logo

Атомный силовый микроскоп

Качество 0.1 Гц - 30 Гц Атомно-силовой микроскоп 0.04 Нм Высокоточный микроскоп с несколькими режимами Фабрика

0.1 Гц - 30 Гц Атомно-силовой микроскоп 0.04 Нм Высокоточный микроскоп с несколькими режимами

Advanced AFM With Multiple Modes For Nanoscale Characterization Product Description: The Atomic Force Microscope is a cutting-edge instrument designed for high-precision surface analysis and nanoscale characterization. With a noise level in the Z direction of 0.04 Nm, this microscope offers exceptional sensitivity and accuracy in capturing surface details. One of the key features of this product is its generous sample size capacity of 25 mm, allowing for the examination of a

0.1 Гц - 30 Гц Атомно-силовой микроскоп 0.04 Нм Высокоточный микроскоп с несколькими режимами

Качество Атомно-силовой микроскоп 0,04 нм, 0,1 Гц - 30 Гц, АСМ для точного наноразмерного анализа поверхности Фабрика

Атомно-силовой микроскоп 0,04 нм, 0,1 Гц - 30 Гц, АСМ для точного наноразмерного анализа поверхности

Atomic Force Microscope For Precise Nanoscale Surface Analysis Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a cutting-edge instrument that offers multi-mode measurement capabilities for surface analysis at the atomic resolution level. This advanced microscope allows for detailed examination of samples with a size of up to 25 mm, providing researchers with invaluable insights into various materials and structures. One of the key features of the Atomic Force

Атомно-силовой микроскоп 0,04 нм, 0,1 Гц - 30 Гц, АСМ для точного наноразмерного анализа поверхности

Качество Наноразмерная потенциальная атомно-силовая микроскопия Регулируемые промышленные микроскопы Высокое разрешение Фабрика

Наноразмерная потенциальная атомно-силовая микроскопия Регулируемые промышленные микроскопы Высокое разрешение

Nanoscale Potential With Atomic Force Microscope For High-Resolution Imaging Product Description: One of the key features of the AFM is its impressive scanning range, measuring at 100 μm X 100 μm X 10 μm. This wide range allows for detailed imaging and analysis of a variety of samples, from small nanoparticles to larger structures. With a scan speed ranging from 0.1Hz to 30Hz, the AFM offers versatility in capturing dynamic processes and obtaining quick results. Researchers

Наноразмерная потенциальная атомно-силовая микроскопия Регулируемые промышленные микроскопы Высокое разрешение

Взгляд больше

Керр микроскоп

Качество Керровский микроскоп с высоким магнитным полем для исследования слабых магнитных материалов и 2D-материалов Фабрика

Керровский микроскоп с высоким магнитным полем для исследования слабых магнитных материалов и 2D-материалов

High Sensitivity MOKE For Weak Magnetism And 2D Material Study Product Description: With a variable temperature range spanning from 4.2 K to 420 K, researchers have the flexibility to study a wide range of materials under different thermal conditions. This broad temperature range is ideal for investigating the properties of weak magnetic materials at low temperatures, providing valuable insights into their behavior and magnetic responses. One of the key features of this

Керровский микроскоп с высоким магнитным полем для исследования слабых магнитных материалов и 2D-материалов

Качество MOKE сканер пластин EFEM Система измерения пластин для карт гистерезиса и магнитной однородности Фабрика

MOKE сканер пластин EFEM Система измерения пластин для карт гистерезиса и магнитной однородности

MOKE Wafer Scanner For Hysteresis And Magnetic Uniformity Maps Product Description: Introducing the Wafer-Level Hysteresis Loop Measurement Instrument, a cutting-edge tool in Spintronics Metrology designed to meet the demanding requirements of advanced research and development in the field. This innovative product offers unparalleled capabilities for precise and efficient measurement of magnetic properties at the wafer level. One of the key features of this state-of-the-art

MOKE сканер пластин EFEM Система измерения пластин для карт гистерезиса и магнитной однородности

Качество Магнитооптический микроскоп Керра многофункциональный исследовательский микроскоп для анализа материалов Фабрика

Магнитооптический микроскоп Керра многофункциональный исследовательский микроскоп для анализа материалов

Material Analysis With Multifunctional SpinTest MagnetoOptic Kerr Microscope Product Description: The Multifunctional Spin-Test Magneto-Optic Kerr Microscope is a cutting-edge instrument designed for researchers and professionals in the field of spintronic devices. This advanced microscope offers unparalleled capabilities for studying magnetic thin films with exceptional precision and detail. One of the key features of this microscope is its Magnetic Field Resolution, which

Магнитооптический микроскоп Керра многофункциональный исследовательский микроскоп для анализа материалов

Взгляд больше

Магнето оптический криостат

Качество Прецизионный магнитооптический криостат Фабрика

Прецизионный магнитооптический криостат

Integrated Magneto Optical Cryostat For Flexible Cryo Measurements Product Description: The Magneto Optical Cryostat is a cutting-edge device designed for advanced research in the field of magneto optical measurements. With its exceptional features and superior performance, this cryostat offers researchers a powerful tool to conduct experiments in high magnetic fields with precision and accuracy. One of the standout attributes of this cryostat is its optical windows

Прецизионный магнитооптический криостат

Качество 1.7 K - 350 K Магнитно-оптический криостат со сверхпроводящим МО криостатом Фабрика

1.7 K - 350 K Магнитно-оптический криостат со сверхпроводящим МО криостатом

Superconducting Magnet Optical Cryostat-MO-Cryo Product Introduction The MO-Cryo superconducting Magnet optical cryostat integrates ultra-low temperatures, strong magnetic fields, and optical testing into a highly integrated and flexible cryogenic system. With 7 side optical windows, 1 top optical window, and 1 bottom window, it enables multi-directional and free optical measurements in a cryogenic strong magnetic-field environment. The internal large sample space accommodate

1.7 K - 350 K Магнитно-оптический криостат со сверхпроводящим МО криостатом

Качество Оптический криостат со сверхпроводящим магнитом с коническим разрезным магнитом, большим пространством для образца и ультра-низкой температурной стабильностью Фабрика

Оптический криостат со сверхпроводящим магнитом с коническим разрезным магнитом, большим пространством для образца и ультра-низкой температурной стабильностью

Superconducting Magnet Optical Cryostat-MO-Cryo Product Introduction The MO-Cryo superconducting Magnet optical cryostat integrates ultra-low temperatures, strong magnetic fields, and optical testing in a closed-cycle cryogenic system. With 7 side optical windows, 1 top optical window, and 1 bottom window, it enables multi-directional and free optical measurements in a cryogenic-strong magnetic field environment. Internal large sample space accommodates multi-axis cryogenic

Оптический криостат со сверхпроводящим магнитом с коническим разрезным магнитом, большим пространством для образца и ультра-низкой температурной стабильностью

Взгляд больше

Криогенная зондовая станция

Качество Криогенная вертикальная станция зондирования сверхпроводящего магнитного поля Фабрика

Криогенная вертикальная станция зондирования сверхпроводящего магнитного поля

Cryogenic Vertical Superconducting Magnetic Field Probe Station Product Introduction The PS1DP-Cryo closed-loop cryogenic superconducting magnet probe station, based on a 4 K closed-loop cryogenic probe station, adds a ±3 T superconducting magnet, providing a low-temperature strong magnetic field environment for 2-inch samples. It can accommodate samples for electrical transport testing of 2D materials, spintronic devices, superconducting materials, and Hall effect testing of

Криогенная вертикальная станция зондирования сверхпроводящего магнитного поля

Качество Высокоинтегрированная криогенная зондовая станция 4 K - 420 K Низкотемпературная зондовая станция Фабрика

Высокоинтегрированная криогенная зондовая станция 4 K - 420 K Низкотемпературная зондовая станция

Cryogenic Probe Station Product Introduction The PS-Cryo closed-loop 4 K cryogenic probe station uses a GM refrigeration mechanism, requiring no consumable liquid helium, providing a low-temperature environment down to 4 K. It can accommodate 2-inch samples and meets standard I-V, C-V, microwave, and optoelectronic testing needs. Highly integrated and systematized, software operation allows one-click temperature control and electrical testing, making it the most cost

Высокоинтегрированная криогенная зондовая станция 4 K - 420 K Низкотемпературная зондовая станция

Качество Вертикальная криополевая зондирующая станция с низкой температурой без криогена Фабрика

Вертикальная криополевая зондирующая станция с низкой температурой без криогена

Vertical Field Cryo Probe Station For Low Temperature Testing Product Description: The Cryogenic Vertical Superconducting Magnetic Field Probe Station is a cutting-edge system designed for precise research and testing in the field of strong magnetic fields. This innovative product features a superconducting magnet that generates a powerful vertical magnetic field with a strength of up to ±3 T, making it ideal for a wide range of applications requiring high magnetic field

Вертикальная криополевая зондирующая станция с низкой температурой без криогена

Взгляд больше

Тестировщик MRAM

Качество Прецизионный финальный тестер магнитных чипов Tri Temp для верификации высокой надежности Фабрика

Прецизионный финальный тестер магнитных чипов Tri Temp для верификации высокой надежности

Tri Temp Magnetic Chip Tester For High Reliability Verification Product Description: Introducing the cutting-edge Magnetic Chip Final Test Machine, the ultimate solution for ATE for Magnetic Chips. This innovative product is designed to meet the demanding requirements of testing magnetic chips with precision and accuracy. The Socket Test Seat of the Magnetic Chip Final Test Machine is engineered to withstand extreme temperatures ranging from -60°C to 170°C, ensuring reliable

Прецизионный финальный тестер магнитных чипов Tri Temp для верификации высокой надежности

Качество Система автоматизированного окончательного испытания для производственных линий магнитных чипов Фабрика

Система автоматизированного окончательного испытания для производственных линий магнитных чипов

Automated Final Test System For Magnetic Chip Production Lines Product Description: Excitation System1: One of the key features of this magnetic chip final test machine is the excitation system's capability to generate a maximum magnetic field intensity of ±2000 Oe along the X-axis. This high magnetic field intensity ensures thorough testing of magnetic chips for a wide range of applications. Excitation System3: Another remarkable attribute of this MRAM tester is the

Система автоматизированного окончательного испытания для производственных линий магнитных чипов

Взгляд больше

Магнитная зондовая станция

Качество Многофункциональная магнитная станция зондирования Уровень вафры Ручные станции зондирования для магнитного тестирования Фабрика

Многофункциональная магнитная станция зондирования Уровень вафры Ручные станции зондирования для магнитного тестирования

Manual In Plane Probe Station For Wafer Level Magnetic Testing Product Description: The Wafer-Level Manual In-Plane Magnetic Field Probe Station is a cutting-edge tool designed for precise and efficient magnetoresistance testing in research and development settings. With a magnetic field strength of 50 MT, this probe station provides reliable and accurate measurements for a wide range of applications. Equipped with PID closed-loop feedback regulation, the magnetic field

Многофункциональная магнитная станция зондирования Уровень вафры Ручные станции зондирования для магнитного тестирования

Качество Модернизируемая 2D зондовая станция для измерения магнитного поля для прецизионных исследований и производства Фабрика

Модернизируемая 2D зондовая станция для измерения магнитного поля для прецизионных исследований и производства

Upgradeable 2D Probe Station For Precision Research And Production Product Description: The 2D In Plane-Vertical Magnetic Probe Station is a cutting-edge product designed for precise measurements and analysis of magnetic fields in various applications. This advanced probe station allows for detailed examination of 2D vector fields, making it an ideal tool for researchers and professionals working in fields such as second harmonic testing and spintronics. Key Features: Air Gap

Модернизируемая 2D зондовая станция для измерения магнитного поля для прецизионных исследований и производства

Качество Станция для измерения магнитных свойств в плоскости и вертикальной ориентации с магнитным зондом, 140 MT, для тестирования пластин на автоматическом пробнике Фабрика

Станция для измерения магнитных свойств в плоскости и вертикальной ориентации с магнитным зондом, 140 MT, для тестирования пластин на автоматическом пробнике

In Plane And Vertical Magnetic Probe Station For Advanced Testing Product Description: The 2D In Plane-Vertical Magnetic Probe Station is a versatile tool designed for precise measurements and analysis in various applications such as electrical flipping measurement and wafer testing. This product features an adjustable air gap ranging from 0 to 40 mm, allowing flexibility in experimental setups and accommodating different sample sizes. With a Vertical Magnetic Field Strength

Станция для измерения магнитных свойств в плоскости и вертикальной ориентации с магнитным зондом, 140 MT, для тестирования пластин на автоматическом пробнике

Взгляд больше