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Microscopio de fuerza atómica

Calidad Microscopio de fuerza atómica de alta resolución 0.04 Nm, microscopio industrial para análisis a nanoescala fábrica

Microscopio de fuerza atómica de alta resolución 0.04 Nm, microscopio industrial para análisis a nanoescala

High-Resolution Atomic Force Microscope For Nanoscale Analysis Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile tool for surface analysis, commonly used in various scientific and industrial applications. This cutting-edge device offers exceptional scanning capabilities and precise imaging for detailed analysis of samples. One of the key features of the AFM is its impressive Scanning Speed range, which allows for precise scanning at speeds ranging from 0

Microscopio de fuerza atómica de alta resolución 0.04 Nm, microscopio industrial para análisis a nanoescala

Calidad Microscopía de la fuerza atómica de la AFM multifunción Microscopio de la biología precisa fábrica

Microscopía de la fuerza atómica de la AFM multifunción Microscopio de la biología precisa

Multi-Functional Atomic Force Microscope Product Model: AtomEdge Pro Product Description: The AtomEdge Pro multi-functional atomic force microscope canperform three-dimensional scanning imaging on materials, electronic devices, biological samples, etc. lt features multiple working modes such as contact, tap, and non-contact, providing users with more flexible and precise operation options. In addition, it integrates multiple functional modes such as magnetic force microscopy,

Microscopía de la fuerza atómica de la AFM multifunción Microscopio de la biología precisa

Calidad Microscopios de fuerza atómica de nivel de oblea 0.1Hz - 30Hz Microscopio de sonda fábrica

Microscopios de fuerza atómica de nivel de oblea 0.1Hz - 30Hz Microscopio de sonda

Wafer-Level Atomic Force Microscope Product Model: AtomMax Product Overview: Using micro-cantilever probe structures, this instrument enables 3D morphology characterization of conductive, semiconductive, and insulating solid materials, achieving wafer-level large-sample morphology characterization. Combined with an optical image, the electrically driven sample positioning stage allows for 1 μm positioning accuracy within a 200 x 200 mm area. with fully automated operations

Microscopios de fuerza atómica de nivel de oblea 0.1Hz - 30Hz Microscopio de sonda

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Microscopio Kerr

Calidad Instrumento de medición de bucles de histéresis del sistema MOKE de alta sensibilidad para el estudio de magnetismo débil y materiales 2D fábrica

Instrumento de medición de bucles de histéresis del sistema MOKE de alta sensibilidad para el estudio de magnetismo débil y materiales 2D

High Sensitivity MOKE for Weak Magnetism and 2D Material Study Product Description: The Hysteresis Loop Measurement Instrument for Scientific Research is a cutting-edge tool specifically designed for the characterization of weak magnetic materials. This advanced system offers unparalleled Magnetic Field Resolution through PID Closed-loop Feedback Regulation, with an impressive resolution of 0.02 MT. This level of precision enables researchers to explore the intricate magnetic

Instrumento de medición de bucles de histéresis del sistema MOKE de alta sensibilidad para el estudio de magnetismo débil y materiales 2D

Calidad El microscopio criogénico MOKE Kerr Instrumento de medición de bucle de histeresis para análisis de materiales ferromagnéticos 2D fábrica

El microscopio criogénico MOKE Kerr Instrumento de medición de bucle de histeresis para análisis de materiales ferromagnéticos 2D

Cryogenic Kerr Microscope For 2D Ferromagnetic Material Analysis Product Description: The Hysteresis Loop Measurement Instrument for Scientific Research is a cutting-edge tool designed to provide high sensitivity and precise measurement capabilities for magnetic domain imaging and magnetization measurement in scientific research applications. Key features of this instrument include: Kerr Angle Resolution: Achieving a remarkable 0.3 Mdeg (RMS) Kerr angle resolution, ensuring

El microscopio criogénico MOKE Kerr Instrumento de medición de bucle de histeresis para análisis de materiales ferromagnéticos 2D

Calidad Sistema Cryo MOKE Instrumentos de Medición para Investigación Científica para Imagen de Magnetización fábrica

Sistema Cryo MOKE Instrumentos de Medición para Investigación Científica para Imagen de Magnetización

Cryo MOKE System For Magnetization Imaging Of Spintronic Materials Product Description: The Hysteresis Loop Measurement Instrument for Scientific Research is a cutting-edge tool designed for precise and convenient in-plane and vertical magnetic field measurements. This instrument is an essential component of any Cryogenic Magnetic Imaging System and 2D Material Characterization System, providing researchers with valuable data for their scientific experiments. With an in-plane

Sistema Cryo MOKE Instrumentos de Medición para Investigación Científica para Imagen de Magnetización

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Estación de sonda criogénica

Calidad Estación de sonda de baja temperatura de ciclo cerrado Estación de sonda de vacío versátil fábrica

Estación de sonda de baja temperatura de ciclo cerrado Estación de sonda de vacío versátil

Low Temperature Probe Station For Magnetic Transport Measurements Product Description: The Cryogenic In-Plane Magnetic Field Probe Station is a cutting-edge solution designed for precise measurements in low-temperature environments. This Cryogen Free system offers exceptional performance in sample analysis with its advanced features and capabilities. One of the key highlights of this product is its remarkable Vibration control, ensuring Sample Stage Vibration is less than 1

Estación de sonda de baja temperatura de ciclo cerrado Estación de sonda de vacío versátil

Calidad Estación de sonda criogénica de campo magnético 360 grados Estación de sonda fábrica

Estación de sonda criogénica de campo magnético 360 grados Estación de sonda

Cryo Probe Station For In Plane Magnetic Device Transport Testing Product Description: The Cryogenic In-Plane Magnetic Field Probe Station is a cutting-edge tool designed for advanced research in electrical transport property testing and spin pumping measurement. This versatile system offers precise control and measurement capabilities for studying a wide range of materials and devices. Key features of this probe station include: Sample Rotation Range: 360 Degrees - The

Estación de sonda criogénica de campo magnético 360 grados Estación de sonda

Calidad Estación de sonda de semiconductores de 360 grados, estación de sonda de vacío de baja temperatura para espintrónica fábrica

Estación de sonda de semiconductores de 360 grados, estación de sonda de vacío de baja temperatura para espintrónica

Cryogenic Prober For Spintronics And Semiconductor Device Testing Product Description: The Cryogenic In-Plane Magnetic Field Probe Station is a versatile and advanced Spintronics Testing Platform designed for precise and accurate spin pumping measurement at low temperatures. This cutting-edge probe station offers exceptional capabilities for researchers and engineers working on spin-related experiments. Key Features: Probe Arm Stroke: X+Z, 50 Mm-25 Mm-25 Mm Sample Temperature

Estación de sonda de semiconductores de 360 grados, estación de sonda de vacío de baja temperatura para espintrónica

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Estación de sonda magnética

Calidad Estación de sonda programable fábrica

Estación de sonda programable

Programmable Probe Station For Expandable Research And Development Product Description: The 1D In-Plane Magnetic Field Probe Station is a cutting-edge tool designed for precise and efficient testing of DC and RF devices. This versatile probe station offers a wide range of features and capabilities to meet the demands of modern research and development applications. One of the key features of this magnetic probe station is its optical magnification range, which spans from 0

Estación de sonda programable

Calidad Estación de sonda magnética en plano Estación de sonda de CC versátil para pruebas de dispositivos de precisión fábrica

Estación de sonda magnética en plano Estación de sonda de CC versátil para pruebas de dispositivos de precisión

In Plane Magnetic Probe Station For Precision Device Testing Product Description: The 1D In-Plane Magnetic Field Probe Station is a versatile and advanced tool designed for precise measurements of magnetic fields in a variety of research and industrial applications. Equipped with a range of source meters including the SR830, N5173B, Keithley 6221, and Keithley 2182A, this probe station offers unparalleled flexibility and compatibility with different experimental setups. One

Estación de sonda magnética en plano Estación de sonda de CC versátil para pruebas de dispositivos de precisión

Calidad 0.05 MT Estación de sonda magnética probadora de semiconductores de precisión para espintrónica y pruebas de semiconductores fábrica

0.05 MT Estación de sonda magnética probadora de semiconductores de precisión para espintrónica y pruebas de semiconductores

Magnetic Probe Station For Spintronics And Semiconductor Testing Product Description: The 1D In-Plane Magnetic Field Probe Station is a cutting-edge device designed for precise and efficient characterization of spintronic devices. This advanced probe station offers a myriad of features and capabilities that make it an indispensable tool for researchers and engineers working in the field of spintronics. The probe station is equipped with 4 groups of DC probes, 1 group of RF

0.05 MT Estación de sonda magnética probadora de semiconductores de precisión para espintrónica y pruebas de semiconductores

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