English
Français
Deutsch
Italiano
Русский
Español
Português
Nederlandse
Ελληνικά
日本語
한국
Polski
فارسی
বাংলা
Tiếng Việt
العربية
हिन्दी
Türkçe
Indonesia
กล้องจุลทรรศน์แรงปรมาณู
กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม 0.1 Hz - 30 Hz ความแม่นยำสูง 0.04 Nm พร้อมโหมดหลากหลาย
Advanced AFM With Multiple Modes For Nanoscale Characterization Product Description: The Atomic Force Microscope is a cutting-edge instrument designed for high-precision surface analysis and nanoscale characterization. With a noise level in the Z direction of 0.04 Nm, this microscope offers exceptional sensitivity and accuracy in capturing surface details. One of the key features of this product is its generous sample size capacity of 25 mm, allowing for the examination of a
กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม 0.1 Hz - 30 Hz ความแม่นยำสูง 0.04 Nm พร้อมโหมดหลากหลาย
กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม 0.04 นาโนเมตร 0.1Hz - 30Hz สำหรับการวิเคราะห์พื้นผิวระดับนาโนที่แม่นยำ
Atomic Force Microscope For Precise Nanoscale Surface Analysis Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a cutting-edge instrument that offers multi-mode measurement capabilities for surface analysis at the atomic resolution level. This advanced microscope allows for detailed examination of samples with a size of up to 25 mm, providing researchers with invaluable insights into various materials and structures. One of the key features of the Atomic Force
กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม 0.04 นาโนเมตร 0.1Hz - 30Hz สำหรับการวิเคราะห์พื้นผิวระดับนาโนที่แม่นยำ
กล้องจุลทรรศน์อุตสาหกรรมปรับได้สำหรับวัดศักย์ไฟฟ้าด้วยเทคนิคอะตอมมิกฟอร์ซในระดับนาโนเมตร ความละเอียดสูง
Nanoscale Potential With Atomic Force Microscope For High-Resolution Imaging Product Description: One of the key features of the AFM is its impressive scanning range, measuring at 100 μm X 100 μm X 10 μm. This wide range allows for detailed imaging and analysis of a variety of samples, from small nanoparticles to larger structures. With a scan speed ranging from 0.1Hz to 30Hz, the AFM offers versatility in capturing dynamic processes and obtaining quick results. Researchers
กล้องจุลทรรศน์อุตสาหกรรมปรับได้สำหรับวัดศักย์ไฟฟ้าด้วยเทคนิคอะตอมมิกฟอร์ซในระดับนาโนเมตร ความละเอียดสูง
กล้องจุลทรรศน์เคอร์
กล้องจุลทรรศน์ Kerr สนามแม่เหล็กสูง ระบบ MOKE ความไวสูงสำหรับการศึกษาแม่เหล็กอ่อนและวัสดุ 2 มิติ
High Sensitivity MOKE For Weak Magnetism And 2D Material Study Product Description: With a variable temperature range spanning from 4.2 K to 420 K, researchers have the flexibility to study a wide range of materials under different thermal conditions. This broad temperature range is ideal for investigating the properties of weak magnetic materials at low temperatures, providing valuable insights into their behavior and magnetic responses. One of the key features of this
กล้องจุลทรรศน์ Kerr สนามแม่เหล็กสูง ระบบ MOKE ความไวสูงสำหรับการศึกษาแม่เหล็กอ่อนและวัสดุ 2 มิติ
MOKE Wafer Scanner EFEM ระบบการวัดกระดาษกระดาษกระดาษกระดาษกระดาษสําหรับ Hysteresis และ แผนที่ความเหมือนกันของแม่เหล็ก
MOKE Wafer Scanner For Hysteresis And Magnetic Uniformity Maps Product Description: Introducing the Wafer-Level Hysteresis Loop Measurement Instrument, a cutting-edge tool in Spintronics Metrology designed to meet the demanding requirements of advanced research and development in the field. This innovative product offers unparalleled capabilities for precise and efficient measurement of magnetic properties at the wafer level. One of the key features of this state-of-the-art
MOKE Wafer Scanner EFEM ระบบการวัดกระดาษกระดาษกระดาษกระดาษกระดาษสําหรับ Hysteresis และ แผนที่ความเหมือนกันของแม่เหล็ก
สปิน ทดสอบ มักเนโตออปติก เคอร์ไมโครสโกป มัลติฟันชันแนล วิจัยไมโครสโกป สําหรับการวิเคราะห์วัสดุ
Material Analysis With Multifunctional SpinTest MagnetoOptic Kerr Microscope Product Description: The Multifunctional Spin-Test Magneto-Optic Kerr Microscope is a cutting-edge instrument designed for researchers and professionals in the field of spintronic devices. This advanced microscope offers unparalleled capabilities for studying magnetic thin films with exceptional precision and detail. One of the key features of this microscope is its Magnetic Field Resolution, which
สปิน ทดสอบ มักเนโตออปติก เคอร์ไมโครสโกป มัลติฟันชันแนล วิจัยไมโครสโกป สําหรับการวิเคราะห์วัสดุ
Magneto Optical Cryostat
ไครโอสแตทแม่เหล็กออปติคอลความแม่นยำสูงพร้อมแม่เหล็กในตัวสำหรับการวัดแบบเย็น
Integrated Magneto Optical Cryostat For Flexible Cryo Measurements Product Description: The Magneto Optical Cryostat is a cutting-edge device designed for advanced research in the field of magneto optical measurements. With its exceptional features and superior performance, this cryostat offers researchers a powerful tool to conduct experiments in high magnetic fields with precision and accuracy. One of the standout attributes of this cryostat is its optical windows
ไครโอสแตทแม่เหล็กออปติคอลความแม่นยำสูงพร้อมแม่เหล็กในตัวสำหรับการวัดแบบเย็น
1.7 K - 350 K เครื่องทำความเย็นแบบแม่เหล็กและออปติคอล, เครื่องทำความเย็นแบบ MO ตัวนำยิ่งยวด
Superconducting Magnet Optical Cryostat-MO-Cryo Product Introduction The MO-Cryo superconducting Magnet optical cryostat integrates ultra-low temperatures, strong magnetic fields, and optical testing into a highly integrated and flexible cryogenic system. With 7 side optical windows, 1 top optical window, and 1 bottom window, it enables multi-directional and free optical measurements in a cryogenic strong magnetic-field environment. The internal large sample space accommodate
1.7 K - 350 K เครื่องทำความเย็นแบบแม่เหล็กและออปติคอล, เครื่องทำความเย็นแบบ MO ตัวนำยิ่งยวด
ออปติคัลไครโอสแตทสำหรับแม่เหล็กตัวนำยิ่งยวดพร้อมแม่เหล็กคอยล์แยกทรงกรวย, พื้นที่ตัวอย่างขนาดใหญ่, และเสถียรภาพอุณหภูมิต่ำพิเศษ
Superconducting Magnet Optical Cryostat-MO-Cryo Product Introduction The MO-Cryo superconducting Magnet optical cryostat integrates ultra-low temperatures, strong magnetic fields, and optical testing in a closed-cycle cryogenic system. With 7 side optical windows, 1 top optical window, and 1 bottom window, it enables multi-directional and free optical measurements in a cryogenic-strong magnetic field environment. Internal large sample space accommodates multi-axis cryogenic
ออปติคัลไครโอสแตทสำหรับแม่เหล็กตัวนำยิ่งยวดพร้อมแม่เหล็กคอยล์แยกทรงกรวย, พื้นที่ตัวอย่างขนาดใหญ่, และเสถียรภาพอุณหภูมิต่ำพิเศษ
สถานีโพรบแช่แข็ง
สถานีโพรบสนามแม่เหล็กยิ่งยวดแนวตั้งแบบไครโอเจนิค
Cryogenic Vertical Superconducting Magnetic Field Probe Station Product Introduction The PS1DP-Cryo closed-loop cryogenic superconducting magnet probe station, based on a 4 K closed-loop cryogenic probe station, adds a ±3 T superconducting magnet, providing a low-temperature strong magnetic field environment for 2-inch samples. It can accommodate samples for electrical transport testing of 2D materials, spintronic devices, superconducting materials, and Hall effect testing of
สถานีโพรบสนามแม่เหล็กยิ่งยวดแนวตั้งแบบไครโอเจนิค
สถานีสํารวจ Cryogenic ที่บูรณาการสูง 4 K - 420 K สถานีสํารวจอุณหภูมิต่ํา
Cryogenic Probe Station Product Introduction The PS-Cryo closed-loop 4 K cryogenic probe station uses a GM refrigeration mechanism, requiring no consumable liquid helium, providing a low-temperature environment down to 4 K. It can accommodate 2-inch samples and meets standard I-V, C-V, microwave, and optoelectronic testing needs. Highly integrated and systematized, software operation allows one-click temperature control and electrical testing, making it the most cost
สถานีสํารวจ Cryogenic ที่บูรณาการสูง 4 K - 420 K สถานีสํารวจอุณหภูมิต่ํา
สถานที่ตรวจสอบ Cryo Probe Field สูง สถานที่ตรวจสอบความร้อนต่ําที่ไม่มี Cryogen
Vertical Field Cryo Probe Station For Low Temperature Testing Product Description: The Cryogenic Vertical Superconducting Magnetic Field Probe Station is a cutting-edge system designed for precise research and testing in the field of strong magnetic fields. This innovative product features a superconducting magnet that generates a powerful vertical magnetic field with a strength of up to ±3 T, making it ideal for a wide range of applications requiring high magnetic field
สถานที่ตรวจสอบ Cryo Probe Field สูง สถานที่ตรวจสอบความร้อนต่ําที่ไม่มี Cryogen
เครื่องทดสอบ MRAM
Tri Temp แม็กเนตชิป Tester ความแม่นยํา Tester สุดท้ายสําหรับการตรวจสอบความน่าเชื่อถือสูง
Tri Temp Magnetic Chip Tester For High Reliability Verification Product Description: Introducing the cutting-edge Magnetic Chip Final Test Machine, the ultimate solution for ATE for Magnetic Chips. This innovative product is designed to meet the demanding requirements of testing magnetic chips with precision and accuracy. The Socket Test Seat of the Magnetic Chip Final Test Machine is engineered to withstand extreme temperatures ranging from -60°C to 170°C, ensuring reliable
Tri Temp แม็กเนตชิป Tester ความแม่นยํา Tester สุดท้ายสําหรับการตรวจสอบความน่าเชื่อถือสูง
ระบบทดสอบ MRAM ความแม่นยำสูง ระบบทดสอบขั้นสุดท้ายอัตโนมัติสำหรับสายการผลิตชิปแม่เหล็ก
Automated Final Test System For Magnetic Chip Production Lines Product Description: Excitation System1: One of the key features of this magnetic chip final test machine is the excitation system's capability to generate a maximum magnetic field intensity of ±2000 Oe along the X-axis. This high magnetic field intensity ensures thorough testing of magnetic chips for a wide range of applications. Excitation System3: Another remarkable attribute of this MRAM tester is the
ระบบทดสอบ MRAM ความแม่นยำสูง ระบบทดสอบขั้นสุดท้ายอัตโนมัติสำหรับสายการผลิตชิปแม่เหล็ก
สถานีโพรบแม่เหล็ก
สถานีโพรบแม่เหล็กอเนกประสงค์ สถานีโพรบแบบแมนนวลระดับเวเฟอร์สำหรับการทดสอบแม่เหล็ก
Manual In Plane Probe Station For Wafer Level Magnetic Testing Product Description: The Wafer-Level Manual In-Plane Magnetic Field Probe Station is a cutting-edge tool designed for precise and efficient magnetoresistance testing in research and development settings. With a magnetic field strength of 50 MT, this probe station provides reliable and accurate measurements for a wide range of applications. Equipped with PID closed-loop feedback regulation, the magnetic field
สถานีโพรบแม่เหล็กอเนกประสงค์ สถานีโพรบแบบแมนนวลระดับเวเฟอร์สำหรับการทดสอบแม่เหล็ก
สถานีโพรบ 2 มิติที่อัปเกรดได้ สถานีโพรบสนามแม่เหล็กสำหรับการวิจัยและการผลิตที่แม่นยำ
Upgradeable 2D Probe Station For Precision Research And Production Product Description: The 2D In Plane-Vertical Magnetic Probe Station is a cutting-edge product designed for precise measurements and analysis of magnetic fields in various applications. This advanced probe station allows for detailed examination of 2D vector fields, making it an ideal tool for researchers and professionals working in fields such as second harmonic testing and spintronics. Key Features: Air Gap
สถานีโพรบ 2 มิติที่อัปเกรดได้ สถานีโพรบสนามแม่เหล็กสำหรับการวิจัยและการผลิตที่แม่นยำ
ในเครื่องบินและสถานีตรวจสอบแม่เหล็กตั้ง 140 MT Wafer Prober สําหรับการทดสอบที่ระดับสูง
In Plane And Vertical Magnetic Probe Station For Advanced Testing Product Description: The 2D In Plane-Vertical Magnetic Probe Station is a versatile tool designed for precise measurements and analysis in various applications such as electrical flipping measurement and wafer testing. This product features an adjustable air gap ranging from 0 to 40 mm, allowing flexibility in experimental setups and accommodating different sample sizes. With a Vertical Magnetic Field Strength
