logo

Атомный силовый микроскоп

Качество Микроскоп атомной силы высокого разрешения 0,04 Нм Промышленный микроскоп для анализа на наномасштабе Фабрика

Микроскоп атомной силы высокого разрешения 0,04 Нм Промышленный микроскоп для анализа на наномасштабе

High-Resolution Atomic Force Microscope For Nanoscale Analysis Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile tool for surface analysis, commonly used in various scientific and industrial applications. This cutting-edge device offers exceptional scanning capabilities and precise imaging for detailed analysis of samples. One of the key features of the AFM is its impressive Scanning Speed range, which allows for precise scanning at speeds ranging from 0

Микроскоп атомной силы высокого разрешения 0,04 Нм Промышленный микроскоп для анализа на наномасштабе

Качество Многофункциональная АФМ Микроскопия атомных сил Микроскоп точной биологии Фабрика

Многофункциональная АФМ Микроскопия атомных сил Микроскоп точной биологии

Multi-Functional Atomic Force Microscope Product Model: AtomEdge Pro Product Description: The AtomEdge Pro multi-functional atomic force microscope canperform three-dimensional scanning imaging on materials, electronic devices, biological samples, etc. lt features multiple working modes such as contact, tap, and non-contact, providing users with more flexible and precise operation options. In addition, it integrates multiple functional modes such as magnetic force microscopy,

Многофункциональная АФМ Микроскопия атомных сил Микроскоп точной биологии

Качество Микроскопы атомной силы на уровне пластинки 0.1 Гц - 30 Гц Пробный микроскоп Фабрика

Микроскопы атомной силы на уровне пластинки 0.1 Гц - 30 Гц Пробный микроскоп

Wafer-Level Atomic Force Microscope Product Model: AtomMax Product Overview: Using micro-cantilever probe structures, this instrument enables 3D morphology characterization of conductive, semiconductive, and insulating solid materials, achieving wafer-level large-sample morphology characterization. Combined with an optical image, the electrically driven sample positioning stage allows for 1 μm positioning accuracy within a 200 x 200 mm area. with fully automated operations

Микроскопы атомной силы на уровне пластинки 0.1 Гц - 30 Гц Пробный микроскоп

Взгляд больше

Керр микроскоп

Качество Высокочувствительная система MOKE Хистеризовая петля Измерительный инструмент для слабого магнетизма и 2D-исследования материалов Фабрика

Высокочувствительная система MOKE Хистеризовая петля Измерительный инструмент для слабого магнетизма и 2D-исследования материалов

High Sensitivity MOKE for Weak Magnetism and 2D Material Study Product Description: The Hysteresis Loop Measurement Instrument for Scientific Research is a cutting-edge tool specifically designed for the characterization of weak magnetic materials. This advanced system offers unparalleled Magnetic Field Resolution through PID Closed-loop Feedback Regulation, with an impressive resolution of 0.02 MT. This level of precision enables researchers to explore the intricate magnetic

Высокочувствительная система MOKE Хистеризовая петля Измерительный инструмент для слабого магнетизма и 2D-исследования материалов

Качество Криогенный MOKE-микроскоп Керра для измерения петель гистерезиса и анализа двумерных ферромагнитных материалов Фабрика

Криогенный MOKE-микроскоп Керра для измерения петель гистерезиса и анализа двумерных ферромагнитных материалов

Cryogenic Kerr Microscope For 2D Ferromagnetic Material Analysis Product Description: The Hysteresis Loop Measurement Instrument for Scientific Research is a cutting-edge tool designed to provide high sensitivity and precise measurement capabilities for magnetic domain imaging and magnetization measurement in scientific research applications. Key features of this instrument include: Kerr Angle Resolution: Achieving a remarkable 0.3 Mdeg (RMS) Kerr angle resolution, ensuring

Криогенный MOKE-микроскоп Керра для измерения петель гистерезиса и анализа двумерных ферромагнитных материалов

Качество Система крио-MOKE для научных исследований: измерительные приборы для визуализации намагниченности Фабрика

Система крио-MOKE для научных исследований: измерительные приборы для визуализации намагниченности

Cryo MOKE System For Magnetization Imaging Of Spintronic Materials Product Description: The Hysteresis Loop Measurement Instrument for Scientific Research is a cutting-edge tool designed for precise and convenient in-plane and vertical magnetic field measurements. This instrument is an essential component of any Cryogenic Magnetic Imaging System and 2D Material Characterization System, providing researchers with valuable data for their scientific experiments. With an in-plane

Система крио-MOKE для научных исследований: измерительные приборы для визуализации намагниченности

Взгляд больше

Криогенная зондовая станция

Качество Криогенная зондовая станция замкнутого цикла для низких температур, универсальная вакуумная зондовая станция Фабрика

Криогенная зондовая станция замкнутого цикла для низких температур, универсальная вакуумная зондовая станция

Low Temperature Probe Station For Magnetic Transport Measurements Product Description: The Cryogenic In-Plane Magnetic Field Probe Station is a cutting-edge solution designed for precise measurements in low-temperature environments. This Cryogen Free system offers exceptional performance in sample analysis with its advanced features and capabilities. One of the key highlights of this product is its remarkable Vibration control, ensuring Sample Stage Vibration is less than 1

Криогенная зондовая станция замкнутого цикла для низких температур, универсальная вакуумная зондовая станция

Качество Криогенная зондовая станция с магнитным полем, обеспечивающая зондирование на 360 градусов Фабрика

Криогенная зондовая станция с магнитным полем, обеспечивающая зондирование на 360 градусов

Cryo Probe Station For In Plane Magnetic Device Transport Testing Product Description: The Cryogenic In-Plane Magnetic Field Probe Station is a cutting-edge tool designed for advanced research in electrical transport property testing and spin pumping measurement. This versatile system offers precise control and measurement capabilities for studying a wide range of materials and devices. Key features of this probe station include: Sample Rotation Range: 360 Degrees - The

Криогенная зондовая станция с магнитным полем, обеспечивающая зондирование на 360 градусов

Качество 360-градусная полупроводниковая зондирующая станция низкотемпературная вакуумная зондирующая станция для спинтроники Фабрика

360-градусная полупроводниковая зондирующая станция низкотемпературная вакуумная зондирующая станция для спинтроники

Cryogenic Prober For Spintronics And Semiconductor Device Testing Product Description: The Cryogenic In-Plane Magnetic Field Probe Station is a versatile and advanced Spintronics Testing Platform designed for precise and accurate spin pumping measurement at low temperatures. This cutting-edge probe station offers exceptional capabilities for researchers and engineers working on spin-related experiments. Key Features: Probe Arm Stroke: X+Z, 50 Mm-25 Mm-25 Mm Sample Temperature

360-градусная полупроводниковая зондирующая станция низкотемпературная вакуумная зондирующая станция для спинтроники

Взгляд больше

Тестировщик MRAM

Качество MRAM и Spintronic CIP -тестер Tri Tempe Ate Automated Test Equipment для автоматического партийного тестирования Фабрика

MRAM и Spintronic CIP -тестер Tri Tempe Ate Automated Test Equipment для автоматического партийного тестирования

MRAM And Spintronic Chip Tester For Automated Batch Testing Product Description: The Magnetic Chip Final Test Machine is a state-of-the-art testing equipment designed to provide accurate and reliable testing for magnetic chips. With advanced features and precise specifications, this machine is an essential tool for ensuring the quality and performance of magnetic chips in various applications. Excitation System3: The True Zero Value Of The Magnetic Field Under Zero Magnetic

MRAM и Spintronic CIP -тестер Tri Tempe Ate Automated Test Equipment для автоматического партийного тестирования

Качество Автоматический тестер MRAM для магнитных чипов, машина для финального тестирования, высокая скорость Фабрика

Автоматический тестер MRAM для магнитных чипов, машина для финального тестирования, высокая скорость

Automatic Magnetic Chip Final Test Machine Product Introduction Magnetic chips, capable of providing high-speed, low-power non-volatile information storage, are considered key to solving future storage technology bottlenecks. Their excellent perfor-mance and reliability are crucial for the stable operation of electronic devices and data security. This product uses a three-temperature-zone anti-magnetic testing device to simulate magnetic field environments under different

Автоматический тестер MRAM для магнитных чипов, машина для финального тестирования, высокая скорость

Взгляд больше

Магнитная зондовая станция

Качество Программируемая станция зондирования для расширяемых исследований и разработок Фабрика

Программируемая станция зондирования для расширяемых исследований и разработок

Programmable Probe Station For Expandable Research And Development Product Description: The 1D In-Plane Magnetic Field Probe Station is a cutting-edge tool designed for precise and efficient testing of DC and RF devices. This versatile probe station offers a wide range of features and capabilities to meet the demands of modern research and development applications. One of the key features of this magnetic probe station is its optical magnification range, which spans from 0

Программируемая станция зондирования для расширяемых исследований и разработок

Качество В самолете магнитная станция зондирования универсальная станция зондирования постоянного тока для проверки точных устройств Фабрика

В самолете магнитная станция зондирования универсальная станция зондирования постоянного тока для проверки точных устройств

In Plane Magnetic Probe Station For Precision Device Testing Product Description: The 1D In-Plane Magnetic Field Probe Station is a versatile and advanced tool designed for precise measurements of magnetic fields in a variety of research and industrial applications. Equipped with a range of source meters including the SR830, N5173B, Keithley 6221, and Keithley 2182A, this probe station offers unparalleled flexibility and compatibility with different experimental setups. One

В самолете магнитная станция зондирования универсальная станция зондирования постоянного тока для проверки точных устройств

Качество 0.05 Тл Магнитная зондовая станция для прецизионного зондирования полупроводников для спинтроники и тестирования полупроводников Фабрика

0.05 Тл Магнитная зондовая станция для прецизионного зондирования полупроводников для спинтроники и тестирования полупроводников

Magnetic Probe Station For Spintronics And Semiconductor Testing Product Description: The 1D In-Plane Magnetic Field Probe Station is a cutting-edge device designed for precise and efficient characterization of spintronic devices. This advanced probe station offers a myriad of features and capabilities that make it an indispensable tool for researchers and engineers working in the field of spintronics. The probe station is equipped with 4 groups of DC probes, 1 group of RF

0.05 Тл Магнитная зондовая станция для прецизионного зондирования полупроводников для спинтроники и тестирования полупроводников

Взгляд больше