магнитометр образца

Качество Ключевые системы VSM высокоточный вибрирующий магнитометр для быстрых и надежных магнитных измерений Фабрика

Ключевые системы VSM высокоточный вибрирующий магнитометр для быстрых и надежных магнитных измерений

Turnkey VSM Systems For Fast And Reliable Magnetic Measurements Product Description: The Vibrating Sample Magnetometer (VSM) is a cutting-edge Magnetic Characterization System designed for precise and high-accuracy measurement of magnetic moments in various materials, including Multiferroics. With exceptional capabilities and advanced features, this VSM product offers unmatched performance in magnetic moment measurement, temperature control, sample holder rotation, and

Ключевые системы VSM высокоточный вибрирующий магнитометр для быстрых и надежных магнитных измерений

Качество Высокоточный вибрирующий магнетометр для проб с низким уровнем шума Система VSM для высоких опций поля Фабрика

Высокоточный вибрирующий магнетометр для проб с низким уровнем шума Система VSM для высоких опций поля

Vibrating Sample Magnetometer For Wide Temperature And High Field Options Product Description: The Vibrating Sample Magnetometer is an essential tool for the precise measurement of magnetic materials, offering reliable data for research and industrial applications. With its advanced features and high accuracy, this instrument provides key insights into the magnetic properties of various materials. One of the standout features of this Vibrating Sample Magnetometer is its

Высокоточный вибрирующий магнетометр для проб с низким уровнем шума Система VSM для высоких опций поля

Качество Высокоточный вибрирующий магнитометр высокой чувствительности Фабрика

Высокоточный вибрирующий магнитометр высокой чувствительности

High-Precision Vibrating Sample Magnetometer Product Introduction The TIM-70 high-precision vibrating sample magnetometer, independently developed by Zhizhen Precision, measures magnetization curves, hysteresis loops, demagnetization curves, heating curves, cooling curves, and other magnetic parameters such as saturation magnetization, remanent magnetization, coercive force, maximum energy product, Curie temperature, superconducting transition temperature, Néel temperature,

Высокоточный вибрирующий магнитометр высокой чувствительности

Взгляд больше

Криогенная зондовая станция

Качество Высокоточные криогенные зондовые станции Криогенные зондовые станции для спинтроники, двумерных материалов и сверхпроводников Фабрика

Высокоточные криогенные зондовые станции Криогенные зондовые станции для спинтроники, двумерных материалов и сверхпроводников

Cryo Prober For Spintronics 2D Materials And Superconductors Product Description: The Cryogenic Vertical Superconducting Magnetic Field Probe Station is a cutting-edge product that offers advanced capabilities for precise measurements in various research and testing applications. This state-of-the-art system comes equipped with a standard configuration of 4 probe arms, with the flexibility to support up to 8 probe arms, allowing for versatile testing setups. One of the

Высокоточные криогенные зондовые станции Криогенные зондовые станции для спинтроники, двумерных материалов и сверхпроводников

Качество Вертикальная криополевая зондирующая станция с низкой температурой без криогена Фабрика

Вертикальная криополевая зондирующая станция с низкой температурой без криогена

Vertical Field Cryo Probe Station For Low Temperature Testing Product Description: The Cryogenic Vertical Superconducting Magnetic Field Probe Station is a cutting-edge system designed for precise research and testing in the field of strong magnetic fields. This innovative product features a superconducting magnet that generates a powerful vertical magnetic field with a strength of up to ±3 T, making it ideal for a wide range of applications requiring high magnetic field

Вертикальная криополевая зондирующая станция с низкой температурой без криогена

Качество Точная криогенная зондирующая станция для автоматических магнитных измерений Фабрика

Точная криогенная зондирующая станция для автоматических магнитных измерений

Cryogen Free Probe Station For Automated Magnetic Measurements Product Description: The Cryogenic In-Plane Magnetic Field Probe Station is a cutting-edge tool designed for researchers and scientists working with Spintronic Devices. This advanced probe station offers precise control and measurement capabilities for studying the electrical transport properties of materials under High Magnetic Fields. Key Features: Vacuum: The probe station is equipped with a Low-temperature

Точная криогенная зондирующая станция для автоматических магнитных измерений

Взгляд больше

Тестировщик MRAM

Качество MRAM и Spintronic CIP -тестер Tri Tempe Ate Automated Test Equipment для автоматического партийного тестирования Фабрика

MRAM и Spintronic CIP -тестер Tri Tempe Ate Automated Test Equipment для автоматического партийного тестирования

MRAM And Spintronic Chip Tester For Automated Batch Testing Product Description: The Magnetic Chip Final Test Machine is a state-of-the-art testing equipment designed to provide accurate and reliable testing for magnetic chips. With advanced features and precise specifications, this machine is an essential tool for ensuring the quality and performance of magnetic chips in various applications. Excitation System3: The True Zero Value Of The Magnetic Field Under Zero Magnetic

MRAM и Spintronic CIP -тестер Tri Tempe Ate Automated Test Equipment для автоматического партийного тестирования

Качество Автоматический тестер MRAM для магнитных чипов, машина для финального тестирования, высокая скорость Фабрика

Автоматический тестер MRAM для магнитных чипов, машина для финального тестирования, высокая скорость

Automatic Magnetic Chip Final Test Machine Product Introduction Magnetic chips, capable of providing high-speed, low-power non-volatile information storage, are considered key to solving future storage technology bottlenecks. Their excellent perfor-mance and reliability are crucial for the stable operation of electronic devices and data security. This product uses a three-temperature-zone anti-magnetic testing device to simulate magnetic field environments under different

Автоматический тестер MRAM для магнитных чипов, машина для финального тестирования, высокая скорость

Взгляд больше

Магнитная зондовая станция

Качество Станция для измерения магнитных свойств в плоскости и вертикальной ориентации с магнитным зондом, 140 MT, для тестирования пластин на автоматическом пробнике Фабрика

Станция для измерения магнитных свойств в плоскости и вертикальной ориентации с магнитным зондом, 140 MT, для тестирования пластин на автоматическом пробнике

In Plane And Vertical Magnetic Probe Station For Advanced Testing Product Description: The 2D In Plane-Vertical Magnetic Probe Station is a versatile tool designed for precise measurements and analysis in various applications such as electrical flipping measurement and wafer testing. This product features an adjustable air gap ranging from 0 to 40 mm, allowing flexibility in experimental setups and accommodating different sample sizes. With a Vertical Magnetic Field Strength

Станция для измерения магнитных свойств в плоскости и вертикальной ориентации с магнитным зондом, 140 MT, для тестирования пластин на автоматическом пробнике

Качество 140 МТ станции для исследования вафры 2D-станция для спинтроники и испытания уровня вафры Фабрика

140 МТ станции для исследования вафры 2D-станция для спинтроники и испытания уровня вафры

2D Magnetic Probe Station For Spintronics And Wafer Level Testing Product Description: The Vector Magnetic Probe Station is a cutting-edge tool designed for precise measurements of magnetic fields in Spintronic devices. It is equipped with advanced features to accurately analyze the magnetic properties of materials used in various applications. The Air Gap of the probe station is adjustable from 0-40 mm, allowing for flexibility in measuring magnetic fields at different

140 МТ станции для исследования вафры 2D-станция для спинтроники и испытания уровня вафры

Качество Векторная магнитная зондирующая станция для характеристики 2D-устройств Фабрика

Векторная магнитная зондирующая станция для характеристики 2D-устройств

Vector Magnetic Probe Station For 2D Device Characterization Product Description: The 2D In Plane-Vertical Magnetic Probe Station is an advanced tool designed for precise measurements of magnetic fields, specifically focusing on the vertical component. With exceptional features and capabilities, this product is an indispensable asset for researchers and engineers working in various fields such as spintronics, magnetic materials, and more. One of the key highlights of this

Векторная магнитная зондирующая станция для характеристики 2D-устройств

Взгляд больше