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Microscope à force atomique

Qualité Microscope à force atomique à haute résolution 0,04 Nm Microscope industriel pour l'analyse à l'échelle nanométrique usine

Microscope à force atomique à haute résolution 0,04 Nm Microscope industriel pour l'analyse à l'échelle nanométrique

High-Resolution Atomic Force Microscope For Nanoscale Analysis Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile tool for surface analysis, commonly used in various scientific and industrial applications. This cutting-edge device offers exceptional scanning capabilities and precise imaging for detailed analysis of samples. One of the key features of the AFM is its impressive Scanning Speed range, which allows for precise scanning at speeds ranging from 0

Microscope à force atomique à haute résolution 0,04 Nm Microscope industriel pour l'analyse à l'échelle nanométrique

Qualité Microscopie de la force atomique multi-fonctionnelle AFM Microscope de biologie précise usine

Microscopie de la force atomique multi-fonctionnelle AFM Microscope de biologie précise

Multi-Functional Atomic Force Microscope Product Model: AtomEdge Pro Product Description: The AtomEdge Pro multi-functional atomic force microscope canperform three-dimensional scanning imaging on materials, electronic devices, biological samples, etc. lt features multiple working modes such as contact, tap, and non-contact, providing users with more flexible and precise operation options. In addition, it integrates multiple functional modes such as magnetic force microscopy,

Microscopie de la force atomique multi-fonctionnelle AFM Microscope de biologie précise

Qualité Microscopes de force atomique de niveau de gaufre 0.1 Hz - 30 Hz Microscope de sonde usine

Microscopes de force atomique de niveau de gaufre 0.1 Hz - 30 Hz Microscope de sonde

Wafer-Level Atomic Force Microscope Product Model: AtomMax Product Overview: Using micro-cantilever probe structures, this instrument enables 3D morphology characterization of conductive, semiconductive, and insulating solid materials, achieving wafer-level large-sample morphology characterization. Combined with an optical image, the electrically driven sample positioning stage allows for 1 μm positioning accuracy within a 200 x 200 mm area. with fully automated operations

Microscopes de force atomique de niveau de gaufre 0.1 Hz - 30 Hz Microscope de sonde

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Microscope Kerr

Qualité Système MOKE haute sensibilité - Instrument de mesure de boucle d'hystérésis pour l'étude du magnétisme faible et des matériaux 2D usine

Système MOKE haute sensibilité - Instrument de mesure de boucle d'hystérésis pour l'étude du magnétisme faible et des matériaux 2D

High Sensitivity MOKE for Weak Magnetism and 2D Material Study Product Description: The Hysteresis Loop Measurement Instrument for Scientific Research is a cutting-edge tool specifically designed for the characterization of weak magnetic materials. This advanced system offers unparalleled Magnetic Field Resolution through PID Closed-loop Feedback Regulation, with an impressive resolution of 0.02 MT. This level of precision enables researchers to explore the intricate magnetic

Système MOKE haute sensibilité - Instrument de mesure de boucle d'hystérésis pour l'étude du magnétisme faible et des matériaux 2D

Qualité Microscope cryogénique MOKE Kerr Instrument de mesure de la boucle d'hystérésis pour l'analyse des matériaux ferromagnétiques 2D usine

Microscope cryogénique MOKE Kerr Instrument de mesure de la boucle d'hystérésis pour l'analyse des matériaux ferromagnétiques 2D

Cryogenic Kerr Microscope For 2D Ferromagnetic Material Analysis Product Description: The Hysteresis Loop Measurement Instrument for Scientific Research is a cutting-edge tool designed to provide high sensitivity and precise measurement capabilities for magnetic domain imaging and magnetization measurement in scientific research applications. Key features of this instrument include: Kerr Angle Resolution: Achieving a remarkable 0.3 Mdeg (RMS) Kerr angle resolution, ensuring

Microscope cryogénique MOKE Kerr Instrument de mesure de la boucle d'hystérésis pour l'analyse des matériaux ferromagnétiques 2D

Qualité Système Cryo MOKE Recherche scientifique Instruments de mesure pour l'imagerie par magnétisation usine

Système Cryo MOKE Recherche scientifique Instruments de mesure pour l'imagerie par magnétisation

Cryo MOKE System For Magnetization Imaging Of Spintronic Materials Product Description: The Hysteresis Loop Measurement Instrument for Scientific Research is a cutting-edge tool designed for precise and convenient in-plane and vertical magnetic field measurements. This instrument is an essential component of any Cryogenic Magnetic Imaging System and 2D Material Characterization System, providing researchers with valuable data for their scientific experiments. With an in-plane

Système Cryo MOKE Recherche scientifique Instruments de mesure pour l'imagerie par magnétisation

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Station de sonde cryogénique

Qualité Station de sondes à basse température à cycle fermé Station de sondes à vide polyvalente usine

Station de sondes à basse température à cycle fermé Station de sondes à vide polyvalente

Low Temperature Probe Station For Magnetic Transport Measurements Product Description: The Cryogenic In-Plane Magnetic Field Probe Station is a cutting-edge solution designed for precise measurements in low-temperature environments. This Cryogen Free system offers exceptional performance in sample analysis with its advanced features and capabilities. One of the key highlights of this product is its remarkable Vibration control, ensuring Sample Stage Vibration is less than 1

Station de sondes à basse température à cycle fermé Station de sondes à vide polyvalente

Qualité Station de sonde cryogénique au champ magnétique Station de sonde à 360 degrés usine

Station de sonde cryogénique au champ magnétique Station de sonde à 360 degrés

Cryo Probe Station For In Plane Magnetic Device Transport Testing Product Description: The Cryogenic In-Plane Magnetic Field Probe Station is a cutting-edge tool designed for advanced research in electrical transport property testing and spin pumping measurement. This versatile system offers precise control and measurement capabilities for studying a wide range of materials and devices. Key features of this probe station include: Sample Rotation Range: 360 Degrees - The

Station de sonde cryogénique au champ magnétique Station de sonde à 360 degrés

Qualité Station de sonde à semi-conducteurs à 360 degrés Station de sonde à vide à basse température pour la spintronique usine

Station de sonde à semi-conducteurs à 360 degrés Station de sonde à vide à basse température pour la spintronique

Cryogenic Prober For Spintronics And Semiconductor Device Testing Product Description: The Cryogenic In-Plane Magnetic Field Probe Station is a versatile and advanced Spintronics Testing Platform designed for precise and accurate spin pumping measurement at low temperatures. This cutting-edge probe station offers exceptional capabilities for researchers and engineers working on spin-related experiments. Key Features: Probe Arm Stroke: X+Z, 50 Mm-25 Mm-25 Mm Sample Temperature

Station de sonde à semi-conducteurs à 360 degrés Station de sonde à vide à basse température pour la spintronique

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Station de sonde magnétique

Qualité Station de sondes programmable usine

Station de sondes programmable

Programmable Probe Station For Expandable Research And Development Product Description: The 1D In-Plane Magnetic Field Probe Station is a cutting-edge tool designed for precise and efficient testing of DC and RF devices. This versatile probe station offers a wide range of features and capabilities to meet the demands of modern research and development applications. One of the key features of this magnetic probe station is its optical magnification range, which spans from 0

Station de sondes programmable

Qualité Station de sonde magnétique plane Station de sonde CC polyvalente pour les tests de précision des dispositifs usine

Station de sonde magnétique plane Station de sonde CC polyvalente pour les tests de précision des dispositifs

In Plane Magnetic Probe Station For Precision Device Testing Product Description: The 1D In-Plane Magnetic Field Probe Station is a versatile and advanced tool designed for precise measurements of magnetic fields in a variety of research and industrial applications. Equipped with a range of source meters including the SR830, N5173B, Keithley 6221, and Keithley 2182A, this probe station offers unparalleled flexibility and compatibility with different experimental setups. One

Station de sonde magnétique plane Station de sonde CC polyvalente pour les tests de précision des dispositifs

Qualité Station de sondage magnétique 0.05 MT, sondeur de semi-conducteurs précis pour la spintronique et les tests de semi-conducteurs usine

Station de sondage magnétique 0.05 MT, sondeur de semi-conducteurs précis pour la spintronique et les tests de semi-conducteurs

Magnetic Probe Station For Spintronics And Semiconductor Testing Product Description: The 1D In-Plane Magnetic Field Probe Station is a cutting-edge device designed for precise and efficient characterization of spintronic devices. This advanced probe station offers a myriad of features and capabilities that make it an indispensable tool for researchers and engineers working in the field of spintronics. The probe station is equipped with 4 groups of DC probes, 1 group of RF

Station de sondage magnétique 0.05 MT, sondeur de semi-conducteurs précis pour la spintronique et les tests de semi-conducteurs

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