Μικροσκόπιο ατομικής δύναμης

Μικροσκόπιο Ατομικής Δύναμης 0.04nm 0.1Hz - 30Hz AFM για Ακριβή Ανάλυση Επιφανειών σε Νανοκλίμακα
Atomic Force Microscope For Precise Nanoscale Surface Analysis Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a cutting-edge instrument that offers multi-mode measurement capabilities for surface analysis at the atomic resolution level. This advanced microscope allows for detailed examination of samples with a size of up to 25 mm, providing researchers with invaluable insights into various materials and structures. One of the key features of the Atomic Force
Μικροσκόπιο Ατομικής Δύναμης 0.04nm 0.1Hz - 30Hz AFM για Ακριβή Ανάλυση Επιφανειών σε Νανοκλίμακα

Μικροσκόπια Νανοκλίμακας Σάρωσης με Ανιχνευτή Ατομικής Δύναμης 0.1Hz - 30Hz
Advanced Scanning Probe Microscope for Nanoscale Measurements Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a cutting-edge tool that offers multi-mode measurement capabilities with nanometer resolution, making it an essential instrument for various research and industrial applications. With a remarkable resolution of 0.04 nm, the AFM provides high-precision imaging and measurement of surface topography at the nanoscale level. This exceptional resolution allows
Μικροσκόπια Νανοκλίμακας Σάρωσης με Ανιχνευτή Ατομικής Δύναμης 0.1Hz - 30Hz

Δυναμική διαμόρφωση σάρωσης Ατομικό μικροσκόπιο Επιστημονικό μικροσκόπιο υψηλής ανάλυσης 0,04 Nm
Force Modulation Scanning Atomic Force Microscope With High Resolution Product Description: The Atomic Force Microscope is a cutting-edge instrument designed for high-resolution imaging and analysis at the nanoscale level. With its advanced capabilities, this microscope offers unparalleled performance in nanotechnology research and development. One of the key features of the Atomic Force Microscope is its impressive scanning speed range, which allows for precise and efficient
Δυναμική διαμόρφωση σάρωσης Ατομικό μικροσκόπιο Επιστημονικό μικροσκόπιο υψηλής ανάλυσης 0,04 Nm
Μικροσκόπιο Kerr

Σύστημα μέτρησης δίσκων υψηλού πεδίου MOKE Wafer Scanner για χαρακτηρισμό MRAM και μαγνητικών φιλμ
High Field Wafer MOKE For MRAM And Magnetic Film Characterization Product Description: MOKE Wafer Scanner is a cutting-edge instrument designed for precise and efficient Wafer-Level Hysteresis Loop Measurement of magnetic stacks and devices. This advanced tool offers a range of testing functions that make it an indispensable asset for researchers and manufacturers in the field of thin film magnetic wafer inspection. One of the key features of the MOKE Wafer Scanner is its non
Σύστημα μέτρησης δίσκων υψηλού πεδίου MOKE Wafer Scanner για χαρακτηρισμό MRAM και μαγνητικών φιλμ

Σύστημα MOKE επιπέδου κυψελού 0,3 Mdeg για ταχεία κυκλώματα υστερέσης και έλεγχο διαδικασίας
Wafer Level MOKE For Rapid Hysteresis Loops And Process Control Product Description: The Wafer-Level Hysteresis Loop Measurement Instrument is a cutting-edge tool designed for non-destructive hysteresis loop measurement of magnetic stacks/devices, automatic extraction of hysteresis loop information including free layer and pinned layer Hc, Hex, and M (Kerr angle value), as well as rapid mapping of wafer magnetic characteristic distribution. With an impressive uptime of 90%,
Σύστημα MOKE επιπέδου κυψελού 0,3 Mdeg για ταχεία κυκλώματα υστερέσης και έλεγχο διαδικασίας

Μικροσκόπιο Kerr Laser MOKE Χαμηλής Θερμοκρασίας Υψηλού Πεδίου για Απεικόνιση Μικροπεριοχών
Low Temp High Field Laser Kerr Microscope For Micro Region Imaging Product Description: The Hysteresis Loop Measurement Instrument for Scientific Research is a cutting-edge tool designed for precise magnetization measurements in scientific research applications. This advanced instrument offers a range of features that make it ideal for studying magnetic properties with high accuracy and reliability. One of the key attributes of this instrument is its capability to measure In
Μικροσκόπιο Kerr Laser MOKE Χαμηλής Θερμοκρασίας Υψηλού Πεδίου για Απεικόνιση Μικροπεριοχών
Δονητικό μαγνητόμετρο δείγματος

Κλειδί σε χειρισμό συστήματα VSM υψηλής ακρίβειας δονητικό μαγνητόμετρο για γρήγορες και αξιόπιστες μαγνητικές μετρήσεις
Turnkey VSM Systems For Fast And Reliable Magnetic Measurements Product Description: The Vibrating Sample Magnetometer (VSM) is a cutting-edge Magnetic Characterization System designed for precise and high-accuracy measurement of magnetic moments in various materials, including Multiferroics. With exceptional capabilities and advanced features, this VSM product offers unmatched performance in magnetic moment measurement, temperature control, sample holder rotation, and
Κλειδί σε χειρισμό συστήματα VSM υψηλής ακρίβειας δονητικό μαγνητόμετρο για γρήγορες και αξιόπιστες μαγνητικές μετρήσεις

Σύστημα VSM χαμηλού θορύβου υψηλής ακρίβειας για επιλογές υψηλού πεδίου
Vibrating Sample Magnetometer For Wide Temperature And High Field Options Product Description: The Vibrating Sample Magnetometer is an essential tool for the precise measurement of magnetic materials, offering reliable data for research and industrial applications. With its advanced features and high accuracy, this instrument provides key insights into the magnetic properties of various materials. One of the standout features of this Vibrating Sample Magnetometer is its
Σύστημα VSM χαμηλού θορύβου υψηλής ακρίβειας για επιλογές υψηλού πεδίου

Υψηλής Ακρίβειας Μαγνητόμετρο Δόνησης Υψηλής Ευαισθησίας VSM Μαγνητόμετρο
High-Precision Vibrating Sample Magnetometer Product Introduction The TIM-70 high-precision vibrating sample magnetometer, independently developed by Zhizhen Precision, measures magnetization curves, hysteresis loops, demagnetization curves, heating curves, cooling curves, and other magnetic parameters such as saturation magnetization, remanent magnetization, coercive force, maximum energy product, Curie temperature, superconducting transition temperature, Néel temperature,
Υψηλής Ακρίβειας Μαγνητόμετρο Δόνησης Υψηλής Ευαισθησίας VSM Μαγνητόμετρο
Magneto Optical Cryostat

Ακριβές Μαγνητοοπτικό Κρυοστάτη Ενσωματωμένο Μαγνητικό Κρυοστάτη Για Ευέλικτες Κρυομετρήσεις
Integrated Magneto Optical Cryostat For Flexible Cryo Measurements Product Description: The Magneto Optical Cryostat is a cutting-edge device designed for advanced research in the field of magneto optical measurements. With its exceptional features and superior performance, this cryostat offers researchers a powerful tool to conduct experiments in high magnetic fields with precision and accuracy. One of the standout attributes of this cryostat is its optical windows
Ακριβές Μαγνητοοπτικό Κρυοστάτη Ενσωματωμένο Μαγνητικό Κρυοστάτη Για Ευέλικτες Κρυομετρήσεις

1.7 K - 350 K Μαγνητικός Οπτικός Κρυοστάτης Υπεραγωγός MO Κρυοστάτης
Superconducting Magnet Optical Cryostat-MO-Cryo Product Introduction The MO-Cryo superconducting Magnet optical cryostat integrates ultra-low temperatures, strong magnetic fields, and optical testing into a highly integrated and flexible cryogenic system. With 7 side optical windows, 1 top optical window, and 1 bottom window, it enables multi-directional and free optical measurements in a cryogenic strong magnetic-field environment. The internal large sample space accommodate
1.7 K - 350 K Μαγνητικός Οπτικός Κρυοστάτης Υπεραγωγός MO Κρυοστάτης
Κρυογονικός σταθμός ανίχνευσης

Σταθμοί Κρυογενούς Έρευνας Ανώτατης Ακρίβειας Σταθμοί Κρυογενούς Έρευνας για Σπιντρονικά 2D Υλικά και Υπεραγωγούς
Cryo Prober For Spintronics 2D Materials And Superconductors Product Description: The Cryogenic Vertical Superconducting Magnetic Field Probe Station is a cutting-edge product that offers advanced capabilities for precise measurements in various research and testing applications. This state-of-the-art system comes equipped with a standard configuration of 4 probe arms, with the flexibility to support up to 8 probe arms, allowing for versatile testing setups. One of the
Σταθμοί Κρυογενούς Έρευνας Ανώτατης Ακρίβειας Σταθμοί Κρυογενούς Έρευνας για Σπιντρονικά 2D Υλικά και Υπεραγωγούς

Σταθμός Κρυοσκοπίου κάθετου πεδίου Σταθμός Κρυοσκοπίου χαμηλής θερμοκρασίας χωρίς κρυογόνο
Vertical Field Cryo Probe Station For Low Temperature Testing Product Description: The Cryogenic Vertical Superconducting Magnetic Field Probe Station is a cutting-edge system designed for precise research and testing in the field of strong magnetic fields. This innovative product features a superconducting magnet that generates a powerful vertical magnetic field with a strength of up to ±3 T, making it ideal for a wide range of applications requiring high magnetic field
Σταθμός Κρυοσκοπίου κάθετου πεδίου Σταθμός Κρυοσκοπίου χαμηλής θερμοκρασίας χωρίς κρυογόνο

Σταθμός Δοκιμών Κρυογονικής Ακριβείας, Χωρίς Κρυογόνο, για Αυτόματες Μαγνητικές Μετρήσεις
Cryogen Free Probe Station For Automated Magnetic Measurements Product Description: The Cryogenic In-Plane Magnetic Field Probe Station is a cutting-edge tool designed for researchers and scientists working with Spintronic Devices. This advanced probe station offers precise control and measurement capabilities for studying the electrical transport properties of materials under High Magnetic Fields. Key Features: Vacuum: The probe station is equipped with a Low-temperature
Σταθμός Δοκιμών Κρυογονικής Ακριβείας, Χωρίς Κρυογόνο, για Αυτόματες Μαγνητικές Μετρήσεις
Δοκιμαστής MRAM

MRAM και Spintronic Chip Tester Tri Temp ATE Αυτοματοποιημένο εξοπλισμό δοκιμών για αυτοματοποιημένη δοκιμή παρτίδων
MRAM And Spintronic Chip Tester For Automated Batch Testing Product Description: The Magnetic Chip Final Test Machine is a state-of-the-art testing equipment designed to provide accurate and reliable testing for magnetic chips. With advanced features and precise specifications, this machine is an essential tool for ensuring the quality and performance of magnetic chips in various applications. Excitation System3: The True Zero Value Of The Magnetic Field Under Zero Magnetic
MRAM και Spintronic Chip Tester Tri Temp ATE Αυτοματοποιημένο εξοπλισμό δοκιμών για αυτοματοποιημένη δοκιμή παρτίδων

Αυτόματος δοκιμαστής MRAM Μαγνητικό τσιπ Τελική μηχανή δοκιμής υψηλής ταχύτητας
Automatic Magnetic Chip Final Test Machine Product Introduction Magnetic chips, capable of providing high-speed, low-power non-volatile information storage, are considered key to solving future storage technology bottlenecks. Their excellent perfor-mance and reliability are crucial for the stable operation of electronic devices and data security. This product uses a three-temperature-zone anti-magnetic testing device to simulate magnetic field environments under different
Αυτόματος δοκιμαστής MRAM Μαγνητικό τσιπ Τελική μηχανή δοκιμής υψηλής ταχύτητας
Σταθμός μαγνητικού ανιχνευτή

Σε επίπεδο και κατακόρυφο μαγνητικό σταθμό ανίχνευσης 140 MT Wafer Prober για προηγμένες δοκιμές
In Plane And Vertical Magnetic Probe Station For Advanced Testing Product Description: The 2D In Plane-Vertical Magnetic Probe Station is a versatile tool designed for precise measurements and analysis in various applications such as electrical flipping measurement and wafer testing. This product features an adjustable air gap ranging from 0 to 40 mm, allowing flexibility in experimental setups and accommodating different sample sizes. With a Vertical Magnetic Field Strength
Σε επίπεδο και κατακόρυφο μαγνητικό σταθμό ανίχνευσης 140 MT Wafer Prober για προηγμένες δοκιμές

140 MT Σταθμοί ανίχνευσης κυλίνδρων Σταθμός ανίχνευσης 2D για σπιντρονική και δοκιμή επιπέδου κυλίνδρων
2D Magnetic Probe Station For Spintronics And Wafer Level Testing Product Description: The Vector Magnetic Probe Station is a cutting-edge tool designed for precise measurements of magnetic fields in Spintronic devices. It is equipped with advanced features to accurately analyze the magnetic properties of materials used in various applications. The Air Gap of the probe station is adjustable from 0-40 mm, allowing for flexibility in measuring magnetic fields at different
140 MT Σταθμοί ανίχνευσης κυλίνδρων Σταθμός ανίχνευσης 2D για σπιντρονική και δοκιμή επιπέδου κυλίνδρων

Σταθμός Ανιχνευτή Μαγνητικού Διάνυσματος Κλιμακούμενο Σταθμός Ανίχνευσης Δίσκων για Χαρακτηρισμό Συσκευών 2D
Vector Magnetic Probe Station For 2D Device Characterization Product Description: The 2D In Plane-Vertical Magnetic Probe Station is an advanced tool designed for precise measurements of magnetic fields, specifically focusing on the vertical component. With exceptional features and capabilities, this product is an indispensable asset for researchers and engineers working in various fields such as spintronics, magnetic materials, and more. One of the key highlights of this